[發明專利]輻射率控制裝置和輻射率控制方法

在審

• 申請號: 202010921739.1
• 申請日: 2018-01-09
• 公開（公告）號: CN112268619A
• 公開（公告）日: 2021-01-26
• 發明（設計）人: 王浩
• 申請（專利權）人: 杭州美盛紅外光電技術有限公司
• 主分類號: G01J5/00
• 分類號: G01J5/00
• 代理公司: 杭州天昊專利代理事務所(特殊普通合伙) 33283
• 代理人: 董世博

本發明的輻射率控制裝置和輻射率控制方法，涉及測量的應用領域；現有技術測量時所采用的輻射率，可根據各種材料對應的輻射率表，通過人工方式在熱像儀中設置來進行確定；但當被測體的溫度處于變化的狀態時，很多種材料的輻射率隨著溫度的變化而變化，這時確定該材料的輻射率，是一個難點。本發明的輻射率控制裝置，根據第一分析數據和輻射率的對應關系，來確定所述被測體的第二輻射率。解決現有技術存在的問題。

技術領域

本發明的輻射率控制裝置和輻射率控制方法，涉及熱像檢測的應用領域。

背景技術

當需要對被測體熱像分析時，使用者可設置針對被測體熱像特定部位的點、線、面等的分析區域來獲得分析結果。

以拍攝獲得的熱像數據的溫度分析為例，本領域技術人員所公知的，可進行規定處理如修正、插值，基于分析區域位于紅外熱像中的位置參數，例如提取所設置的分析區域所決定的熱像數據，進行溫度值的轉換處理，獲得這些熱像數據對應的溫度值，而后對得到的溫度值，按照分析模式進行分析計算。

對分析區域中的熱像數據進行轉換為溫度值的處理，例如根據設置的被測體的輻射系數、環境溫度、濕度、與熱像拍攝裝置的距離等，以及熱像數據的AD值與溫度之間的轉換系數，通過規定轉換公式，得到溫度值。

其中，環境溫度、濕度、與熱像拍攝裝置的距離等，均可通過事先預設、或根據相應傳感器來獲得其具體的參數，相對易于實現；

而測量時所采用的輻射率，可根據各種材料對應的輻射率表，通過人工方式在熱像儀中設置來進行確定；但當被測體的溫度處于變化的狀態時，特別是在500度以上的溫度時，很多種材料的輻射率隨著溫度的變化而變化，這時確定該材料的輻射率，是一個難點。

因此，所理解需要一種輻射率控制裝置，其能解決現有技術問題。

發明內容

針對現有技術存在的缺陷,本發明提供一種輻射率控制裝置和輻射率控制方法，其能解決現有技術問題。

為此，本發明采用以下技術方案，輻射率控制裝置，包括：

獲取部，用于獲取被測體的熱像數據；

分析部，用于根據所述熱像數據，基于第一輻射率，分析獲得被測體的第一分析數據；

輻射率確定部，用于根據第一分析數據和輻射率的對應關系，來確定所述被測體的第二輻射率。

輻射率控制方法，包括：

獲取步驟，用于獲取被測體的熱像數據；

分析步驟，用于根據所述熱像數據，基于第一輻射率，分析獲得被測體的第一分析數據；

輻射率確定步驟，用于根據第一分析數據和輻射率的對應關系，來確定所述被測體的第二輻射率。

本發明的其他方面和優點將通過下面的說明書進行闡述。

附圖說明：

圖1是實施例1的輻射率控制裝置13的電氣結構的框圖。

圖2是實施例1的輻射率控制裝置13的外型圖。

圖3是實施例1的存儲介質存儲的材料信息對應的溫度及輻射率等信息的示例。

圖4為實施例1的流程圖。

圖5為實施例1的另一種流程圖。

圖6為實施例2的流程圖。

圖7是實施例2的測試材料及分析區域S01\S02的示意圖。

圖8是實施例3的輻射率控制裝置100的電氣結構的框圖。

圖9是實施例3的輻射率控制裝置100的示意圖。