[發明專利]輻射率控制裝置和輻射率控制方法在審
| 申請號: | 202010921739.1 | 申請日: | 2018-01-09 |
| 公開(公告)號: | CN112268619A | 公開(公告)日: | 2021-01-26 |
| 發明(設計)人: | 王浩 | 申請(專利權)人: | 杭州美盛紅外光電技術有限公司 |
| 主分類號: | G01J5/00 | 分類號: | G01J5/00 |
| 代理公司: | 杭州天昊專利代理事務所(特殊普通合伙) 33283 | 代理人: | 董世博 |
| 地址: | 311113 浙江省*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 輻射 控制 裝置 方法 | ||
1.輻射率控制裝置,包括:
獲取部,用于獲取被測體的熱像數據;
分析部,用于根據所述熱像數據,基于配置的輻射率,分析獲得被測體的分析數據;
輻射率確定部,用于根據分析數據和輻射率的對應關系,來確定所述被測體獲得分析數據時的輻射率;所述輻射率和根據該輻射率分析獲得的分析數據滿足所述對應關系;
如不滿足所述對應關系,則根據分析數據和輻射率的對應關系,基于所述配置的輻射率獲得的分析數據,來重新配置輻射率,所述分析部基于重新配置的輻射率獲得相應的分析數據,所述輻射率確定部判斷重新配置的輻射率和根據該輻射率分析獲得的分析數據是否滿足對應關系;如此重復,直至分析數據和分析采用的輻射率滿足對應關系;
所述輻射率確定部,如配置的輻射率獲得的分析數據和所述輻射率滿足所述對應關系,則確定所述輻射率為所述被測體根據該輻射率分析獲得分析數據時的輻射率。
2.如權利要求1所述的輻射率控制裝置,其特征在于,
所述分析部,用于根據所述熱像數據,基于第二輻射率,分析獲得被測體的第二分析數據;
輻射率確定部,用于根據分析數據和輻射率的對應關系,基于所述第二分析數據,來確定所述被測體的第三輻射率。
3.如權利要求1所述的輻射率控制裝置,其特征在于,
所述分析部,包括測溫部,用于根據所述熱像數據,基于第一輻射率,分析獲得被測體的第一溫度數據;所述輻射率確定部,用于根據第一溫度數據和輻射率的對應關系,來確定所述被測體的第二輻射率。
4.如權利要求1所述的輻射率控制裝置,其特征在于,
選擇部,用于選擇被測體的材料信息;
所述輻射率確定部,用于根據所選擇的材料信息,根據該材料的第一溫度數據和輻射率的對應關系,來確定所述被測體的第二輻射率。
5.如權利要求1所述的輻射率控制裝置,其特征在于,具有分析區域設置部,用于設置分析區域;所述測溫部,用于分析獲得分析區域的第一溫度數據;輻射率確定部,用于根據第一溫度數據和輻射率的對應關系,來確定分析區域中的被測體的第二輻射率。
6.如權利要求1所述的輻射率控制裝置,其特征在于,具有分析區域設置部,用于設置分析區域;所述測溫部,用于分析獲得分析區域的第一溫度數據;輻射率確定部,用于根據第一溫度數據和輻射率的對應關系,來確定分析區域中的被測體的第二輻射率。
7.如權利要求1所述的輻射率控制裝置,其特征在于,所述測溫部,用于分析獲得熱像數據的各像素的第一溫度數據;輻射率確定部,用于根據第一溫度數據和輻射率的對應關系,來確定各像素所對應的第二輻射率。
8.如權利要求1所述的輻射率控制裝置,其特征在于,分析部,用于根據第二輻射率,來獲得被測體的第二分析數據;所述輻射率控制裝置,為便攜式熱像裝置,或在線式的熱像裝置,或連接有熱像裝置的處理裝置。
9.輻射率控制方法,包括:
獲取步驟,用于獲取被測體的熱像數據;
分析步驟,用于根據所述熱像數據,基于配置的輻射率,分析獲得被測體的分析數據;
輻射率確定步驟,用于根據分析數據和輻射率的對應關系,來確定所述被測體獲得分析數據時的輻射率;所述輻射率和根據該輻射率分析獲得的分析數據滿足所述對應關系;
如不滿足所述對應關系,則根據分析數據和輻射率的對應關系,基于所述配置的輻射率獲得的分析數據,來重新配置輻射率,所述分析部基于重新配置的輻射率獲得相應的分析數據,所述輻射率確定部判斷重新配置的輻射率和根據該輻射率分析獲得的分析數據是否滿足對應關系;如此重復,直至分析數據和分析采用的輻射率滿足對應關系;
所述輻射率確定步驟,如配置的輻射率獲得的分析數據和所述輻射率滿足所述對應關系,則確定所述輻射率為所述被測體根據該輻射率分析獲得分析數據時的輻射率。
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