[發明專利]一種用于芯片生產的干燥設備在審
| 申請號: | 202010915115.9 | 申請日: | 2020-09-03 |
| 公開(公告)號: | CN112233997A | 公開(公告)日: | 2021-01-15 |
| 發明(設計)人: | 王興杰 | 申請(專利權)人: | 王興杰 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 029200 內蒙古*** | 國省代碼: | 內蒙古;15 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 芯片 生產 干燥設備 | ||
本發明涉及一種用于芯片生產的干燥設備,包括主體、放置臺和加熱棒,還包括除水機構和輔助機構,除水機構包括圓環、除水板、兩個驅動組件和兩個限位桿,驅動組件包括電機、轉軸、第一軸承和齒輪,輔助機構包括固定盒、兩個充氣組件和若干吹氣管,充氣組件包括氣筒、密封板、進氣管、出氣管、傳動單元、偏心輪、固定塊、摩擦塊、第二軸承、動力軸和兩個彈簧,該用于芯片生產的干燥設備通過除水機構,使得除水板可以將晶片上方殘留的水珠刮落,通過加熱棒的烘干和除水板的除水兩者不同形式實現干燥的功能,從而可以縮短烘干時間,提高工作效率,通過輔助機構,使得晶片騰空,減小了晶片與凹口內壁接觸的面積,從而使得晶片可以被充分的烘干。
技術領域
本發明涉及芯片領域,特別涉及一種用于芯片生產的干燥設備。
背景技術
干燥設備又稱干燥器和干燥機。用于進行干燥操作的設備,通過加熱使物料中的濕分汽化逸出。
現有的干燥設備通常依靠加熱棒對晶片進行干燥工作,加熱方式單一,致使晶片烘干時間較長,降低了干燥的工作效率,不僅如此,現有的干燥設備在干燥晶片時,晶片通常抵靠在工作臺上,致使晶片有一面是與工作臺抵靠的,從而致使晶片與工作臺的抵靠處無法被充分的烘干,從而降低了烘干質量,降低了現有的干燥設備的可靠性。
發明內容
本發明要解決的技術問題是:為了克服現有技術的不足,提供一種用于芯片生產的干燥設備。
本發明解決其技術問題所采用的技術方案是:一種用于芯片生產的干燥設備,包括主體、放置臺和加熱棒,所述加熱棒固定在主體的上方,所述放置臺固定在主體的內部,所述放置臺的上方設有凹口,所述主體的內部設有PLC,還包括除水機構和輔助機構,所述除水機構設置在放置臺的上方,所述輔助機構設置在主體內的底部,所述除水機構與輔助機構連接;
所述除水機構包括圓環、除水板、兩個驅動組件和兩個限位桿,所述放置臺的外周設有環形槽,兩個限位桿關于圓環的軸線對稱設置,所述限位桿的一端設置在環形槽的內部,所述限位桿的一端與環形槽匹配,所述限位桿的一端與環形槽滑動連接,所述限位桿的另一端與圓環固定連接,所述圓環的外周周向均勻固定有凸齒,兩個驅動組件關于圓環的軸線對稱設置,所述驅動組件與凸齒連接,所述驅動組件設置在主體內的頂部,所述放置臺的下方均勻設有排水孔;
所述驅動組件包括電機、轉軸、第一軸承和齒輪,所述電機固定在主體內的頂部,所述第一軸承固定在主體內的底部,所述電機與轉軸的一端傳動連接,所述轉軸的另一端與第一軸承的內圈固定連接,所述齒輪固定在轉軸上,所述齒輪與凸齒嚙合,所述轉軸與輔助機構連接;
所述輔助機構包括固定盒、兩個充氣組件和若干吹氣管,所述固定盒固定在主體內的底部,所述吹氣管周向均勻固定在固定盒的上方,所述固定盒通過吹氣管與凹口的內部連通,兩個充氣組件分別設置在固定盒的兩側,所述充氣組件與轉軸一一對應,所述充氣組件與轉軸連接;
所述充氣組件包括氣筒、密封板、進氣管、出氣管、傳動單元、偏心輪、固定塊、摩擦塊、第二軸承、動力軸和兩個彈簧,所述氣筒固定在固定盒上,所述氣筒通過出氣管與固定盒的內部連通,所述氣筒的上方與進氣管連通,所述進氣管和出氣管內均設有單向閥,所述單向閥與PLC電連接,所述密封板設置在氣筒的內部,所述密封板與氣筒的內壁密封連接,所述氣筒的靠近轉軸的一側設有開口,所述偏心輪固定在轉軸上,所述偏心輪穿過開口與密封板抵靠,兩個彈簧分別設置在密封板的靠近開口的一側的兩端,所述彈簧的兩端分別與氣筒的靠近開口的一側的內壁和密封板連接,所述第二軸承固定在主體內的底部,所述氣筒的下方設有小孔,所述動力軸的一端與第二軸承的內圈固定連接,所述動力軸的另一端穿過小孔與摩擦塊固定連接,所述固定塊固定在氣筒的內壁上,所述固定塊與摩擦塊抵靠,所述轉軸通過傳動單元與動力軸連接。
作為優選,為了傳遞動力,所述傳動單元包括皮帶和兩個轉輪,兩個轉輪分別與轉軸和動力軸固定連接,兩個轉輪通過皮帶連接。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





