[發(fā)明專利]檢測拋光一體化智能設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010914282.1
• 申請日: 2020-09-03
• 公開（公告）號: CN112025519B
• 公開（公告）日: 2022-03-04
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 余濤;余斌;王慶;潘峰;賀常凱;蘇其友
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市漢通實業(yè)有限公司
• 主分類號: B24B29/00
• 分類號: B24B29/00;B24B49/04;B24B1/00;B07C5/34
• 代理公司: 北京清大紫荊知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11718
• 代理人: 彭一波

1.檢測拋光一體化智能設(shè)備，其特征在于，包括：

檢測系統(tǒng)和CNC拋光機，所述檢測系統(tǒng)由PC—BASED機器視覺系統(tǒng)組成，且檢測系統(tǒng)用于對待拋光工件的檢測，所述檢測系統(tǒng)包括：

測量頭，所述測量頭移動連接在測量架上；

相機和打光燈，所述相機和打光燈設(shè)置在測量頭上，且通過測量頭在測量架上移動；所述相機通過鏡頭和打光燈配合用于對送入所述CNC拋光機中的工件表面進(jìn)行拍攝，且相機的鏡頭可以調(diào)節(jié)角度，且相機內(nèi)部的圖像采集卡用于對工件表面缺陷的圖像采集，并對采集到的圖像進(jìn)行預(yù)處理，圖像預(yù)處理包括：對圖像的灰度化、濾波、增強、Hough檢測以及掩模操作；

位移傳感器，所述位移傳感器用于測量相機的位移量；

視覺處理軟件，所述視覺處理軟件用于對相機內(nèi)部的圖像采集卡采集的圖像進(jìn)行視覺處理，得到缺陷位置、面積及深度，且視覺處理軟件內(nèi)部設(shè)置有一個標(biāo)記裝置，用于對缺陷深度超過拋光去除量范圍的工件進(jìn)行標(biāo)記；

控制單元，所述控制單元用于控制相機、打光燈、位移傳感器以及視覺處理軟件運行；

PC平臺，所述PC平臺通過人工操作，使控制單元控制相機、打光燈、位移傳感器以及視覺處理軟件運行；以及

所述CNC拋光機用于與檢測系統(tǒng)配合，對工件進(jìn)行粗拋、中拋和精拋，所述CNC拋光機內(nèi)部設(shè)置有用于固定工件的檢測臺，且檢測臺上設(shè)置有測量架，且CNC拋光機內(nèi)部設(shè)置有轉(zhuǎn)運機械手結(jié)構(gòu)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測拋光一體化智能設(shè)備，其特征在于，所述相機設(shè)有兩個，且均為CCD相機。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測拋光一體化智能設(shè)備，其特征在于，所述測量架采用移動橋式實現(xiàn)測量頭在笛卡爾坐標(biāo)系下的轉(zhuǎn)動和移動。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測拋光一體化智能設(shè)備，其特征在于，所述位移傳感器為容柵傳感器。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測拋光一體化智能設(shè)備，其特征在于，所述打光燈的光源為紫外線光源，且紫外線光源的排布類型為無影環(huán)形光源。

6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一權(quán)利要求所述的檢測拋光一體化智能設(shè)備的檢測拋光方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1，轉(zhuǎn)運機械手結(jié)構(gòu)將待拋光工件送入檢測架上，利用檢測系統(tǒng)對工件進(jìn)行第一次缺陷檢測；

S21，工件如果缺陷深度超過拋光去除深度，轉(zhuǎn)運機械手結(jié)構(gòu)將工件移出CNC拋光機，進(jìn)行報廢處理；

S22，工件如果缺陷滿足要求，轉(zhuǎn)運機械手結(jié)構(gòu)將工件送入CNC拋光機進(jìn)行粗拋光；

S3，利用檢測系統(tǒng)對粗拋光后的工件進(jìn)行第二次缺陷檢測；

S4，檢測完畢后，轉(zhuǎn)運機械手結(jié)構(gòu)將工件送入CNC拋光機內(nèi)部，如果工件缺陷不滿足要求，則返回步驟S22，如果工件缺陷滿足要求，則進(jìn)入步驟S5；

S5，轉(zhuǎn)運機械手結(jié)構(gòu)將粗拋光后的工件送入CNC拋光機進(jìn)行中拋光；

S6，轉(zhuǎn)運機械手結(jié)構(gòu)將中拋光后的工件送回檢測架上，利用檢測系統(tǒng)對中拋光后的工件進(jìn)行第三次缺陷檢測；

S71，如果工件缺陷不滿足要求，返回步驟S5；

S72，如果工件缺陷滿足要求，轉(zhuǎn)運機械手結(jié)構(gòu)將中拋光后的工件送入CNC拋光機內(nèi)部進(jìn)行精拋光。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的檢測拋光方法，其特征在于，所述缺陷檢測包括以下步驟：

S701，人工通過PC平臺操作控制單元控制設(shè)備運行，在測量架上移動測量頭，測量頭帶動相機和打光燈移動至合適位置，對測量架上的工件進(jìn)行圖像的采集，并調(diào)節(jié)相機內(nèi)部鏡頭的角度以及打光燈的角度，位移傳感器對相機的位移量進(jìn)行檢測；

S702，步驟S701中采集的圖像信息輸送至圖像采集卡中進(jìn)行預(yù)處理；

S703，圖像采集卡和位移傳感器將信息傳遞至視覺處理軟件內(nèi)部，視覺處理軟件對缺陷進(jìn)行比對，并反饋至轉(zhuǎn)運機械手結(jié)構(gòu)，控制轉(zhuǎn)運機械手結(jié)構(gòu)運行。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測拋光方法，其特征在于，所述位移傳感器為容柵傳感器，容柵傳感器的信號輸送至芯片，經(jīng)過芯片的前置放大濾波，即直接被AD轉(zhuǎn)換采樣并轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號，接著數(shù)字內(nèi)插對數(shù)字信號進(jìn)行插值提高分辨率，得到的數(shù)字信號再被輸入到鑒相進(jìn)行鑒相的柵線計算，最終得到位移量結(jié)果。