[發明專利]一種航天設備用微斷測試裝置及系統

在審

• 申請號: 202010906220.6
• 申請日: 2020-09-01
• 公開（公告）號: CN112067983A
• 公開（公告）日: 2020-12-11
• 發明（設計）人: 徐新;陳波
• 申請（專利權）人: 愷信國際檢測認證有限公司;惠州仲愷高新區智能終端技術研究院;惠州市愷泰產業發展有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327;G01R31/00;G01M7/02;G01M13/00
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 練逸夫

本發明涉及航天設備測試領域，尤其涉及一種航天設備用微斷測試裝置及系統。包括上位機和測試模塊；所述上位機用于實現測試指令輸入以及測試數據監控；所述測試模塊包括；處理器，與上位機通訊連接；測試輸入模塊，測試端與待測試設備連接；輔助模塊，用于輔助處理器進行待測試設備的電壓采樣。本發明能有效檢測到待測試設備毫秒級的電壓波動情況，并最終顯示和存儲在上位機上，實現航天設備精確的長時間微斷測試；本裝置適用于航天產品的開關微斷測試，與專用微斷測試儀器相比，其成本低廉，且能通過上位機實現長時間測試存儲，測試過程中無需人工監控，可以完成航天設備的大規模測試，極大的降低了產品的測試成本，提高了企業的測試效益。

技術領域

本發明涉及航天設備測試領域，尤其涉及一種航天設備用微斷測試裝置及系統。

背景技術

在航空領域中，飛機的各個器材均需要滿足極高的質量要求，例如，在一些機載設備開關中，其開關的最高精度達到微米級別。因此，若開關精度不滿足要求，機上的振動均可能使得這些開關斷開而造成故障。

由于，機載設備開關意外斷開的時間極短，其通斷測試需要的精確度很高，通常需要達到毫秒級精度。本領域中，航空設備的微斷測試通常采用專業級別的微斷測試設備來進行通斷測試，這類微斷測試設備測量準確，但在測試過程中需要人工監控，無法長時間存儲，且測試設備十分昂貴，若用于工業測試，存在產品測試效率低下、測試成本高和企業效益低的問題。

發明內容

本發明為解決當前航空設備微斷測試時，產品測試效率低下、測試成本高和企業效益低的技術問題，提供一種航天設備用微斷測試裝置及系統。

為解決上述技術問題，本發明的技術方案如下：

一種航天設備用微斷測試裝置，包括上位機和測試模塊；所述上位機用于實現測試指令輸入以及測試數據監控；所述測試模塊包括；

處理器，與上位機通訊連接，用于實現待測試設備的實時電壓采樣并反饋至上位機；

測試輸入模塊，測試端與待測試設備連接，用于為待測試設備提供測試環境，并通過檢測端為處理器提供待測試設備的測試電壓；

輔助模塊，用于輔助處理器進行待測試設備的電壓采樣。

進一步的，所述處理器為STM32F103TCT6處理芯片。

進一步的，所述上位機通過USB轉接口與所述處理器通訊連接，所述測試模塊通過所述USB轉接口實現電源輸入。

進一步的，所述航天設備包括航天開關；所述測試輸入模塊包括直流測試電源和測試電阻，所述測試電阻與待測試開關相串接，所述直流測試電源兩端連接在所述測試電阻與待測試開關的串接電路兩端；所述測試輸入模塊的檢測端設置在所述測試電阻與待測試開關之間的節點上。

進一步的，所述測試裝置還包括顯示屏；所述輔助模塊包括顯示驅動電路；所述顯示屏通過顯示驅動電路與所述處理器電性連接，實現處理器測試信息的實時顯示。

進一步的，所述輔助模塊包括存儲器；測試時，所述處理器調用存儲器，實現待測試設備的電壓采樣程序調用和中間測試信息的存儲。

進一步的，所述輔助模塊包括電源轉換電路，用于測試模塊的輸入電源的電壓轉換，以及提供處理器電壓采樣過程中的基準電壓。

進一步的，所述輔助模塊包括時鐘電路，所述時鐘電路用于在測試過程中為處理器提供所需的基準頻率。

進一步的，所述測試裝置各部件集成設置在PCB電路板上。

本發明還提供一種航天設備用微斷測試系統，所述測試系統包括：

待測試設備；

用于對所述待測試設備進行振動測試的振動臺；以及