[發(fā)明專利]一種航天設(shè)備用微斷測試裝置及系統(tǒng)

在審

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• 申請日: 2020-09-01
• 公開（公告）號: CN112067983A
• 公開（公告）日: 2020-12-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 徐新;陳波
• 申請（專利權(quán)）人: 愷信國際檢測認(rèn)證有限公司;惠州仲愷高新區(qū)智能終端技術(shù)研究院;惠州市愷泰產(chǎn)業(yè)發(fā)展有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327;G01R31/00;G01M7/02;G01M13/00
• 代理公司: 廣州粵高專利商標(biāo)代理有限公司 44102
• 代理人: 練逸夫

1.一種航天設(shè)備用微斷測試裝置，其特征在于，包括上位機(jī)和測試模塊；所述上位機(jī)用于實(shí)現(xiàn)測試指令輸入以及測試數(shù)據(jù)監(jiān)控；所述測試模塊包括；

處理器，與上位機(jī)通訊連接，用于實(shí)現(xiàn)待測試設(shè)備的實(shí)時(shí)電壓采樣并反饋至上位機(jī)；

測試輸入模塊，測試端與待測試設(shè)備連接，用于為待測試設(shè)備提供測試環(huán)境，并通過檢測端為處理器提供待測試設(shè)備的測試電壓；

輔助模塊，用于輔助處理器進(jìn)行待測試設(shè)備的電壓采樣。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的航天設(shè)備用微斷測試裝置，其特征在于，所述處理器為STM32F103TCT6處理芯片。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的航天設(shè)備用微斷測試裝置，其特征在于，所述上位機(jī)通過USB轉(zhuǎn)接口與所述處理器通訊連接，所述測試模塊通過所述USB轉(zhuǎn)接口實(shí)現(xiàn)電源輸入。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的航天設(shè)備用微斷測試裝置，其特征在于，所述航天設(shè)備包括航天開關(guān)；所述測試輸入模塊包括直流測試電源和測試電阻，所述測試電阻與待測試開關(guān)相串接，所述直流測試電源兩端連接在所述測試電阻與待測試開關(guān)的串接電路兩端；所述測試輸入模塊的檢測端設(shè)置在所述測試電阻與待測試開關(guān)之間的節(jié)點(diǎn)上。

5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的航天設(shè)備用微斷測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括顯示屏；所述輔助模塊包括顯示驅(qū)動(dòng)電路；所述顯示屏通過顯示驅(qū)動(dòng)電路與所述處理器電性連接，實(shí)現(xiàn)處理器測試信息的實(shí)時(shí)顯示。

6.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的航天設(shè)備用微斷測試裝置，其特征在于，所述輔助模塊包括存儲器；測試時(shí)，所述處理器調(diào)用存儲器，實(shí)現(xiàn)待測試設(shè)備的電壓采樣程序調(diào)用和中間測試信息的存儲。

7.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的航天設(shè)備用微斷測試裝置，其特征在于，所述輔助模塊包括電源轉(zhuǎn)換電路，用于測試模塊的輸入電源的電壓轉(zhuǎn)換，以及提供處理器電壓采樣過程中的基準(zhǔn)電壓。

8.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的航天設(shè)備用微斷測試裝置，其特征在于，所述輔助模塊包括時(shí)鐘電路，所述時(shí)鐘電路用于在測試過程中為處理器提供所需的基準(zhǔn)頻率。

9.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的航天設(shè)備用微斷測試裝置，其特征在于，所述測試裝置各部件集成設(shè)置在PCB電路板上。

10.一種航天設(shè)備用微斷測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試系統(tǒng)包括：

待測試設(shè)備；

用于對所述待測試設(shè)備進(jìn)行振動(dòng)測試的振動(dòng)臺；以及

與所述待測試設(shè)備連接的微斷測試裝置；

其中，所述微斷測試裝置為權(quán)利要求1-9任一項(xiàng)所述的航天設(shè)備用微斷測試裝置。