[發(fā)明專利]一種柔性電路板的圖像檢測方法及檢測裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010904573.2 | 申請日: | 2020-09-01 |
| 公開(公告)號: | CN112129700A | 公開(公告)日: | 2020-12-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 江昊;王斌;徐剛;鄧嵩源 | 申請(專利權(quán))人: | 中山德著智能科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01;G01N21/95 |
| 代理公司: | 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205 | 代理人: | 何嘉杰 |
| 地址: | 528400 廣東省中山市火炬*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 柔性 電路板 圖像 檢測 方法 裝置 | ||
1.一種柔性電路板的圖像檢測方法,其特征在于,包括:
圖像獲取步驟,獲取柔性電路板的正面光圖像以及背面光圖像;
正面光圖像識別步驟,對正面光圖像進(jìn)行識別,得出柔性電路板的第一瑕疵判定結(jié)果;
背面光圖像識別步驟,對背面光圖像進(jìn)行識別,得出柔性電路板的第二瑕疵判定結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種柔性電路板的圖像檢測方法,其特征在于,所述正面光圖像識別步驟包括:
正面光二值化處理步驟,對獲取的正面光圖像進(jìn)行二值化處理;
正面光開閉運算處理步驟,對二值化處理后的正面光圖像進(jìn)行開閉運算處理,得出正面光形態(tài)學(xué)處理圖像;
正面光相減運算步驟,將正面光形態(tài)學(xué)處理圖像與預(yù)設(shè)的柔性電路板的標(biāo)準(zhǔn)模版相減,得出正面光瑕疵圖像;
正面光輪廓識別步驟,對正面光瑕疵圖像進(jìn)行瑕疵輪廓識別,得出柔性電路板的第一瑕疵判定結(jié)果。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種柔性電路板的圖像檢測方法,其特征在于,在正面光圖像識別步驟前還包括正面光圖像預(yù)處理步驟,根據(jù)預(yù)設(shè)的正面提取區(qū)域模版對在圖像獲取步驟中獲取的正面光圖像提取對應(yīng)區(qū)域的部分正面光圖像,并將提取對應(yīng)區(qū)域的部分正面光圖像輸出至正面光二值化處理步驟中處理。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種柔性電路板的圖像檢測方法,其特征在于,在正面光輪廓識別步驟中,判斷正面光瑕疵圖像中的瑕疵輪廓面積是否大于預(yù)設(shè)的第一瑕疵面積值,若是,則第一瑕疵判定結(jié)果輸出為短路瑕疵,若否,則第一瑕疵判定結(jié)果輸出為毛刺瑕疵。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種柔性電路板的圖像檢測方法,其特征在于,所述背面光圖像識別步驟包括:
背面光二值化處理步驟,對獲取的背面光圖像進(jìn)行二值化處理;
背面光開閉運算處理步驟,對二值化處理后的背面光圖像進(jìn)行開閉運算處理,得出背面光形態(tài)學(xué)處理圖像;
背面光相減運算步驟,將背面光形態(tài)學(xué)處理圖像與預(yù)設(shè)的柔性電路板的標(biāo)準(zhǔn)模版相減,得出背面光瑕疵圖像;
背面光輪廓識別步驟,對背面光瑕疵圖像進(jìn)行瑕疵輪廓識別,得出柔性電路板的第二瑕疵判定結(jié)果。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種柔性電路板的圖像檢測方法,其特征在于,在背面光圖像識別步驟前還包括背面光圖像預(yù)處理步驟,根據(jù)預(yù)設(shè)的背面提取區(qū)域模版對在圖像獲取步驟中獲取的背面光圖像提取對應(yīng)區(qū)域的部分背面光圖像,并將提取對應(yīng)區(qū)域的部分背面光圖像輸出至背面光二值化處理步驟中處理。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種柔性電路板的圖像檢測方法,其特征在于,在背面光圖像預(yù)處理步驟中,先對在圖像獲取步驟中獲取的背面光圖像進(jìn)行灰度反轉(zhuǎn)處理,再對灰度反轉(zhuǎn)處理后的背面光圖像提取對應(yīng)區(qū)域的部分背面光圖像;
并且在所述背面光二值化處理步驟中,對對應(yīng)區(qū)域的部分背面光圖像進(jìn)行灰度反轉(zhuǎn)處理后再進(jìn)行二值化處理。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種柔性電路板的圖像檢測方法,其特征在于,在背面光輪廓識別步驟中,判斷背面光瑕疵圖像中的瑕疵輪廓面積是否大于預(yù)設(shè)的第二瑕疵面積值,若是,則第二瑕疵判定結(jié)果輸出為斷路瑕疵,若否,則第二瑕疵判定結(jié)果輸出為缺口瑕疵。
9.一種檢測裝置,其特征在于,包括攝像模組以及與所述攝像模組連接的處理器,所述攝像模組用于攝取柔性電路板的正面光圖像以及背面光圖像,所述處理器執(zhí)行運行程序以能夠?qū)崿F(xiàn)如權(quán)利要求1-8任一項所述的柔性電路板的圖像檢測方法。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
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G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
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