[發(fā)明專利]一種累積法泄露檢測方法和系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010900813.1 | 申請日： | 2020-08-31 |
| 公開（公告）號： | CN112014037A | 公開（公告）日： | 2020-12-01 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 曹定愛 | 申請（專利權(quán)）人： | 中品國際信用管理有限公司 |
| 主分類號： | G01M3/00 | 分類號： | G01M3/00;G06F17/16;G06F17/18 |
| 代理公司： | 北京盛凡智榮知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11616 | 代理人： | 鄧凌云 |
| 地址： | 610000 四川省成都市武*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 累積 泄露 檢測 方法 系統(tǒng) | ||
本申請實(shí)施例公開了一種累積法泄露檢測方法和系統(tǒng)，該方法包括：獲取待檢測件上的多個待檢測位置；獲取所述多個待檢測位置的第一泄露值；根據(jù)所述第一泄露值，基于累積法，確定用于表征所述待檢測件在靜止?fàn)顟B(tài)下的第一泄露值變化曲線的至少一個第一參數(shù)值；獲取所述多個待檢測位置的第二泄露值；根據(jù)所述第二泄露值，基于累積法，確定用于表征所述待檢測件在工作狀態(tài)下的第二泄露值變化曲線的至少一個第二參數(shù)值；基于所述至少一個第一參數(shù)值和至少一個第二參數(shù)值，確定所述待測物體的至少一個泄露檢測性能。該累積法泄露檢測方法和系統(tǒng)能夠?qū)饷苄孕孤z測功能的擴(kuò)展，提高常規(guī)檢測精度與效率，為客戶節(jié)約時間成本與勞動力成本。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及工程技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及累積法泄露檢測方法和系統(tǒng)。
背景技術(shù)
目前市場上涉及的密封性檢測的儀器與設(shè)備基本屬于兩級分化狀態(tài)，常規(guī)與低端密封檢測儀器與設(shè)備通常只能檢測大于1.0×10-2Pa.m3/s的泄漏，而高端檢漏儀，比如氦質(zhì)譜檢漏儀，由于自身設(shè)備成本與使用成本都很高，常用于檢測小于1.0×10-7Pa.m3/s的泄漏，現(xiàn)在市場上缺少一款低成本并且能夠檢測1.0×10-2Pa.m3/s至1.0×10-7Pa.m3/s之間泄漏的儀器或設(shè)備。
因此，現(xiàn)希望提供一種累積法泄露檢測方法和系統(tǒng)。
發(fā)明內(nèi)容
本申請實(shí)施例之一提供一種累積法泄露檢測方法和系統(tǒng)，所述方法包括：
獲取待檢測件上的多個待檢測位置；獲取所述多個待檢測位置的第一泄露值；根據(jù)所述第一泄露值，基于累積法，確定用于表征所述待檢測件在靜止?fàn)顟B(tài)下的第一泄露值變化曲線的至少一個第一參數(shù)值；獲取所述多個待檢測位置的第二泄露值；根據(jù)所述第二泄露值，基于累積法，確定用于表征所述待檢測件在工作狀態(tài)下的第二泄露值變化曲線的至少一個第二參數(shù)值；基于所述至少一個第一參數(shù)值和至少一個第二參數(shù)值，確定所述待測物體的至少一個泄露檢測性能。
在一些實(shí)施例中，所述第一參數(shù)值包括泄露值參數(shù)β0、時間參數(shù)β1和隨機(jī)參數(shù)ε1。
在一些實(shí)施例中，所述第二參數(shù)值包括泄露值參數(shù)β3、時間參數(shù)β2和隨機(jī)參數(shù)ε2。
在一些實(shí)施例中，所述第二參數(shù)的擬合過程采用求取最小殘差平方和的方法。
本公開還提供一種累積法泄露檢測系統(tǒng)，包括第一獲取模塊、第二獲取模塊、第一參數(shù)確定模塊、第三獲取模塊、第二參數(shù)確定模塊和性能確定模塊：第一獲取模塊，用于獲取待檢測件上的多個待檢測位置；第二獲取模塊，用于獲取所述多個待檢測位置的第一泄露值；第一參數(shù)確定模塊，用于根據(jù)所述第一泄露值，基于累積法，確定用于表征所述待檢測件在靜止?fàn)顟B(tài)下的第一泄露值變化曲線的至少一個第一參數(shù)值；第三獲取模塊，用于獲取所述多個待檢測位置的第二泄露值；第二參數(shù)確定模塊，用于根據(jù)所述第二泄露值，基于累積法，確定用于表征所述待檢測件在工作狀態(tài)下的第二泄露值變化曲線的至少一個第二參數(shù)值；計算模塊，用于基于所述至少一個第一參數(shù)值和至少一個第二參數(shù)值，確定所述待測物體的至少一個泄露檢測性能。
本申請實(shí)施例之一提供一種累積法泄露檢測裝置，包括處理器，所述處理器用于執(zhí)行累積法泄露檢測的方法。
本申請實(shí)施例之一提供一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，所述存儲介質(zhì)存儲計算機(jī)指令，當(dāng)計算機(jī)讀取存儲介質(zhì)中的計算機(jī)指令后，計算機(jī)執(zhí)行累積法泄露檢測的方法。
附圖說明
本申請將以示例性實(shí)施例的方式進(jìn)一步說明，這些示例性實(shí)施例將通過附圖進(jìn)行詳細(xì)描述。這些實(shí)施例并非限制性的，在這些實(shí)施例中，相同的編號表示相同的結(jié)構(gòu)，其中：
圖1是根據(jù)本申請一些實(shí)施例所示的累積法泄露檢測系統(tǒng)的應(yīng)用場景示意圖；
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