[發(fā)明專利]一種閃爍體余輝精確測量裝置及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010897910.X | 申請日: | 2020-08-31 |
| 公開(公告)號: | CN112034505A | 公開(公告)日: | 2020-12-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉永安;盛立志;強鵬飛;蘇桐;劉哲;田進壽;趙寶升 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學院西安光學精密機械研究所 |
| 主分類號: | G01T7/00 | 分類號: | G01T7/00 |
| 代理公司: | 西安智邦專利商標代理有限公司 61211 | 代理人: | 董娜 |
| 地址: | 710119 陜西省西*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 閃爍 余輝 精確 測量 裝置 方法 | ||
本發(fā)明提供一種閃爍體余輝精確測量裝置及方法,解決現(xiàn)有余輝測試裝置存在余輝時間測量精度較低的問題。裝置包括X射線屏蔽殼體、X射線發(fā)生機構(gòu)、測試屏蔽殼體、探測器、時間處理單元;X射線發(fā)生機構(gòu)包括光源、真空殼體、輸入窗、光電陰極、聚焦極和陽極靶及光源控制電路,光源控制電路控制光源通斷及向時間處理單元發(fā)送起始信號;光源外側(cè)設(shè)有隔離密封套筒;真空殼體側(cè)壁和X射線屏蔽殼體之間設(shè)X射線輸出窗口;X射線屏蔽殼體、隔離密封套筒、真空殼體、X射線輸出窗口形成腔體內(nèi)充有絕緣散熱介質(zhì);探測器設(shè)在測試屏蔽殼體內(nèi),用于向時間處理單元發(fā)送終止信號和獲得待測閃爍體余輝的強度信息,時間處理單元用于獲得待測閃爍體的余輝時間信息。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及閃爍體余輝性能測量技術(shù),具體涉及一種閃爍體余輝精確測量裝置及方法。
背景技術(shù)
閃爍體在高能物理、石油勘探、工業(yè)檢測以及醫(yī)學中發(fā)揮著重要作用,它將高能射線或高能粒子的能量轉(zhuǎn)化為紫外或可見光,是閃爍探測器的重要組成部分,決定了閃爍探測器的時間性能。將無機閃爍體與光電倍增管、硅光二極管或雪崩二極管耦合制成的晶體閃爍計數(shù)器,是核物理、高能物理和核醫(yī)學中的一個極其重要的探測儀器。閃爍體的余輝是閃爍體的一個重要性能,例如在安檢系統(tǒng)中余輝問題會影響成像的質(zhì)量,降低圖像的空間分辨率,在圖像中引入模糊退化。因此,對閃爍體余輝性能進行精確測量具有重要的意義。
公開號為CN107861146A、申請?zhí)枮?01711428826.8的發(fā)明專利,公開了一種閃爍體的余輝測試裝置。該裝置中采用轉(zhuǎn)動體實現(xiàn)對X射線的通斷,具體通過射線發(fā)生器和待測閃爍體之間帶有通孔的物體旋轉(zhuǎn)來實現(xiàn)。公開號為CN110609314A、申請?zhí)枮?01911042918.1的發(fā)明專利,也公開了一種閃爍體的余輝測試裝置,該裝置中采用循環(huán)勻速轉(zhuǎn)動連桿機構(gòu)帶動金屬滑塊對被測閃爍體接收射線的通斷進行控制。但上述兩種公開的測試裝置均是測量余輝時間,以及均是采用金屬機械快門來控制X射線的通斷。由于機械快門的速度和精度都會受限,因此測試裝置的時間分辨率不會很高,大約為毫秒量級。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決現(xiàn)有余輝測試裝置采用金屬機械快門控制X射線的通斷,導致X射線的通斷速度和精度受限,進而使得余輝時間測量精度較低的技術(shù)問題,本發(fā)明提供了一種閃爍體余輝精確測量裝置及方法。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供的技術(shù)方案是:
一種閃爍體余輝精確測量裝置,其特殊之處在于:包括X射線屏蔽殼體、X射線發(fā)生機構(gòu)、測試屏蔽殼體、探測器、時間處理單元和計算機;
所述X射線發(fā)生機構(gòu)包括設(shè)置在X射線屏蔽殼體內(nèi)的光源、真空殼體、輸入窗、光電陰極、聚焦極和陽極靶以及設(shè)置在X射線屏蔽殼體外的光源控制電路,光源控制電路用于控制光源通斷以及向時間處理單元發(fā)送起始信號;
所述真空殼體為一端開口的筒狀結(jié)構(gòu),輸入窗設(shè)置在真空殼體的開口處,形成真空腔體;
所述輸入窗、光電陰極、聚焦極、陽極靶沿光源的出射方向依次設(shè)置,且光電陰極設(shè)置在輸入窗的內(nèi)表面,聚焦極位于真空腔體內(nèi),陽極靶的末端伸出真空殼體,陽極靶的靶面傾角小于45°;
所述光源的外側(cè)設(shè)有隔離密封套筒,隔離密封套筒的一端與X射線屏蔽殼體內(nèi)壁連接,另一端與輸入窗連接;
所述真空殼體側(cè)壁和X射線屏蔽殼體之間設(shè)置有供X射線穿過的X射線輸出窗口;
所述X射線屏蔽殼體內(nèi)壁、隔離密封套筒側(cè)壁、真空殼體外壁、X射線輸出窗口側(cè)壁之間形成的腔體內(nèi)充有絕緣散熱介質(zhì);
所述X射線屏蔽殼體和測試屏蔽殼體之間設(shè)有用于屏蔽雜散光及防止X射線泄露的準直屏蔽件;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學院西安光學精密機械研究所,未經(jīng)中國科學院西安光學精密機械研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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