[發明專利]一種閃爍體余輝精確測量裝置及方法在審

申請號：	202010897910.X	申請日：	2020-08-31
公開（公告）號：	CN112034505A	公開（公告）日：	2020-12-04
發明（設計）人：	劉永安;盛立志;強鵬飛;蘇桐;劉哲;田進壽;趙寶升	申請（專利權）人：	中國科學院西安光學精密機械研究所
主分類號：	G01T7/00	分類號：	G01T7/00
代理公司：	西安智邦專利商標代理有限公司 61211	代理人：	董娜
地址：	710119 陜西省西***	國省代碼：	陜西;61
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種閃爍余輝精確測量裝置方法
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【權利要求書】：

1.一種閃爍體余輝精確測量裝置，其特征在于：包括X射線屏蔽殼體(10)、X射線發生機構、測試屏蔽殼體(20)、探測器(15)、時間處理單元(22)和計算機(19)；

所述X射線發生機構包括設置在X射線屏蔽殼體(10)內的光源(2)、真空殼體(7)、輸入窗(4)、光電陰極(5)、聚焦極(6)和陽極靶(8)以及設置在X射線屏蔽殼體(10)外的光源控制電路(1)，光源控制電路(1)用于控制光源(2)通斷以及向時間處理單元(22)發送起始信號；

所述真空殼體(7)為一端開口的筒狀結構，輸入窗(4)設置在真空殼體(7)的開口處，形成真空腔體；

所述輸入窗(4)、光電陰極(5)、聚焦極(6)、陽極靶(8)沿光源(2)的出射方向依次設置，且光電陰極(5)設置在輸入窗(4)的內表面，陽極靶(8)的末端伸出真空殼體(7)，陽極靶(8)的靶面傾角小于45°；

所述光源(2)的外側設有隔離密封套筒(3)，隔離密封套筒(3)的一端與X射線屏蔽殼體(10)內壁連接，另一端與輸入窗(4)連接；

所述真空殼體(7)側壁和X射線屏蔽殼體(10)之間設置有供X射線穿過的X射線輸出窗口(11)；

所述X射線屏蔽殼體(10)內壁、隔離密封套筒(3)側壁、真空殼體(7)外壁、X射線輸出窗口(11)側壁之間形成的腔體內充有絕緣散熱介質；

所述X射線屏蔽殼體(10)和測試屏蔽殼體(20)之間設有用于屏蔽雜散光及防止X射線泄露的準直屏蔽件(12)；

所述探測器(15)設置在測試屏蔽殼體(20)內，用于獲取測試屏蔽殼體(20)內待測閃爍體(14)經陽極靶(8)出射的X射線照射后發出的熒光信息；所述探測器(15)用于向時間處理單元(22)發送終止信號，時間處理單元(22)用于對起始信號和終止信號進行處理，獲得待測閃爍體(14)的余輝時間信息；所述探測器(15)用于處理到達探測器(15)的光子位置信息，獲得待測閃爍體(14)余輝的強度信息；

所述計算機(19)與時間處理單元(22)的輸出和探測器(15)的輸出連接。

2.根據權利要求1所述閃爍體余輝精確測量裝置，其特征在于：所述時間處理單元(22)包括時間測量模塊(17)和多道分析儀(18)；

所述時間測量模塊(17)用于將起始信號和終止信號轉化為數字信號并傳輸至多道分析儀(18)，多道分析儀(18)用于對數字信號進行處理，獲得待測閃爍體(14)的余輝時間信息并發送至計算機(19)。

3.根據權利要求2所述閃爍體余輝精確測量裝置，其特征在于：所述探測器(15)為基于MCP和位敏陽極的探測器，其包括微通道板(24)和位敏陽極(25)，微通道板(24)最靠近位敏陽極的MCP輸出端與時間測量模塊(17)連接；

所述位敏陽極(25)用于處理光子位置信息，獲得待測閃爍體(14)余輝的強度信息并發送至計算機(19)。

4.根據權利要1至3任一所述閃爍體余輝精確測量裝置，其特征在于：所述X射線屏蔽殼體(10)內設有用于檢測絕緣散熱介質溫度的測溫件(21)。

5.根據權利要4所述閃爍體余輝精確測量裝置，其特征在于：所述輸入窗(4)材質為石英或氟化鎂或K9玻璃。

6.根據權利要5所述閃爍體余輝精確測量裝置，其特征在于：所述光電陰極(5)為CsI陰極或S20陰極或S25陰極或CsTe陰極或負電子親和勢陰極。

7.根據權利要1所述閃爍體余輝精確測量裝置，其特征在于：所述聚焦極(6)位于光電陰極(5)和陽極靶(8)的中間。

8.根據權利要1所述閃爍體余輝精確測量裝置，其特征在于：所述真空殼體(7)、輸入窗(4)和X射線輸出窗口(11)所形成的真空密閉腔真空度小于1×10^-5Pa。

9.根據權利要求1所述閃爍體余輝精確測量裝置，其特征在于：所述絕緣散熱介質為絕緣散熱油。

10.一種基于權利要求1至9任一所述閃爍體余輝精確測量裝置的閃爍體余輝精確測量方法，其特征在于，包括以下步驟：