[發(fā)明專利]一種控制器測試系統(tǒng)及方法

在審

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• 申請日: 2020-08-28
• 公開（公告）號(hào): CN111880519A
• 公開（公告）日: 2020-11-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 馮消冰;張俊;李海龍;段瑞民
• 申請（專利權(quán)）人: 北京博清科技有限公司
• 主分類號(hào): G05B23/02
• 分類號(hào): G05B23/02
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 曹瑞敏

1.一種控制器測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括：測試控制設(shè)備、負(fù)載，所述測試控制設(shè)備、所述負(fù)載分別與待測控制器電連接；

所述測試控制設(shè)備，用于向所述待測控制器發(fā)送測試指令；

所述負(fù)載，用于接收所述待測控制器根據(jù)所述測試指令進(jìn)行的控制，并向所述測試控制設(shè)備發(fā)送檢測信號(hào)；

所述測試控制設(shè)備，還用于接收所述待測控制器的待測參數(shù)，根據(jù)所述待測參數(shù)生成檢測結(jié)果，和/或，根據(jù)所述檢測信號(hào)生成檢測結(jié)果。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述負(fù)載包括：電機(jī)；所述系統(tǒng)還包括：負(fù)載支架裝置；所述負(fù)載支架裝置包括：驅(qū)動(dòng)器、測速測向設(shè)備，其中，

所述電機(jī)分別與所述測速測向設(shè)備、所述驅(qū)動(dòng)器電連接，所述驅(qū)動(dòng)器還用于連接所述待測控制器；

所述驅(qū)動(dòng)器，用于接受所述待測控制器根據(jù)所述測試指令進(jìn)行的控制，并驅(qū)動(dòng)所述電機(jī)；

所述測速測向設(shè)備還與所述測試控制設(shè)備連接，用于測試所述電機(jī)的轉(zhuǎn)速和轉(zhuǎn)向，并向所述測試控制設(shè)備發(fā)送所述轉(zhuǎn)速和所述轉(zhuǎn)向。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述測試控制設(shè)備包括：測試工裝；

所述測試工裝上包括：至少一個(gè)測試指令按鈕、測試模式按鈕。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述測試指令按鈕包括：IO測試按鈕、電機(jī)測試按鈕；

所述測試模式按鈕包括：手動(dòng)測試模式按鈕和/或自動(dòng)測試模式按鈕，其中，所述手動(dòng)測試模式按鈕用于每次執(zhí)行一個(gè)對應(yīng)的測試項(xiàng)目，所述自動(dòng)測試模式按鈕用于依次執(zhí)行多個(gè)對應(yīng)的測試項(xiàng)目。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述測試控制設(shè)備還包括：上位機(jī)；所述上位機(jī)與所述測試工裝通信連接；

所述上位機(jī)，用于通過所述測試工裝向所述待測控制器發(fā)送測試指令；以及，根據(jù)所述檢測信號(hào)生成檢測結(jié)果。

6.一種控制器測試方法，其特征在于，所述方法應(yīng)用于權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述控制器測試系統(tǒng)中的測試控制設(shè)備，所述方法包括：

向待測控制器發(fā)送測試指令，所述測試指令用于控制負(fù)載工作；

接收所述負(fù)載反饋的檢測信號(hào)，根據(jù)所述檢測信號(hào)生成檢測結(jié)果；和/或，

接收所述待測控制器的待測參數(shù)，根據(jù)所述待測參數(shù)生成檢測結(jié)果。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述負(fù)載包括：電機(jī)；所述系統(tǒng)還包括：負(fù)載支架裝置；所述負(fù)載支架裝置包括：驅(qū)動(dòng)器、測速測向設(shè)備；所述電機(jī)分別與所述測速測向設(shè)備、所述驅(qū)動(dòng)器電連接；所述測試指令用于控制所述驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述電機(jī)；

所述接收所述負(fù)載反饋的檢測信號(hào)，包括：

接收所述測速測向設(shè)備發(fā)送的所述電機(jī)的轉(zhuǎn)速和轉(zhuǎn)向。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述測試控制設(shè)備包括：測試工裝；所述測試工裝上包括：至少一個(gè)測試指令按鈕、測試模式按鈕；

所述向待測控制器發(fā)送測試指令，包括：

響應(yīng)于所述測試指令按鈕、所述測試模式按鈕的操作，生成所述測試指令；

向待測控制器發(fā)送所述測試指令。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述測試指令按鈕包括：IO測試按鈕、電機(jī)測試按鈕；

所述測試模式按鈕包括手動(dòng)測試模式按鈕和/或自動(dòng)測試模式按鈕，其中，所述手動(dòng)測試模式按鈕用于每次執(zhí)行一個(gè)對應(yīng)的測試項(xiàng)目，所述自動(dòng)測試模式按鈕用于依次執(zhí)行多個(gè)對應(yīng)的測試項(xiàng)目。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述測試控制設(shè)備還包括：上位機(jī)；所述上位機(jī)與所述測試工裝通信連接；

所述向待測控制器發(fā)送所述測試指令，包括：

響應(yīng)于所述上位機(jī)收到的測試指令，通過所述測試工裝向所述待測控制器發(fā)送所述測試指令；

所述根據(jù)所述檢測信號(hào)生成檢測結(jié)果，包括：

通過所述上位機(jī)根據(jù)所述檢測信號(hào)生成所述檢測結(jié)果。