[發明專利]工件的返修控制方法、裝置及可讀存儲介質

有效

• 申請號: 202010882822.2
• 申請日: 2020-08-28
• 公開（公告）號: CN111931959B
• 公開（公告）日: 2021-01-22
• 發明（設計）人: 柳凱;黃文杰;王有飛;劉云崗
• 申請（專利權）人: 歌爾光學科技有限公司
• 主分類號: G06Q10/00
• 分類號: G06Q10/00;G06Q10/06;G06Q50/04
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 關向蘭

本發明公開了一種工件的返修控制方法、裝置及可讀存儲介質，所述工件的返修控制方法包括以下步驟：獲取待返修工件的狀態圖像，并將所述狀態圖像與模板圖像進行比對；在所述狀態圖像與所述模板圖像匹配時，將所述待返修工件需要加工的工站信息寫入待返修工件的存儲芯片中，以得到目標工站信息；在所述待返修工件進入加工工站后，獲取所述目標工站信息；獲取所述待返修工件所在的加工工站的當前工站信息；在所述目標工站信息與所述當前工站信息相同時，控制所述當前工站對所述待返修工件加工。本發明能夠解決現有的不良品返修復投的方案中，在不良品返修重新投入線體時，導致不良品的重復產生的問題。

技術領域

本發明涉及電子技術領域，特別涉及一種工件的返修控制方法、裝置及可讀存儲介質。

背景技術

在整機電子產品的組裝生產過程中，不良品的產生往往會造成較大的經濟損失，不良品返修后重新投入線體進行生產可以大幅降低報廢率，但現有的不良品返修復投的方案中，在不良品返修重新投入線體時，由于投入點多，需要人工確認的步驟多，無法進行有效的防呆，導致不良品容易重復產生。

發明內容

本發明的主要目的是提供一種工件的返修控制方法、裝置及可讀存儲介質，解決現有的不良品返修復投的方案中，在不良品返修重新投入線體時，導致不良品的重復產生的問題。

為實現上述目的，本發明提供一種工件的返修控制方法，所述工件的返修控制方法包括：

獲取待返修工件的狀態圖像，并將所述狀態圖像與模板圖像進行比對；

在所述狀態圖像與所述模板圖像匹配時，將所述待返修工件需要加工的工站信息寫入待返修工件的存儲芯片中，以得到目標工站信息；

在所述待返修工件進入加工工站后，獲取所述目標工站信息；

獲取所述待返修工件所在的加工工站的當前工站信息；

在所述目標工站信息與所述當前工站信息相同時，控制所述當前工站對所述待返修工件加工。

可選地，所述控制所述當前工站對所述待返修工件加工的步驟之后還包括：

檢測所述待返修工件是否加工成功；

在所述待返修工件加工成功時，將所述加工成功的信息寫入所述存儲芯片中，并控制所述待返修工件進入下一個加工工站；

在所述待返修工件加工失敗時，將所述加工失敗的信息寫入所述存儲芯片中，并回收所述待返修工件。

可選地，所述檢測所述待返修工件是否加工成功的步驟包括：

獲取所述當前工站的作業方式；

根據所述作業方式確定檢測方式；

根據所述檢測方式對所述待返修工件檢測，并生成檢測結果；

根據所述檢測結果判斷所述待返修工件是否加工成功。

可選地，所述將所述狀態圖像與模板圖像進行比對的步驟之后還包括：

在所述狀態圖像與所述模板圖像不匹配時，輸出報警信息；

接收根據所述報警信息輸入的工站信息；

將所述工站信息寫入所述存儲芯片，以得到目標工站信息。

可選地，所述獲取所述待返修工件的狀態圖像，并將所述狀態圖像與模板圖像進行比對的步驟包括：

獲取所述待返修工件的加工記錄，其中，所述加工記錄至少包括所述待返修工件需要加工的工站信息；

在獲取到所述加工記錄后，控制相機對所述待返修工件拍照，以得到所述待返修工件的狀態圖像，并將所述狀態圖像與模板圖像進行比對。