[發(fā)明專利]飛機型架的裝調(diào)方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010882181.0
• 申請日: 2020-08-28
• 公開（公告）號: CN112066877B
• 公開（公告）日: 2022-02-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 周金鋒;田平風(fēng);汪志堅;童巨特;王文鵬;萬麗玄;傅云
• 申請（專利權(quán)）人: 浙江西子勢必銳航空工業(yè)有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 北京博維知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11486
• 代理人: 張倩

本申請?zhí)峁┝艘环N飛機型架的裝調(diào)方法，包括：在型架模型上確定三個第一參照點，其中兩個第一點參照點的連線沿型架實物重力方向延伸，在三維軟件坐標(biāo)系下，確定三個第二參照點，在型架實物上標(biāo)記出與各第一參照點相對應(yīng)的第一測量點，將各第二參照點以相應(yīng)的格式導(dǎo)入測量儀器，對型架上的各第一測量點進行測量，得到各第一測量點在三維軟件坐標(biāo)系下的坐標(biāo)，調(diào)整型架模型位置，使得型架模型上的第一參照點與三維軟件坐標(biāo)系下相應(yīng)的第二點參照重合，獲取型架模型中與飛機組件位置匹配的裝調(diào)件的位置參數(shù)，在型架實物上對裝調(diào)件進行定位。本申請的飛機型架的裝調(diào)方法，能夠降低裝調(diào)難度，縮短裝調(diào)周期。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及飛機裝配技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及飛機型架的裝調(diào)方法。

背景技術(shù)

飛機型架裝調(diào)完成的測量報告記錄了飛機零部件在使用型架過程中的定位數(shù)據(jù)，是不斷完善型架定位支撐精準(zhǔn)度的必要分析依據(jù)，行業(yè)內(nèi)規(guī)定測量報告中的坐標(biāo)系必須與飛機坐標(biāo)系完全一致，其中飛機坐標(biāo)系是各個飛機零部件供應(yīng)商統(tǒng)一的坐標(biāo)系，目前一般采用飛機坐標(biāo)系對型架進行裝調(diào)。但是，飛機零部件在飛機坐標(biāo)下分布較廣，結(jié)構(gòu)復(fù)雜，有時飛機零部件外形特征與飛機坐標(biāo)系毫無規(guī)律，使用飛機坐標(biāo)系對相應(yīng)型架進行裝調(diào)的過程中容易出現(xiàn)X、Y、Z軸與地球引力方向不垂直或不平行，呈無規(guī)則角度等問題，因此型架裝調(diào)鉗工常常在裝調(diào)方向上花費很長時間。此外，對飛機型架的裝調(diào)精度要求較高，大多裝調(diào)特征公差在0.1mm以內(nèi)，由于裝調(diào)方向不易控制，質(zhì)量要求高，對裝調(diào)鉗工技能水平要求非常高，致使裝調(diào)周期長，效率低。

發(fā)明內(nèi)容

本申請?zhí)峁┝艘环N飛機型架的裝調(diào)方法，能夠降低裝調(diào)難度，縮短裝調(diào)周期。

本申請?zhí)峁┑娘w機型架的裝調(diào)方法，包括以下步驟：

將構(gòu)建于飛機坐標(biāo)系的型架模型導(dǎo)入三維軟件，在型架模型上確定三個第一參照點，其中兩個第一參照點的連線沿型架實物重力方向延伸，這兩個第一參照點中的一者與第三個第一參照點的連線與實物重力方向垂直；

在三維軟件坐標(biāo)系下，確定三個第二參照點，其中一個第二參照點處在三維軟件坐標(biāo)系原點，另外兩個第二參照點分別處在三維軟件坐標(biāo)系的x軸和y軸上，且所述三個第二參照點之間的相對位置關(guān)系與三個第一參照點之間的相對位置關(guān)系保持一致；

依據(jù)型架模型中的相關(guān)數(shù)據(jù)，在型架實物上標(biāo)記出與各第一參照點相對應(yīng)的第一測量點；

將各第二參照點以相應(yīng)的格式導(dǎo)入測量儀器，利用測量儀器對型架上的各第一測量點進行測量，得到各第一測量點在三維軟件坐標(biāo)系下的坐標(biāo)；

在三維軟件中調(diào)整型架模型位置，使得型架模型上的第一參照點與三維軟件坐標(biāo)系下相應(yīng)的第二參照點重合，在三維軟件坐標(biāo)系下，獲取型架模型中與飛機組件位置匹配的裝調(diào)件的位置參數(shù)；

利用測量儀器，結(jié)合所述第一測量點和所述裝調(diào)件的位置參數(shù)，在型架實物上對裝調(diào)件進行定位。

以下還提供了若干可選方式，但并不作為對上述總體方案的額外限定，僅僅是進一步的增補或優(yōu)選，在沒有技術(shù)或邏輯矛盾的前提下，各可選方式可單獨針對上述總體方案進行組合，還可以是多個可選方式之間進行組合。

可選的，所述第一測量點的標(biāo)記方式為在型架實物上對應(yīng)于各第一參照點處加工測量孔。

可選的，所述測量儀器為激光跟蹤儀或激光干涉儀。

可選的，所述在三維軟件中調(diào)整型架模型位置，包括：

保持所述三個第二參照點的位置固定不動；

對所述型架模型進行平移和/或旋轉(zhuǎn)操作。

可選的，所述裝調(diào)件的位置參數(shù)包括裝調(diào)件的空間坐標(biāo)和空間姿態(tài)。