[發(fā)明專利]飛機型架的裝調(diào)方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010882181.0
• 申請日: 2020-08-28
• 公開（公告）號: CN112066877B
• 公開（公告）日: 2022-02-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 周金鋒;田平風(fēng);汪志堅;童巨特;王文鵬;萬麗玄;傅云
• 申請（專利權(quán)）人: 浙江西子勢必銳航空工業(yè)有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 北京博維知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11486
• 代理人: 張倩

1.飛機型架的裝調(diào)方法，其特征在于，包括以下步驟：

將構(gòu)建于飛機坐標(biāo)系的型架模型導(dǎo)入三維軟件，在型架模型上確定三個第一參照點，其中兩個第一參照點的連線沿型架實物重力方向延伸，這兩個第一參照點中的一者與第三個第一參照點的連線與實物重力方向垂直；

在三維軟件坐標(biāo)系下，確定三個第二參照點，其中一個第二參照點處在三維軟件坐標(biāo)系原點，另外兩個第二參照點分別處在三維軟件坐標(biāo)系的x軸和y軸上，且所述三個第二參照點之間的相對位置關(guān)系與三個第一參照點之間的相對位置關(guān)系保持一致；

依據(jù)型架模型中的相關(guān)數(shù)據(jù)，在型架實物上標(biāo)記出與各第一參照點相對應(yīng)的第一測量點；

將各第二參照點以相應(yīng)的格式導(dǎo)入測量儀器，利用測量儀器對型架上的各第一測量點進(jìn)行測量，得到各第一測量點在三維軟件坐標(biāo)系下的坐標(biāo)；

在三維軟件中調(diào)整型架模型位置，使得型架模型上的第一參照點與三維軟件坐標(biāo)系下相應(yīng)的第二參照點重合，在三維軟件坐標(biāo)系下，獲取型架模型中與飛機組件位置匹配的裝調(diào)件的位置參數(shù)；

利用測量儀器，結(jié)合所述第一測量點和所述裝調(diào)件的位置參數(shù)，利用所述各第一測量點確定一參照面，利用所述參照面對型架實物進(jìn)行初定位；所述第一測量點在三維軟件坐標(biāo)系下的坐標(biāo)作為工裝坐標(biāo)系下的第一基準(zhǔn)點，利用測量儀器，依據(jù)所述第一基準(zhǔn)點以及所述型架模型對所述型架實物進(jìn)行精確定位，在型架實物上標(biāo)記出第二測量點，得到各第二測量點在三維軟件坐標(biāo)系下的坐標(biāo)，并作為工裝坐標(biāo)系下的第二基準(zhǔn)點；利用所述第一基準(zhǔn)點和所述第二基準(zhǔn)點在型架實物上對裝調(diào)件進(jìn)行定位。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的飛機型架的裝調(diào)方法，其特征在于，所述第一測量點的標(biāo)記方式為在型架實物上對應(yīng)于各第一參照點處加工測量孔。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的飛機型架的裝調(diào)方法，其特征在于，所述測量儀器為激光跟蹤儀或激光干涉儀。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的飛機型架的裝調(diào)方法，其特征在于，所述在三維軟件中調(diào)整型架模型位置，包括：

保持所述三個第二參照點的位置固定不動；

對所述型架模型進(jìn)行平移和/或旋轉(zhuǎn)操作。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的飛機型架的裝調(diào)方法，其特征在于，所述裝調(diào)件的位置參數(shù)包括裝調(diào)件的空間坐標(biāo)和空間姿態(tài)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的飛機型架的裝調(diào)方法，其特征在于，沿測量儀器視角的縱深方向，所述型架實物具有相對的前側(cè)和后側(cè)；各第一測量點靠近型架實物的前側(cè)，各第二測量點靠近型架實物的后側(cè)。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的飛機型架的裝調(diào)方法，其特征在于，所述型架實物的前側(cè)至少包括固定于地面的第一立柱和第二立柱，以及安裝于各立柱頂端的所述裝調(diào)件；

所述三個第一參照點中，其中兩個第一參照點的位置對應(yīng)于第一立柱；另一個第一參照點的位置對應(yīng)于第二立柱。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的飛機型架的裝調(diào)方法，其特征在于，位置對應(yīng)于第一立柱的兩個第一參照點的連線沿型架實物重力方向延伸。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的飛機型架的裝調(diào)方法，其特征在于，所述型架實物的后側(cè)至少包括固定于地面的第三立柱和第四立柱，以及安裝于各立柱頂端的所述裝調(diào)件；標(biāo)記所述第一測量點之前，依據(jù)型架模型中的相關(guān)數(shù)據(jù)，采用人工方式對所述第一立柱和所述第二立柱進(jìn)行初定位；三個第一測量點中，兩個第一測量點分別靠近所述第一立柱的頂端和底端，另一個第一測量點靠近所述第二立柱的底端；所述第二測量點為兩個，且分別靠近所述第三立柱和所述第四立柱的頂端。