[發明專利]一種目標對象組裝精度的檢測方法、裝置及系統有效
| 申請號: | 202010879194.2 | 申請日: | 2020-08-27 |
| 公開(公告)號: | CN112146568B | 公開(公告)日: | 2022-06-14 |
| 發明(設計)人: | 楊耀華;李磊;安玉存;張磊;王鑫;劉雪蓮;張秀廷;劉榮 | 申請(專利權)人: | 北京天瑞星光熱技術有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00 |
| 代理公司: | 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250 | 代理人: | 李博洋 |
| 地址: | 100089 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 目標 對象 組裝 精度 檢測 方法 裝置 系統 | ||
1.一種目標對象組裝精度的檢測方法,其特征在于,包括:
根據目標對象的特征長度,確定所述目標對象的第一方向的多個第一特征點;
分別獲取各所述第一特征點的第一坐標值以及第二坐標值,所述第一坐標值為所述第一特征點在第一坐標方向上的坐標值,所述第二坐標值為所述第一特征點在第二坐標方向上的坐標值;
根據所述第一坐標值、預設參數值,確定所述第二坐標值的理論值;
根據所述第二坐標值以及所述第二坐標值的理論值,確定所述第一特征點的組裝精度;
根據所述目標對象的第一方向的多個第一特征點,確定所述目標對象的第二方向的多個第二特征點;
分別獲取第二特征點的第三坐標值以及第四坐標值,所述第三坐標值為所述第二特征點在第一坐標方向上的坐標值,所述第四坐標值為所述第二特征點在第二坐標方向上的坐標值;
根據所述第三坐標值、預設參數值,確定所述第四坐標值的理論值;
根據所述第四坐標值以及所述第四坐標值的理論值,確定所述第二特征點的組裝精度;
根據所述目標對象的第一方向的多個第一特征點的組裝精度以及所述目標對象的第二方向的多個第二特征點的組裝精度,確定所述目標對象的組裝精度。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,在根據所述第二坐標值以及所述第二坐標值的理論值,確定所述第一特征點的組裝精度的步驟之后,還包括:
在所述第一方向獲取所述目標對象的多個固定點的第一測量坐標值,以及在所述第二方向獲取所述目標對象的多個固定點的第二測量坐標值;
當所述固定點的所述第一測量坐標值與所述第二測量坐標值相匹配時,執行所述根據所述目標對象的第一方向的多個第一特征點,確定所述目標對象的第二方向的多個第二特征點的步驟;
其中,在所述第一方向獲取所述目標對象的多個固定點的第一測量坐標值,以及在所述第二方向獲取所述目標對象的多個固定點的第二測量坐標值,包括:
在所述第一方向為激光跟蹤儀放置于目標對象的南面時,獲取多個固定點的第一測量坐標值,以及在第二方向為所述激光跟蹤儀轉站移動至目標對象的北面時,獲取多個固定點的第二測量坐標值。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,通過激光跟蹤儀獲取所述目標對象各特征點的坐標值;所述預設參數值包括所述目標對象的拋物線焦距值、所述激光跟蹤儀的靶球半徑、所述目標對象反射鏡的厚度值以及所述目標對象反射鏡的預設方向坐標值。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,通過下述公式,計算所述第二坐標值的理論值:
其中,z表示所述第二坐標值的理論值;P表示所述目標對象的拋物線焦距值;x表示所述第一特征點的第一坐標值;a表示所述激光跟蹤儀的靶球半徑,b表示所述目標對象反射鏡的厚度值,C表示所述目標對象的反射鏡的預設方向坐標值。
5.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述根據所述目標對象的第一方向的多個第一特征點的組裝精度以及所述目標對象的第二方向的多個第二特征點的組裝精度,確定所述目標對象的組裝精度,具體包括:
計算所述目標對象的第一方向的多個第一特征點的組裝精度以及所述目標對象的第二方向的多個第二特征點的組裝精度的均值,所述均值即為所述目標對象的組裝精度。
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