[發明專利]一種測量微棱鏡反射波前的干涉儀在審
| 申請號: | 202010863744.1 | 申請日: | 2020-08-25 |
| 公開(公告)號: | CN111854983A | 公開(公告)日: | 2020-10-30 |
| 發明(設計)人: | 祝沛 | 申請(專利權)人: | 上海乾曜光學科技有限公司 |
| 主分類號: | G01J9/00 | 分類號: | G01J9/00;G01J9/02;G01M11/02 |
| 代理公司: | 上海助之鑫知識產權代理有限公司 31328 | 代理人: | 王風平 |
| 地址: | 201800 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測量 棱鏡 反射 干涉儀 | ||
本發明公開了一種測量微棱鏡反射波前的干涉儀,與干涉儀本體相對應,干涉儀本體上安裝有鏡頭;所述鏡頭的前方安裝有待測的棱鏡;所述鏡頭上設置有球面鏡片,球面鏡片的光線直射到待測的棱鏡上;所述待測的棱鏡的一側設置有球面反射鏡;球面反射鏡的凹面面對待測的棱鏡。本發明能夠實現與實際使用場景完全吻合的效果,并且檢測結果能夠真實反映微棱鏡面形對光學系統的影響,可靠性得到了大幅度的提升。
技術領域
本發明涉及干涉儀領域,具體而言,涉及一種測量微棱鏡反射波前的干涉儀。
背景技術
微棱鏡的斜面是工作面,其面形或反射波前的檢測,需要借助于激光干涉儀。激光良好的空間相干性和時間相干性是一把雙刃劍,在測試微棱鏡工作面的反射波前時,其兩個直角面的內反射光同樣會形成干涉條紋,與正常的干涉條紋疊加在一起,干擾測量。
現有的技術方案:
如圖1所示,方案1的干涉儀安裝平面參考鏡14,干涉儀的鏡頭12平行光出射,待測的棱鏡13的工作面(斜面)正對著平行光放置,干涉儀檢測的是工作面的面形。
缺點在于,除了工作面的反射光外,棱鏡13兩個直角面的內反射光也會原路返回干涉儀11,且由于兩個直角面的反射均為全反,因此干擾光束的強度還遠遠超過工作面的反射光(工作面的反射光強是入射光強的4%,而干擾光強是入射光強的96%*96%=92%),工作面形成的干涉條紋幾乎不可觀察。只能在直角面涂抹凡士林類的油脂來消除干擾光。凡士林的涂抹和清潔會嚴重影響測試的效率,且有可能造成表面光潔度的損傷。
如圖2所示,方案2的干涉儀21安裝平面鏡頭22,干涉儀21的平行光出射,待測的棱鏡23的工作面與平行光成45度或其他角度放置,光束經斜面反射后,經平面反射鏡返回。干涉儀檢測的是工作面的反射波前。
方案2是在方案1的基礎上有了改良,測量光束與棱鏡工作面以45度(或其他角度)入射,直角面內反射光束的光強會弱于工作面的反射光,形成的干擾也會減弱,但依然無法完全消除,而且,檢測的光路是平行光傳輸,而微棱鏡的實際使用場景中,光束是球面波傳輸,測試結果并不能真實反映實際場景的影響。
發明內容
本發明針對現有技術的缺點,提供了一種測量微棱鏡反射波前的干涉儀,解決了上述技術的缺陷。
為了實現上述目的,本發明采用了如下技術方案:
一種測量微棱鏡反射波前的干涉儀,與干涉儀本體相對應,干涉儀本體上安裝有鏡頭;所述鏡頭的前方安裝有待測的棱鏡;其特征在于:所述鏡頭上設置有球面鏡片,球面鏡片的光線直射到待測的棱鏡上;所述待測的棱鏡的一側設置有球面反射鏡;球面反射鏡的凹面面對待測的棱鏡。
優化的方案,所述待測的棱鏡的側面為工作面,工作面斜向設置;工作面、球面反射鏡和球面鏡頭呈直角三角形形狀排列。
優化的方案,所述球面鏡頭的F數為2.8-7.0。
優化的方案,所述球面鏡頭的F數為5.6。
優化的方案,所述球面反射鏡的曲率半徑與直徑比例為2.8。
由于采用了上述技術,與現有技術相比較,本發明的有益效果是:
1、本發明能夠實現與實際使用場景完全吻合的效果,并且檢測結果能夠真實反映微棱鏡面形對光學系統的影響,可靠性得到了大幅度的提升。
2、本發明在檢測過程中,棱鏡的直角面反射光不會返回干涉儀的相機內,不會對圖像產生干擾。
附圖說明
圖1為背景技術中方案1的原理結構示意圖;
圖2為背景技術中方案2的原理結構示意圖;
圖3為本發明一種實施例的原理結構示意圖。
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