[發明專利]基底選擇性熱電轉換CoMnSbV薄膜的制備方法有效
| 申請號: | 202010862797.1 | 申請日: | 2020-08-25 |
| 公開(公告)號: | CN112030124B | 公開(公告)日: | 2022-08-09 |
| 發明(設計)人: | 藍碧健 | 申請(專利權)人: | 太倉碧奇新材料研發有限公司 |
| 主分類號: | C23C14/35 | 分類號: | C23C14/35;C23C14/18;C23C14/58;C23C14/16;H01L35/02;H01L35/20;H01L35/34 |
| 代理公司: | 蘇州市方略專利代理事務所(普通合伙) 32267 | 代理人: | 朱智杰 |
| 地址: | 215400 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基底 選擇性 熱電 轉換 comnsbv 薄膜 制備 方法 | ||
本發明屬于電子材料技術領域,具體為一種基底選擇性熱電轉換CoMnSbV薄膜的制備方法。本發明提出的方法是以玻璃、云母、單晶硅、氟化鈣晶體、氯化鈉晶體、溴化鉀晶體、氟化鎂晶體為基底,在磁控濺射鍍膜機中,通過控制真空度,氣體流量,靶基距離,沉積順序及循環次數,退火溫度等,制備CoMnSbV薄膜。CoMnSbV薄膜的熱電優值具有基底選擇性,最大熱電優值可達2,適用于中等規模使用,如汽車廢熱發電。
技術領域
本發明屬于電子材料技術領域,具體涉及一種基底選擇性熱電轉換CoMnSbV薄膜的制備方法。
背景技術
隨著全球經濟對清潔能源的需求不斷增長,尋求新的綠色能源成為當務之急,熱電材料作為一種能有效實現熱能與電能相互轉換的新型功能材料,對環境綠色無污染而倍受青睞。材料的熱電性能取決于熱電優值ZT,ZT=α2σT/κ(其中,α為Seebeck系數,σ為電導率,T為溫度,κ為熱導率),ZT值越大,則材料的熱電轉換效率越高。采用霍爾效應測試儀測試薄膜室溫下的電輸運性能,通過熱電系數測量儀等測量薄膜的Seebeck系數和變溫電導率。
錫和硒是優良的熱電材料,但由于它們像疊紙一樣以多晶的形式存在,所以很難控制其晶體結構,這就導致熱電效率難以實現。在材料上施加高溫和高壓是昂貴的,而且很難在理想的方向上疊加晶體。韓國標準與科學研究所(KRISS)開發了一種向特定方向生長硒化錫的方法,制備了tin-di-selenide薄膜,然后對其進行退火,使硒原子蒸發,生成硒化錫薄膜。晶體結構也被對齊,使得電子性能比以前提高了10倍以上(NatureCommunications, 2019, 10: 864)。
浙江師范大學采用液相化學還原法制備了高縱橫比、高導電性的鎳納米線。采用溶液混合澆鑄和壓鑄相結合的方法制備了聚偏二氟乙烯(PVDF)/Ni NW復合膜。研究了不同摻量的Ni NW對聚偏氟乙烯/Ni NW納米復合材料形貌、晶體結構和熱電性能的影響。通過將優化制備的、具有高長徑比和優異導電性的鎳納米線(Ni NWs) 與聚偏氟乙烯(PVDF)聚合物進行混合和模壓成形,得到了具有優良熱電轉換性能的柔性聚合物復合材料。 研究表明,鎳納米線均勻分布在PVDF基體中。隨著Ni NW含量的增加,復合材料的電導率顯著提高,在75% wt% Ni NW的情況下, 該復合聚合物的電導率呈現大幅度增加,其功率因數提升至24.31μWm-1 K-2,是PVDF基體功率因數的69倍。 雖然復合材料的抗拉強度和延伸率逐漸降低,但這種柔性熱電膜仍顯示出巨大的應用潛力。 難能可貴的是,該聚合物材料展現出優良的柔韌性和機械性能,有望在可穿戴式和植入性電子設備中得到應用(Materials Design,2020,188:108496)。
金屬及合金是一類性能優異的熱電材料,有晶格取向的熱電薄膜的熱電性能要優于常規二維或三維熱電材料。
熱電薄膜的基底通常有玻璃、硅、氮化鎵,以及柔性的塑料基底,熱電薄膜的制備方法有濕法(溶液法)或干法(真空沉積、球磨壓片)等。
絕大部分熱電薄膜對基底沒有選擇性,即在塑料、玻璃以及硅片上用同種方法制備的熱電薄膜熱電性能一致。
即使有部分報道顯示,在硅上制備的熱電薄膜,其熱電性能較塊體或粉末有較大幅度的提升,但未與其他基底制備的薄膜進行比較。
如何獲得晶格取向的熱電薄膜是本領域的技術難題。本領域的經驗常識是晶格匹配度高,制備的熱電薄膜的晶格取向就好,則熱電薄膜的性能就高。
但上述經驗不具有普適性,在塑料、玻璃、單晶硅、云母片上制備的Ag 摻雜ZnSb基熱電薄膜,其熱電性能與文獻報道一致(中國有色金屬學報,2019,29: 312)。塑料、玻璃、是無定形材料,單晶硅、云母片的晶格常數分別為0.54nm、0.53nm。一種新材料在制備之前,無法知曉其晶格常數,即使通過現有理論估算其晶格常數,往往也不準確。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于太倉碧奇新材料研發有限公司,未經太倉碧奇新材料研發有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010862797.1/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類





