[發(fā)明專利]涂層導(dǎo)體金屬基帶表面缺陷的動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)裝置及檢測(cè)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010861680.1
• 申請(qǐng)日: 2020-08-25
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111982919A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-11-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 汪洋;豆文芝;蔡傳兵;菅洪彬;王濤
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海上創(chuàng)超導(dǎo)科技有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/88
• 分類號(hào): G01N21/88
• 代理公司: 上海浦東良風(fēng)專利代理有限責(zé)任公司 31113
• 代理人: 張勁風(fēng)

本發(fā)明提供了一種金屬基帶表面缺陷動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)裝置及檢測(cè)方法，主要解決現(xiàn)有裝置和方法只能通過(guò)單個(gè)的點(diǎn)測(cè)試來(lái)描述長(zhǎng)帶且僅采用灰度檢測(cè)不能對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行等級(jí)分類的技術(shù)問(wèn)題。本發(fā)明動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)裝置，包括生產(chǎn)線繞帶裝置，在金屬基帶上方設(shè)有上表面檢測(cè)橋架及照明裝置，在金屬基帶下方設(shè)有下表面檢測(cè)橋架及照明裝置，生產(chǎn)線繞帶裝置、上表面檢測(cè)橋架及照明裝置、下表面檢測(cè)橋架及照明裝置分別將生產(chǎn)信號(hào)和圖像及控制信號(hào)通過(guò)線纜傳送給計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，計(jì)算機(jī)系統(tǒng)在線分析產(chǎn)品表面圖像的各種特征，實(shí)現(xiàn)對(duì)表面缺陷的定位、檢測(cè)、測(cè)量，然后將數(shù)據(jù)通過(guò)網(wǎng)絡(luò)傳送給報(bào)警監(jiān)控計(jì)算機(jī)，輸出各種即時(shí)和延遲信號(hào)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及高溫超導(dǎo)涂層導(dǎo)體表面缺陷的檢測(cè)裝置及方法，特別涉及一種涂層導(dǎo)體金屬基帶表面的動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)裝置及檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

基于REBa₂Cu₃O_(7-δ)(REBCO, RE=Y,Gd,Dy等稀土元素)超導(dǎo)體的第二代高溫超導(dǎo)帶材是一種新型電力材料，相比第一代Bi-2223和Bi-2212超導(dǎo)帶材/線材，具備更高的不可逆場(chǎng)、更高的超導(dǎo)轉(zhuǎn)變溫度和更高的臨界電流密度，能夠在較高的溫度（液氮溫區(qū)）和磁場(chǎng)環(huán)境下應(yīng)用，它是世界各國(guó)在高溫超導(dǎo)領(lǐng)域研發(fā)的焦點(diǎn)。它的典型結(jié)構(gòu)分為：金屬基帶、緩沖層、超導(dǎo)層及保護(hù)層，金屬基帶對(duì)整個(gè)超導(dǎo)帶材起主要的支撐作用，要求具有高的抗氧化性、較低的磁性和良好的機(jī)械性能，同時(shí)還要求具有與緩沖層及超導(dǎo)層相近的熱膨脹系數(shù)。由于要在金屬基帶上直接生長(zhǎng)緩沖層，要求基帶表面粗糙度小，無(wú)顆粒、油漬、劃痕等缺陷。通常的檢測(cè)是采取抽樣的形式，截取長(zhǎng)帶中的某一段進(jìn)行表面缺陷分析，通過(guò)測(cè)量少數(shù)點(diǎn)的特征來(lái)描述整條長(zhǎng)帶，無(wú)法針對(duì)長(zhǎng)帶進(jìn)行連續(xù)化的表面缺陷監(jiān)測(cè)，從實(shí)際上描述長(zhǎng)帶的特征，尤其是沿長(zhǎng)度方向的表面均勻性和一致性。本發(fā)明的目的在于提供一種動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)裝置及方法，可實(shí)時(shí)在線監(jiān)控長(zhǎng)帶的表面缺陷情況，并及時(shí)反饋給現(xiàn)場(chǎng)操作人員，提高超導(dǎo)帶材長(zhǎng)帶的生產(chǎn)效率和質(zhì)量。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是在于提供一種金屬基帶表面缺陷動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)裝置及檢測(cè)方法，主要解決現(xiàn)有裝置和方法只能通過(guò)單個(gè)的點(diǎn)測(cè)試來(lái)描述長(zhǎng)帶且僅采用灰度檢測(cè)不能對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行等級(jí)分類的技術(shù)問(wèn)題。

本發(fā)明的技術(shù)方案為：一種涂層導(dǎo)體金屬基帶表面缺陷的動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)裝置，包括生產(chǎn)線繞帶裝置，在金屬基帶上方設(shè)有上表面檢測(cè)橋架及照明裝置，在金屬基帶下方設(shè)有下表面檢測(cè)橋架及照明裝置，生產(chǎn)線繞帶裝置、上表面檢測(cè)橋架及照明裝置、下表面檢測(cè)橋架及照明裝置分別將生產(chǎn)信號(hào)和圖像及控制信號(hào)通過(guò)線纜傳送給計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，計(jì)算機(jī)系統(tǒng)在線分析產(chǎn)品表面圖像的各種特征，實(shí)現(xiàn)對(duì)表面缺陷的定位、檢測(cè)、測(cè)量，然后將數(shù)據(jù)通過(guò)網(wǎng)絡(luò)傳送給報(bào)警監(jiān)控計(jì)算機(jī)，輸出各種即時(shí)和延遲信號(hào)。

所述上表面檢測(cè)橋架和下表面檢測(cè)橋架均安裝有陣線相機(jī)，陣線相機(jī)距金屬基帶為10mm左右。

一種涂層導(dǎo)體金屬基帶表面缺陷的動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)裝置的檢測(cè)方法，具體包括：

（1）設(shè)定生產(chǎn)線繞帶系統(tǒng)參數(shù)；

（2）設(shè)定監(jiān)測(cè)系統(tǒng)參數(shù)；

（3）檢測(cè)系統(tǒng)主機(jī)通過(guò)預(yù)先設(shè)定的監(jiān)測(cè)系統(tǒng)參數(shù)（如麻點(diǎn)、劃痕、水漬、折痕等參數(shù)）與實(shí)際帶材表面參數(shù)進(jìn)行對(duì)比并記錄，系統(tǒng)在線分析產(chǎn)品表面圖像的各種特征、面積大小、位置高低，實(shí)現(xiàn)對(duì)表面缺陷的定位、檢測(cè)、測(cè)量和分類，形成表面質(zhì)量統(tǒng)計(jì)圖；

（4）監(jiān)測(cè)裝置將缺陷圖片和相關(guān)信息實(shí)時(shí)顯示于屏幕，并保存于數(shù)據(jù)庫(kù)。每當(dāng)檢測(cè)到缺陷，系統(tǒng)輸出各種即時(shí)和延遲信號(hào)，比如報(bào)警、貼標(biāo)、分揀等；

（5）長(zhǎng)帶產(chǎn)品檢測(cè)結(jié)束后，系統(tǒng)產(chǎn)生整條長(zhǎng)帶產(chǎn)品的質(zhì)量檢測(cè)報(bào)告。