[發明專利]涂層導體金屬基帶表面缺陷的動態監測裝置及檢測方法

在審

• 申請號: 202010861680.1
• 申請日: 2020-08-25
• 公開（公告）號: CN111982919A
• 公開（公告）日: 2020-11-24
• 發明（設計）人: 汪洋;豆文芝;蔡傳兵;菅洪彬;王濤
• 申請（專利權）人: 上海上創超導科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 上海浦東良風專利代理有限責任公司 31113
• 代理人: 張勁風

1.一種涂層導體金屬基帶表面缺陷的動態監測裝置，包括生產線繞帶裝置，其特征是：在金屬基帶上方設有上表面檢測橋架及照明裝置，在金屬基帶下方設有下表面檢測橋架及照明裝置，生產線繞帶裝置、上表面檢測橋架及照明裝置、下表面檢測橋架及照明裝置分別將生產信號和圖像及控制信號通過線纜傳送給計算機系統，計算機系統在線分析產品表面圖像的各種特征，實現對表面缺陷的定位、檢測、測量，然后將數據通過網絡傳送給報警監控計算機，輸出各種即時和延遲信號。

2.根據權利要求1所述的涂層導體金屬基帶表面缺陷的動態監測裝置，其特征是：所述上表面檢測橋架和下表面檢測橋架均安裝有陣線相機，陣線相機距金屬基帶為10mm。

3.一種涂層導體金屬基帶表面缺陷的動態監測裝置的檢測方法，其特征是：包括以下步驟：

（1）設定生產線繞帶系統參數；

（2）設定監測系統參數；

（3）檢測系統主機通過預先設定的監測系統參數與實際帶材表面參數進行對比并記錄，系統在線分析產品表面圖像的各種特征、面積大小、位置高低，實現對表面缺陷的定位、檢測、測量和分類，形成表面質量統計圖；

（4）監測裝置將缺陷圖片和相關信息實時顯示于屏幕，并保存于數據庫；

（5）長帶產品檢測結束后，系統產生整條長帶產品的質量檢測報告。

4.根據權利要求3所述的涂層導體金屬基帶表面缺陷的動態監測裝置的檢測方法，其特征是：所述步驟（4）每當檢測到缺陷，系統輸出各種報警、貼標、分揀類即時和延遲信號。