[發明專利]智能等離子裝備及其控制方法

在審

• 申請號: 202010861430.8
• 申請日: 2020-08-24
• 公開（公告）號: CN112004303A
• 公開（公告）日: 2020-11-27
• 發明（設計）人: 徐玄;程先英;徐昊擎
• 申請（專利權）人: 深圳市昊擎科技有限公司
• 主分類號: H05H1/00
• 分類號: H05H1/00;H05H1/24;G06T7/20;G06T7/223
• 代理公司: 深圳市恒程創新知識產權代理有限公司 44542
• 代理人: 張小容

本發明公開一種智能等離子裝備及其控制方法，一種智能等離子裝備的控制方法包括：智能等離子裝備按照預設圖形軌跡對待處理物體表面進行等離子發射；獲取對待處理物體表面進行等離子發射后形成的圖形軌跡；當圖形軌跡與預設圖形軌跡匹配時，則關閉等離子發射組件；當圖形軌跡與預設圖形軌跡不匹配時，則篩選出圖形軌跡中不匹配軌跡，并重新對不匹配軌跡進行等離子發射。上述方案用于提高經智能等離子裝備等離子處理后的產品的合格率。

技術領域

本發明涉及等離子發射器的技術領域，特別涉及智能等離子裝備及其控制方法。

背景技術

智能等離子裝備的主要工作原理是將低電壓通過升壓電路升至正高壓及負高壓，利用正高壓及負高壓電離空氣(主要是氧氣)產生大量的正離子及等離子，等離子的數量大于正離子的數量(等離子的數量大約為正離子數量的1.5 倍)。

現有智能等離子裝備一般分為冷等離子和熱等離子，熱等離子通常用于等離子發射、等離子焊接；而冷等離子一般用于表面清洗、醫療美容、化學催化等領域。當智能等離子裝備用于需要等離子處理的場合時，容易因為處理路徑的差異化導致經智能等離子裝備處理后的產品合格率較低。

發明內容

本發明的主要目的是提出一種智能等離子裝備，旨在提高經智能等離子裝備等離子處理后的產品的合格率。

為實現上述目的，本發明提出一種智能等離子裝備的控制方法，所述智能等離子裝備的控制方法包括：

智能等離子裝備按照預設圖形軌跡對待處理物體表面進行等離子發射；

獲取對待處理物體表面進行等離子發射后形成的圖形軌跡；

當所述圖形軌跡與預設圖形軌跡匹配時，則關閉等離子發射組件；

當所述圖形軌跡與預設圖形軌跡不匹配時，則篩選出所述圖形軌跡中不匹配軌跡，并重新對不匹配軌跡進行等離子發射。

可選地，所述獲取對待處理物體表面進行等離子發射后的圖形軌跡的步驟包括：

獲取對待處理物體表面的多個位置進行等離子發射后形成的對應的多個圖形區域，以及在每個位置停留的時間建立所述圖形軌跡。

可選地，在所述獲取實時處理軌跡圖的步驟之前還包括：

等離子設備獲取其出射孔與待處理物體表面的實時距離；

獲取待處理物體表面的粗糙度；

根據等離子設備的出射孔與待處理物體表面的實時距離以及待處理物體表面的粗糙度建立所述預設圖形軌跡。

可選地，所述預設圖形軌跡包括運動軌跡和圖像灰度，所述圖像灰度為等離子設備對當前圖像區域進行等離子發射的發射時間，所述發射時間與所述實時距離呈正比。

可選地，所述智能等離子裝備按照預設圖形軌跡對待處理物體表面進行等離子發射時，所述方法還包括步驟：

獲取對待處理物體表面的多個位置進行等離子發射時等離子流體的溫度，并實時顯示；

在智能等離子裝備按照預設圖形軌跡對待處理物體表面進行等離子發射后，根據獲取的多個溫度對應所述圖形軌跡建立等離子流體的溫度分布圖。

可選地，所述圖形軌跡包括運動軌跡和圖像灰度。

可選地，所述智能等離子裝備的控制方法還包括：

建立圖形軌跡中運動軌跡和圖像灰度的權重值模型；

根據所述權重值模型確定所述運動軌跡和所述圖像灰度的加權平均數值，當所述加權平均數值達到預設加權平均數值時，確定所述圖形軌跡與預設圖形軌跡匹配；