[發明專利]一種單基準定位全浮動式PCB功能測試結構

有效

• 申請號: 202010856910.5
• 申請日: 2020-08-24
• 公開（公告）號: CN111856252B
• 公開（公告）日: 2022-05-27
• 發明（設計）人: 莫宗杰;楊興華;李靈靈;曾紅欽;黃奕鴻
• 申請（專利權）人: 珠海市精實測控技術有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京精金石知識產權代理有限公司 11470
• 代理人: 張黎

本發明公開了一種單基準定位全浮動式PCB功能測試結構，包括：壓板模組、載板模組、中框板模組、針板模組、驅動模組、底板；所述底板上表面安裝所述驅動模組，所述驅動模組還包括水平驅動模組和垂直驅動模組；所述垂直驅動模組活動端連接所述壓板模組；所述水平驅動模組活動端連接所述中框模組，所述中框模組下表面安裝有所述針板模組，所述中框模組上表面安裝有所述載板模組；本發明優點在于載板模組、針板模組、壓板模組三大模組具有單一基準定位，形成公差鏈閉環，提高探針定位精度；浮動式結構使針板模組與中框板之間形成彈性力傳導，避免硬性力傳導產生的瞬間沖量震動，提高探針接觸穩定性，降低探針損傷風險。

技術領域

本發明涉及PCB板測試裝置技術領域，尤其涉及一種單基準定位全浮動式PCB功能測試結構。

背景技術

隨著電子產品技術飛速發展，及其制程效率、良率的要求日益提高，電子產業在提高電子產品制程效率的同時，也逐步開始加強對于產品功能測試設備的研制和優化。其中，對于電子產品主板功能測試的需求最為急切。目前，夾具結構運用比較廣泛，但一直存在以下缺點：

1、傳統測試夾具采用多層基準定位，模組間公差層級多，存在累積公差風險。

2、傳統測試夾具針板模組采用固定式結構，針板模組與中框板之間形成硬性力傳導，壓板模組下壓過程中會造成瞬間沖量震動，影響探針接觸穩定性，增大探針損傷風險，且針板模組在壓板模組下壓力作用下，使中框板中心區域產生加大變形，還影響測試穩定性。

中國專利CN206281949U公開了一種ICT針床測試架，包括底座，在底座上固定有安裝座，安裝座通過彈性支撐柱固定有載板，在安裝座上還設置有探針，該探針設于載板與安裝座之間，底座還通過支撐板安裝有測試箱，在測試箱上安裝有驅動裝置，該驅動裝置的下方固定有安裝板，安裝板位于載板的正上方，在安裝板的下方固定有多個壓頭，當驅動裝置下沉時，壓頭與待測試PCB板接觸，探針與待測試PCB板的針腳相接觸。上述技術方案通過減震彈簧結構，緩解了探針沖擊，但是并未解決公差累計的情況。

中國專利CN210270075U公開了一種防盜器電路板測試儀，包括包括底座和固定連接在底座后側上端的支撐板，支撐板靠近上端的兩側側壁均通過多個安裝螺釘固定安裝有固定板，兩個固定板上均固定連接有L形架，L形架靠近下端側壁上固定連接有導向套，L形架的頂端固定連接有驅動缸，驅動缸的伸縮端貫穿導向套并固定連接有壓板，壓板的下端四角均設有壓針。上述技術方案雖然采用了定位及緩沖結構，但是其缺少待測電路板進出結構，還需進一步提高效率。

發明內容

有鑒于此，本發明提供一種單基準定位全浮動式PCB功能測試結構，能夠解決上述問題。

為此目的，本發明由如下技術方案實施。

一種單基準定位全浮動式PCB功能測試結構，其特征在于，包括：壓板模組、載板模組、中框板模組、針板模組、驅動模組、底板；

所述底板上表面安裝所述驅動模組，所述驅動模組還包括水平驅動模組和垂直驅動模組；

所述垂直驅動模組活動端連接所述壓板模組；所述水平驅動模組活動端連接所述中框板模組，所述中框板模組下表面安裝有所述針板模組，所述中框板模組上表面安裝有所述載板模組；所述壓板模組位于所述載板模組的上方；

所述壓板模組還包括翻蓋壓板、浮動壓板、壓板導向柱、壓塊；所述翻蓋壓板與所述垂直驅動模組活動端連接，并在所述翻蓋壓板下方浮動連接所述浮動壓板，所述浮動壓板下表面邊角處安裝有至少一個所述壓板導向柱；所述浮動壓板的下表面中心處安裝有所述壓塊；

所述載板模組下方浮動連接所述中框板模組；