[發(fā)明專利]電機(jī)繞組的劣化度檢測(cè)方法、裝置、檢測(cè)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010852069.2
• 申請(qǐng)日: 2020-08-21
• 公開（公告）號(hào): CN112067992B
• 公開（公告）日: 2023-09-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 尤昕宇;丁穎;焦楊;王洪昆;王文剛;邊志宏;王蒙;王萌;馬瑞峰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 神華鐵路裝備有限責(zé)任公司
• 主分類號(hào): G01R31/34
• 分類號(hào): G01R31/34;G01R31/00;G01R23/16
• 代理公司: 華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 鄭小粵

本申請(qǐng)涉及一種電機(jī)繞組的劣化度檢測(cè)方法、裝置、檢測(cè)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。其中，電機(jī)繞組的劣化度檢測(cè)方法，包括步驟獲取待測(cè)電機(jī)繞組在各預(yù)設(shè)測(cè)試頻率下的LCR參數(shù)；根據(jù)各LCR參數(shù)以及對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)測(cè)試頻率，生成頻譜特性曲線；提取頻譜特性曲線中預(yù)設(shè)頻段的曲線，并根據(jù)預(yù)設(shè)頻段的曲線獲取最大參數(shù)值；處理最大參數(shù)值以及預(yù)設(shè)參考值，得到待測(cè)電機(jī)繞組的劣化度。該方法彌補(bǔ)了直流牽引電機(jī)繞組劣化度檢測(cè)方法的空缺。相對(duì)于傳統(tǒng)測(cè)試手段，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)電機(jī)繞組劣化度的無損測(cè)量；此方法相比單一頻率下的介電參數(shù)測(cè)試法包含更多信息。同時(shí)，根據(jù)LCR頻譜特性分析，能夠完善牽引電機(jī)繞組劣化度的數(shù)據(jù)評(píng)估體系，可以對(duì)機(jī)車大修規(guī)程的優(yōu)化提供參考。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及電機(jī)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種電機(jī)繞組的劣化度檢測(cè)方法、裝置、檢測(cè)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

直流牽引電機(jī)是高速重載列車的核心設(shè)備，其絕緣性能優(yōu)劣影響著列車安全穩(wěn)定運(yùn)行。在牽引電機(jī)運(yùn)行過程中，其繞組長期受到溫度、電場(chǎng)等多因素的影響，導(dǎo)致其絕緣狀態(tài)和劣化程度不斷變化，威脅列車安全穩(wěn)定運(yùn)行，因此在牽引電機(jī)運(yùn)行過程中需對(duì)其繞組進(jìn)行預(yù)防性試驗(yàn)。

在實(shí)現(xiàn)過程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)傳統(tǒng)技術(shù)中至少存在如下問題：傳統(tǒng)預(yù)防性試驗(yàn)具有破壞性。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，有必要針對(duì)上述技術(shù)問題，提供一種能夠無損檢測(cè)的電機(jī)繞組的劣化度檢測(cè)方法、裝置、檢測(cè)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電機(jī)繞組的劣化度檢測(cè)方法，包括步驟：

獲取待測(cè)電機(jī)繞組在各預(yù)設(shè)測(cè)試頻率下的LCR參數(shù)；

根據(jù)各LCR參數(shù)以及對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)測(cè)試頻率，生成頻譜特性曲線；

提取頻譜特性曲線中預(yù)設(shè)頻段的曲線，并根據(jù)預(yù)設(shè)頻段的曲線獲取最大參數(shù)值；

處理最大參數(shù)值以及預(yù)設(shè)參考值，得到待測(cè)電機(jī)繞組的劣化度。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，還包括步驟：

獲取新機(jī)在各預(yù)設(shè)測(cè)試頻率下的空白LCR參數(shù)；

根據(jù)各空白LCR參數(shù)以及對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)測(cè)試頻率，生成空白頻譜特性曲線；

提取空白頻譜特性曲線中預(yù)設(shè)頻段的空白曲線，并根據(jù)空白曲線獲取預(yù)設(shè)參考值。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，獲取待測(cè)電機(jī)繞組在各預(yù)設(shè)測(cè)試頻率下的LCR參數(shù)的步驟包括：

向LCR測(cè)量儀輸出指令；指令用于指示LCR測(cè)量儀根據(jù)各預(yù)設(shè)測(cè)試頻率設(shè)置輸出頻率，并在設(shè)置完成后分別獲取各預(yù)設(shè)測(cè)試頻率對(duì)應(yīng)的LCR參數(shù)。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，處理最大參數(shù)值以及預(yù)設(shè)參考值，得到待測(cè)電機(jī)繞組的劣化度的步驟中，基于以下公式得到劣化度：

其中DD為劣化度；Z_max為最大參數(shù)值；Z_0max為預(yù)設(shè)參考值。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，LCR參數(shù)包括以下參數(shù)的任意一種或任意組合：電感、電容、電阻、相角、損耗和阻抗。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，各預(yù)設(shè)測(cè)試頻率落入20Hz至10MHz的區(qū)間內(nèi)。

一方面，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種電機(jī)繞組的劣化度檢測(cè)裝置，包括：

獲取模塊，用于獲取待測(cè)電機(jī)繞組在各預(yù)設(shè)測(cè)試頻率下的LCR參數(shù)；

曲線生成模塊，用于根據(jù)各LCR參數(shù)以及對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)測(cè)試頻率，生成頻譜特性曲線；

提取模塊，用于提取頻譜特性曲線中預(yù)設(shè)頻段的曲線，并根據(jù)預(yù)設(shè)頻段的曲線獲取最大參數(shù)值；