[發(fā)明專(zhuān)利]電機(jī)繞組的劣化度檢測(cè)方法、裝置、檢測(cè)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010852069.2
• 申請(qǐng)日: 2020-08-21
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112067992B
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-09-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 尤昕宇;丁穎;焦楊;王洪昆;王文剛;邊志宏;王蒙;王萌;馬瑞峰
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 神華鐵路裝備有限責(zé)任公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/34
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/34;G01R31/00;G01R23/16
• 代理公司: 華進(jìn)聯(lián)合專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 鄭小粵

1.一種電機(jī)繞組的劣化度檢測(cè)方法，其特征在于，包括步驟：

獲取待測(cè)電機(jī)繞組在各預(yù)設(shè)測(cè)試頻率下的LCR參數(shù)；

根據(jù)各所述LCR參數(shù)以及對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)測(cè)試頻率，生成頻譜特性曲線(xiàn)；

提取所述頻譜特性曲線(xiàn)中預(yù)設(shè)頻段的曲線(xiàn)，并根據(jù)所述預(yù)設(shè)頻段的曲線(xiàn)獲取最大參數(shù)值；

處理所述最大參數(shù)值以及預(yù)設(shè)參考值，得到所述待測(cè)電機(jī)繞組的劣化度；

所述提取所述頻譜特性曲線(xiàn)中預(yù)設(shè)頻段的曲線(xiàn)，并根據(jù)所述預(yù)設(shè)頻段的曲線(xiàn)獲取最大參數(shù)值包括：根據(jù)各頻譜特性曲線(xiàn)，獲取包含特征信息最多的特定頻譜特性曲線(xiàn)，提取所述特定頻譜特性曲線(xiàn)中的預(yù)設(shè)頻段的曲線(xiàn)，并根據(jù)預(yù)設(shè)頻段的曲線(xiàn)獲取最大參數(shù)值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電機(jī)繞組的劣化度檢測(cè)方法，其特征在于，還包括步驟：

獲取新機(jī)在各所述預(yù)設(shè)測(cè)試頻率下的空白LCR參數(shù)；

根據(jù)各所述空白LCR參數(shù)以及對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)測(cè)試頻率，生成空白頻譜特性曲線(xiàn)；

提取所述空白頻譜特性曲線(xiàn)中所述預(yù)設(shè)頻段的空白曲線(xiàn)，并根據(jù)所述空白曲線(xiàn)獲取所述預(yù)設(shè)參考值。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電機(jī)繞組的劣化度檢測(cè)方法，其特征在于，獲取待測(cè)電機(jī)繞組在各預(yù)設(shè)測(cè)試頻率下的LCR參數(shù)的步驟包括：

向LCR測(cè)量?jī)x輸出指令；所述指令用于指示所述LCR測(cè)量?jī)x根據(jù)各所述預(yù)設(shè)測(cè)試頻率設(shè)置輸出頻率，并在設(shè)置完成后分別獲取各所述預(yù)設(shè)測(cè)試頻率對(duì)應(yīng)的所述LCR參數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電機(jī)繞組的劣化度檢測(cè)方法，其特征在于，處理所述最大參數(shù)值以及預(yù)設(shè)參考值，得到所述待測(cè)電機(jī)繞組的劣化度的步驟中，基于以下公式得到所述劣化度：

其中DD為所述劣化度；Z_max為所述最大參數(shù)值；Z_0max為所述預(yù)設(shè)參考值。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電機(jī)繞組的劣化度檢測(cè)方法，其特征在于，所述LCR參數(shù)包括以下參數(shù)的任意一種或任意組合：電感、電容、電阻、相角、損耗和阻抗。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電機(jī)繞組的劣化度檢測(cè)方法，各預(yù)設(shè)測(cè)試頻率落入20Hz至10MHz的區(qū)間內(nèi)。

7.一種電機(jī)繞組的劣化度檢測(cè)裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取待測(cè)電機(jī)繞組在各預(yù)設(shè)測(cè)試頻率下的LCR參數(shù)；

曲線(xiàn)生成模塊，用于根據(jù)各所述LCR參數(shù)以及對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)測(cè)試頻率，生成頻譜特性曲線(xiàn)；

提取模塊，用于提取所述頻譜特性曲線(xiàn)中預(yù)設(shè)頻段的曲線(xiàn)，并根據(jù)所述預(yù)設(shè)頻段的曲線(xiàn)獲取最大參數(shù)值；

劣化度生成模塊，用于處理所述最大參數(shù)值以及預(yù)設(shè)參考值，得到所述待測(cè)電機(jī)繞組的劣化度；

所述提取模塊具體用于根據(jù)各頻譜特性曲線(xiàn)，獲取包含特征信息最多的特定頻譜特性曲線(xiàn)，提取所述特定頻譜特性曲線(xiàn)中的預(yù)設(shè)頻段的曲線(xiàn)，并根據(jù)預(yù)設(shè)頻段的曲線(xiàn)獲取最大參數(shù)值。

8.一種電機(jī)繞組的劣化度檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，包括用于檢測(cè)待測(cè)電機(jī)繞組的LCR測(cè)量?jī)x、處理器和存儲(chǔ)器；所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序；所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述方法的步驟。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的電機(jī)繞組的劣化度檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，還包括用于容納待測(cè)電機(jī)繞組的試驗(yàn)箱、用于檢測(cè)所述試驗(yàn)箱內(nèi)部溫度的溫度傳感器和用于檢測(cè)所述試驗(yàn)箱內(nèi)部濕度的濕度傳感器。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的方法的步驟。