[發明專利]一種跨溫區高電壓干式套管的測試方法、裝置及終端設備

有效

• 申請號: 202010850233.6
• 申請日: 2020-08-21
• 公開（公告）號: CN111982735B
• 公開（公告）日: 2023-05-23
• 發明（設計）人: 宋萌;鐘連宏;段新輝;李力;程文鋒;夏亞君;趙兵;賴楷文;史正軍;梁飛;王偉
• 申請（專利權）人: 廣東電網有限責任公司電力科學研究院
• 主分類號: G01N3/60
• 分類號: G01N3/60;G01N17/00;G01R27/26;G01R31/12
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 楊小紅

1.一種跨溫區高電壓干式套管的測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1.獲取待測試的套管樣件，對所述套管樣件進行常規測試，測試合格的所述套管樣件執行步驟S2；

S2.對所述套管樣件進行N次的冷熱循環測試，測試合格的所述套管樣件執行步驟S3；

S3.對所述套管樣件再次進行常規測試，測試合格的所述套管樣件為合格產品；

其中，所述常規測試包括介損、電容、局放、雷電沖擊、操作沖擊和直流耐壓；

在步驟S2中，對所述套管樣件進行N次的冷熱循環測試的步驟具體包括：

S21.將所述套管樣件的均壓球這端放置在裝有液氮的容器中浸泡M個小時后，待所述套管樣件的均壓球這端完全冷卻后，執行步驟S22；

S22.對所述套管樣件進行介損與電容測試，測試合格的所述套管樣件執行步驟S23；

S23.將所述套管樣件從所述容器取出在室溫環境中靜置M個小時后，待所述套管樣件的溫度恢復至室溫，再次將所述套管樣件按照步驟S21至步驟S23執行N次。

2.根據權利要求1所述的跨溫區高電壓干式套管的測試方法，其特征在于，在步驟S22中，對所述套管樣件進行10KV的介損與電容測試。

3.根據權利要求1所述的跨溫區高電壓干式套管的測試方法，其特征在于，所述容器中液氮的溫度是-196℃。

4.根據權利要求1所述的跨溫區高電壓干式套管的測試方法，其特征在于，所述室溫環境的溫度是0℃~25℃。

5.根據權利要求1所述的跨溫區高電壓干式套管的測試方法，其特征在于，在步驟S2中，對所述套管樣件進行5~10次的冷熱循環測試。

6.一種跨溫區高電壓干式套管的測試裝置，其特征在于，包括第一常規測試模塊、冷熱循環測試模塊和第二常規測試模塊；

所述第一常規測試模塊，用于獲取待測試的套管樣件，對所述套管樣件進行常規測試；

所述冷熱循環測試模塊，用于對所述第一常規測試模塊測試合格的所述套管樣件進行N次的冷熱循環測試；

所述第二常規測試模塊，用于對所述冷熱循環測試模塊測試合格的所述套管樣件再次進行常規測試，測試合格的所述套管樣件為合格產品；

其中，所述常規測試包括介損、電容、局放、雷電沖擊、操作沖擊和直流耐壓；

所述冷熱循環測試模塊包括低溫測試子模塊、介損與電容測試子模塊和室溫測試子模塊；

所述低溫測試子模塊，用于將所述套管樣件的均壓球這端放置在裝有液氮的容器中浸泡M個小時；

所述介損與電容測試子模塊，用于對所述低溫測試子模塊中冷卻后的所述套管樣件進行介損與電容測試；

所述室溫測試子模塊，用于根據所述介損與電容測試子模塊測試合格的所述套管樣件從所述容器取出在室溫環境中靜置M個小時。

7.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質用于存儲計算機指令，當其在計算機上運行時，使得計算機執行如權利要求1-5任意一項所述的跨溫區高電壓干式套管的測試方法。

8.一種終端設備，其特征在于，包括處理器以及存儲器；

所述存儲器，用于存儲程序代碼，并將所述程序代碼傳輸給所述處理器；

所述處理器，用于根據所述程序代碼中的指令執行如權利要求1-5任意一項所述的跨溫區高電壓干式套管的測試方法。