[發(fā)明專利]一種跨溫區(qū)高電壓干式套管的測試方法、裝置及終端設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010850233.6
• 申請日: 2020-08-21
• 公開（公告）號: CN111982735B
• 公開（公告）日: 2023-05-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 宋萌;鐘連宏;段新輝;李力;程文鋒;夏亞君;趙兵;賴楷文;史正軍;梁飛;王偉
• 申請（專利權(quán)）人: 廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院
• 主分類號: G01N3/60
• 分類號: G01N3/60;G01N17/00;G01R27/26;G01R31/12
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 楊小紅

本發(fā)明實施例涉及一種跨溫區(qū)高電壓干式套管的測試方法、裝置及終端設(shè)備，包括以下步驟：S1.獲取待測試的套管樣件，對套管樣件進行常規(guī)測試，測試合格的套管樣件執(zhí)行步驟S2；S2.對套管樣件進行N次的冷熱循環(huán)測試，測試合格的套管樣件執(zhí)行步驟S3；S3.對套管樣件再次進行常規(guī)測試，測試合格的套管樣件為合格產(chǎn)品。對套管產(chǎn)品采用該跨溫區(qū)高電壓干式套管的測試方法測試后合格的產(chǎn)品能在低溫條件下工作也不會失去套管的絕緣性能；解決了現(xiàn)有測試方法對套管測試合格的產(chǎn)品在低溫下工作會使得套管的絕緣被擊穿，而失去絕緣性能，導(dǎo)致電力設(shè)備上的套管失去作用，電力設(shè)備被損壞的技術(shù)問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種跨溫區(qū)高電壓干式套管的測試方法、裝置及終端設(shè)備。

背景技術(shù)

常規(guī)套管作為常規(guī)電力設(shè)備里面的一個重要組成部分，在超導(dǎo)電力設(shè)備中的套管是一個用于超導(dǎo)設(shè)備中的套管，超導(dǎo)電力設(shè)備主要包括了超導(dǎo)限流器、超導(dǎo)電纜、超導(dǎo)變壓器等設(shè)備。目前用于超導(dǎo)電力設(shè)備上的套管與常規(guī)套管最大的不一樣就是一端處于室溫，而另一端處于極低的溫度下，因此應(yīng)用于超導(dǎo)電力設(shè)備的套管的工作環(huán)境溫區(qū)跨度大，使得其加工與試驗的難度大大增加，對于常規(guī)套管適用的試驗方法，在低溫環(huán)境下將不再適用。

而目前對套管的測試主要針對的對象是常溫條件下工作的套管，此測試方法對于應(yīng)用于超導(dǎo)電力設(shè)備的套管不適用，采用現(xiàn)有測試方法合格的套管產(chǎn)品不能滿足低溫下的運行要求，如果采用現(xiàn)有測試方法合格的套管在低溫下工作會使得套管的絕緣被擊穿，而失去絕緣性能，導(dǎo)致電力設(shè)備上的套管失去作用，電力設(shè)備被損壞。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實施例提供了一種跨溫區(qū)高電壓干式套管的測試方法、裝置及終端設(shè)備，用于解決現(xiàn)有測試方法對套管測試合格的產(chǎn)品在低溫下工作會使得套管的絕緣被擊穿，而失去絕緣性能，導(dǎo)致電力設(shè)備上的套管失去作用，電力設(shè)備被損壞的技術(shù)問題。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實施例提供如下技術(shù)方案：

一種跨溫區(qū)高電壓干式套管的測試方法，包括以下步驟：

S1.獲取待測試的套管樣件，對所述套管樣件進行常規(guī)測試，測試合格的所述套管樣件執(zhí)行步驟S2；

S2.對所述套管樣件進行N次的冷熱循環(huán)測試，測試合格的所述套管樣件執(zhí)行步驟S3；

S3.對所述套管樣件再次進行常規(guī)測試，測試合格的所述套管樣件為合格產(chǎn)品；

其中，所述常規(guī)測試包括介損、電容、局放、雷電沖擊、操作沖擊和直流耐壓。

優(yōu)選地，在步驟S2中，對所述套管樣件進行N次的冷熱循環(huán)測試的步驟具體包括：

S21.將所述套管樣件的均壓球這端放置在裝有液氮的容器中浸泡M個小時后，待所述套管樣件的均壓球這端完全冷卻后，執(zhí)行步驟S22；

S22.對所述套管樣件進行介損與電容測試，測試合格的所述套管樣件執(zhí)行步驟S23；

S23.將所述套管樣件從所述容器取出在室溫環(huán)境中靜置M個小時后，待所述套管樣件的溫度恢復(fù)至室溫，再次將所述套管樣件按照步驟S21至步驟S23執(zhí)行N次。

優(yōu)選地，在步驟S22中，對所述套管樣件進行10KV的介損與電容測試。

優(yōu)選地，所述容器中液氮的溫度是-196℃。

優(yōu)選地，所述室溫環(huán)境的溫度是0℃~25℃。

優(yōu)選地，在步驟S2中，對所述套管樣件進行5~10次的冷熱循環(huán)測試。

本發(fā)明還提供一種跨溫區(qū)高電壓干式套管的測試裝置，包括第一常規(guī)測試模塊、冷熱循環(huán)測試模塊和第二常規(guī)測試模塊；

所述第一常規(guī)測試模塊，用于獲取待測試的套管樣件，對所述套管樣件進行常規(guī)測試；