[發明專利]掃描裝置和掃描的方法

在審

• 申請號: 202010847437.4
• 申請日: 2020-08-21
• 公開（公告）號: CN112762849A
• 公開（公告）日: 2021-05-07
• 發明（設計）人: D·I·巴倫蘇埃拉;E·M·里德
• 申請（專利權）人: 波音公司
• 主分類號: G01B11/14
• 分類號: G01B11/14
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245
• 代理人: 董巍

用于預測填隙的掃描裝置包括掃描平臺。掃描裝置還包括耦接到掃描平臺的第一掃描儀和耦接到掃描平臺的第二掃描儀。掃描平臺被配置為使第一掃描儀和第二掃描儀沿X軸線和Z軸線一起移動。掃描平臺還被配置為使第一掃描儀和第二掃描儀沿Y軸線和Z軸線彼此獨立并且相對于彼此移動。當第一掃描儀和第二掃描儀沿Y軸線在相反方向上移動時，第一掃描儀的第一視場和第二掃描儀的第二視場至少部分重疊。

技術領域

本公開總體上涉及制造，并且更具體地，涉及用于間隙的預測填隙(shimming)的掃描裝置和掃描方法。

背景技術

現代飛機可能需要定制墊片來填充由于制造公差而導致的機身結構部件之間的間隙。墊片用于消除間隙，保持結構性能并最小化下拉力。墊片的數量可能會在大型結構中迅速增加。當前，間隙填充過程涉及手動檢查以收集用于墊片制造的測量數據。在任何一種情況下，該過程可能導致制造周期的時間和成本的顯著增加。另外，由于要檢查的部件的尺寸，收集測量數據可能很麻煩。

發明內容

因此，旨在至少解決上述問題的裝置和方法將是實用的。以下是根據本公開的主題的示例的非窮舉性列表，其可以或可以不被要求保護。

在一個示例中，公開的掃描裝置包括掃描平臺。掃描裝置還包括耦接到掃描平臺的第一掃描儀和耦接到掃描平臺的第二掃描儀。掃描平臺被配置為使第一掃描儀和第二掃描儀沿X軸線和Z軸線一起移動。掃描平臺還被配置為沿Y軸線和Z軸線彼此獨立并且相對于彼此移動第一掃描儀和第二掃描儀。

在一個示例中，公開的掃描方法包括以下步驟：(1)將掃描平臺移動到相對于零件的掃描位置；(2)在掃描位置，使第一掃描儀和第二掃描儀沿X軸線相對于零件移動；(3)在第一掃描儀處于第一X位置的情況下，使第一掃描儀相對于零件沿Y軸線移動；(4)在第二掃描儀位于第二X位置的情況下，使第二掃描儀相對于零件沿Y軸線移動；(5)在移動第一掃描儀的同時，掃描零件的第一部分以形成第一掃描數據；以及(6)在移動第二掃描儀的同時，掃描零件的第二部分以形成第二掃描數據。由第一掃描儀掃描的零件的第一部分和由第二掃描儀掃描的零件的第二部分彼此部分重疊。第一掃描數據的第一子集和第二掃描數據的第二子集表示第一部分和第二部分的重疊。

根據以下詳細描述、附圖和所附權利要求，所公開的裝置、系統和方法的其他示例將變得顯而易見。

附圖說明

圖1是掃描裝置的示例的示意性框圖；

圖2是圖1的掃描裝置的示例的示意性立體圖；

圖3是圖1的掃描裝置的示例的示意性立體圖；

圖4是飛機的示例的示意圖；

圖5是使用圖1的掃描裝置進行掃描的零件的示例的示意圖；

圖6是使用圖1的掃描裝置進行掃描的零件的示例的示意圖；

圖7是圖1的掃描裝置的示例的示意性透視圖，該掃描裝置相對于該零件位于多個掃描位置之一處；

圖8是圖1的掃描裝置的示例的示意性透視圖；

圖9是圖1的掃描裝置的掃描儀的示例的示意性透視圖；

圖10是圖1的掃描裝置的一部分的示例的示意性透視圖；

圖11是圖1的掃描裝置的一部分的示例的示意性透視圖；

圖12是利用圖1的掃描裝置進行掃描的方法的一部分的示例的流程圖；

圖13是利用圖1的掃描裝置進行掃描的方法的一部分的示例的流程圖；

圖14是在圖12的方法的一部分期間圖1的掃描裝置的示例的示意圖；

圖15是圖13的方法的一部分的示意圖；