[發明專利]掃描裝置和掃描的方法

在審

• 申請號: 202010847437.4
• 申請日: 2020-08-21
• 公開（公告）號: CN112762849A
• 公開（公告）日: 2021-05-07
• 發明（設計）人: D·I·巴倫蘇埃拉;E·M·里德
• 申請（專利權）人: 波音公司
• 主分類號: G01B11/14
• 分類號: G01B11/14
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245
• 代理人: 董巍

1.一種用于預測填隙的掃描裝置(100)，包括：

掃描平臺(102)；

第一掃描儀(104)，以形成用于預測填隙的第一掃描數據(112)，所述第一掃描儀(104)被耦接到所述掃描平臺(102)；和

第二掃描儀(106)，以形成用于預測填隙的第二掃描數據(114)，所述第二掃描儀(106)被耦接到所述掃描平臺(102)，

其中，所述掃描平臺(102)被配置為：

使所述第一掃描儀(104)和所述第二掃描儀(106)沿X軸線和Z軸線一起移動；和

使所述第一掃描儀(104)和所述第二掃描儀(106)沿Y軸線彼此獨立且相對于彼此移動。

2.根據權利要求1所述的掃描裝置(100)，其中，所述掃描平臺(102)包括：

基座(136)；

滑架(138)，其被耦接到所述基座(136)并且沿所述X軸線相對于所述基座(136)可移動；

支撐梁(140)，其被耦接到所述滑架(138)，并且沿所述Z軸線相對于所述滑架(138)可移動；

第一臂(142)，其被耦接到所述支撐梁(140)，并且沿所述Y軸線相對于所述支撐梁(140)可移動，其中所述第一掃描儀(104)被耦接到所述第一臂(142)；和

第二臂(144)，其被耦接到所述支撐梁(140)并且相對于所述支撐梁(140)沿所述Y軸線可移動，其中所述第二掃描儀(106)被耦接到所述第二臂(144)。

3.根據權利要求2所述的掃描裝置(100)，其中：

所述第一臂(142)沿所述Z軸線相對于所述支撐梁(140)可移動；和

所述第二臂(144)沿所述Z軸線相對于所述支撐梁(140)可移動。

4.根據權利要求2-3中的任一項所述的掃描裝置(100)，其中：

所述第一掃描儀(104)具有第一視場(108)；

所述第二掃描儀(106)具有第二視場(110)；和

當所述第一臂(142)和所述第二臂(144)沿所述Y軸線在相反方向上移動時，所述第一視場(108)和所述第二視場(110)至少部分重疊。

5.根據權利要求2-3中的任一項所述的掃描裝置(100)，其中：

所述第一臂(142)和所述第二臂(144)沿所述Y軸線在相反方向上延伸；和

所述第一臂(142)和所述第二臂(144)彼此獨立且相對于彼此可移動。

6.根據權利要求2-3中的任一項所述的掃描裝置(100)，其中：

所述掃描平臺(102)還包括被耦接到所述基座(136)的多個輪組件(146)；

所述基座(136)可移動到零件(200)下方的多個掃描位置(192)，以相對于所述零件(200)的表面(202)定位所述第一掃描儀(104)和所述第二掃描儀(106)；和

其中，所述掃描平臺(102)進一步包括多個千斤頂(174)，所述多個千斤頂(174)被耦接到所述基座(136)并被配置為向所述基座(136)施加恒定的力(F)，以便所述基座(136)在所述多個掃描位置(192)中的每一個處保持可重復形狀。