[發明專利]一種基于互耦效應的二次雷達相控陣自動校準方法、裝置

有效

• 申請號: 202010846600.5
• 申請日: 2020-08-21
• 公開（公告）號: CN111983576B
• 公開（公告）日: 2022-04-19
• 發明（設計）人: 王世民;羅海;林洪彬;張宏達
• 申請（專利權）人: 四川九洲空管科技有限責任公司
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40
• 代理公司: 成都九鼎天元知識產權代理有限公司 51214
• 代理人: 胡川

本發明公開了一種基于互耦效應的二次雷達相控陣自動校準方法、裝置，該方法包括發射校準和接收校準，發射校準過程為由詢問通道分別發射測試信號，由控制通道對其進行接收。得到每個接收到的信號與發射源產生的標準信號之間的幅相差，然后以幅度最小的詢問通道為發射基準通道，調整其它詢問通道的幅度和相位。接收校準過程為由控制通道發射測試信號，由比較通道和其它詢問通道依次進行接收，計算每一詢問通道采集到的接收信號與比較通道采集到的接收信號之間的幅相差，選擇幅度最小的接收信號對應的詢問通道作為接收基準通道，調整其它詢問通道的幅度和相位。本發明能夠自動完成各射頻通道的發射校準和接收校準。

技術領域

本發明涉及天線校準技術領域，特別是涉及一種基于互耦效應的二次雷達相控陣自動校準方法、裝置。

背景技術

二次雷達相控陣系統在使用過程中由于器件老化、部件更換等原因造成各射頻通道之間的幅相特性發生變化，從而影響二次雷達相控陣系統的探測精度。因此需要定期對相控陣系統的射頻通道進行幅相校準，以確保其探測性能。

目前常用的校準方法需要額外的外場測量裝置，且操作復雜，需要維護人員具備一定的專業知識，不利于設備交付后的產品維護。

發明內容

本發明的目的在于提供一種基于互耦效應的二次雷達相控陣天線自動校準方法，能夠自動完成各射頻通道的發射校準和接收校準。

為解決上述技術問題，本發明采用的一個技術方案是：提供一種基于互耦效應的二次雷達相控陣自動校準方法，所述二次雷達相控陣天線具有1路控制通道和多路詢問通道，所述二次雷達相控陣天線自動校準方法包括以下步驟：

S1：接收發射校準指令或接收校準指令；

S2：根據所述發射校準指令對多路詢問通道進行發射校準或者根據所述接收校準指令對多路詢問通道進行接收校準；

其中，所述對多路詢問通道進行發射校準的步驟包括：

S11：將所述多路詢問通道按照第一順序進行排序；

S12：按照排序順序依次開啟詢問通道，并發射第一測試信號，同時控制控制通道進入接收模式，其中，當前詢問通道開啟時，其它詢問通道均關閉；

S13：計算所述控制通道采集到的每一個接收信號與發射源產生的標準信號之間的幅相差；

S14：選擇幅度最小的接收信號對應的詢問通道作為發射基準通道，根據其它詢問通道對應的幅相差調整每一詢問通道的幅度和相位，使每一詢問通道的幅度和相位與發射基準通道保持一致；

所述對多路詢問通道進行接收校準的步驟包括：

S21：將所述多路詢問通道按照第二順序進行排序，將排序第一的詢問通道作為比較通道；

S22：開啟控制通道，并發射第二測試信號，控制比較通道開啟并進入接收模式，同時按照排序順序從排序第二的詢問通道開始依次開啟詢問通道并進入接收模式，其中，當前詢問通道開啟時，除比較通道外，其它詢問通道均關閉；

S23：計算每一所述詢問通道采集到的接收信號與比較通道采集到的接收信號之間的幅相差；

S24：選擇幅度最小的接收信號對應的詢問通道作為接收基準通道，根據其它詢問通道對應的幅相差調整每一詢問通道的幅度和相位，使每一詢問通道的幅度和相位與接收基準通道保持一致。

優選的，所述第一順序與第二順序相同。

優選的，所述第一測試信號與第二測試信號相同。

為解決上述技術問題，本發明采用的另一個技術方案是：提供一種基于互耦效應的二次雷達相控陣自動校準裝置，所述二次雷達相控陣天線具有1路控制通道和多路詢問通道，所述二次雷達相控陣天線自動校準裝置包括指令接收模塊、發射校準模塊和接收校準模塊：