[發明專利]一種基于互耦效應的二次雷達相控陣自動校準方法、裝置

有效

• 申請號: 202010846600.5
• 申請日: 2020-08-21
• 公開（公告）號: CN111983576B
• 公開（公告）日: 2022-04-19
• 發明（設計）人: 王世民;羅海;林洪彬;張宏達
• 申請（專利權）人: 四川九洲空管科技有限責任公司
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40
• 代理公司: 成都九鼎天元知識產權代理有限公司 51214
• 代理人: 胡川

1.一種基于互耦效應的二次雷達相控陣自動校準方法，所述二次雷達相控陣天線具有1路控制通道和多路詢問通道，其特征在于，所述二次雷達相控陣天線自動校準方法包括以下步驟：

S1：接收發射校準指令或接收校準指令；

S2：根據所述發射校準指令對多路詢問通道進行發射校準或者根據所述接收校準指令對多路詢問通道進行接收校準；

其中，所述對多路詢問通道進行發射校準的步驟包括：

S11：將所述多路詢問通道按照第一順序進行排序；

S12：按照排序順序依次開啟詢問通道，并發射第一測試信號，同時控制控制通道進入接收模式，其中，當前詢問通道開啟時，其它詢問通道均關閉；

S13：計算所述控制通道采集到的每一個接收信號與發射源產生的標準信號之間的幅相差；

S14：選擇幅度最小的接收信號對應的詢問通道作為發射基準通道，根據其它詢問通道對應的幅相差調整每一詢問通道的幅度和相位，使每一詢問通道的幅度和相位與發射基準通道保持一致；

所述對多路詢問通道進行接收校準的步驟包括：

S21：將所述多路詢問通道按照第二順序進行排序，將排序第一的詢問通道作為比較通道；

S22：開啟控制通道，并發射第二測試信號，控制比較通道開啟并進入接收模式，同時按照排序順序從排序第二的詢問通道開始依次開啟詢問通道并進入接收模式，其中，當前詢問通道開啟時，除比較通道外，其它詢問通道均關閉；

S23：計算每一所述詢問通道采集到的接收信號與比較通道采集到的接收信號之間的幅相差；

S24：選擇幅度最小的接收信號對應的詢問通道作為接收基準通道，根據其它詢問通道對應的幅相差調整每一詢問通道的幅度和相位，使每一詢問通道的幅度和相位與接收基準通道保持一致。

2.根據權利要求1所述的二次雷達相控陣自動校準方法，其特征在于，所述第一順序與第二順序相同。

3.根據權利要求1所述的二次雷達相控陣自動校準方法，其特征在于，所述第一測試信號與第二測試信號相同。

4.一種基于互耦效應的二次雷達相控陣自動校準裝置，所述二次雷達相控陣天線具有1路控制通道和多路詢問通道，其特征在于，所述二次雷達相控陣天線自動校準裝置包括指令接收模塊、發射校準模塊和接收校準模塊：

所述指令接收模塊用于接收發射校準指令或接收校準指令；

所述發射校準模塊用于根據所述發射校準指令對多路詢問通道進行發射校準；

所述接收校準模塊用于根據所述接收校準指令對多路詢問通道進行接收校準；

其中，所述發射校準模塊包括第一排序單元、第一控制單元、第一計算單元和發射校準單元，所述接收校準模塊包括第二排序單元、第二控制單元、第二計算單元和接收校準單元；

所述第一排序單元用于將所述多路詢問通道按照第一順序進行排序；

所述第一控制單元用于按照排序順序依次開啟詢問通道，并發射第一測試信號，同時控制控制通道進入接收模式，其中，當前詢問通道開啟時，其它詢問通道均關閉；

所述第一計算單元用于計算所述控制通道采集到的每一個接收信號與發射源產生的標準信號之間的幅相差；

所述發射校準單元用于選擇幅度最小的接收信號對應的詢問通道作為發射基準通道，根據其它詢問通道對應的幅相差調整每一詢問通道的幅度和相位，使每一詢問通道的幅度和相位與發射基準通道保持一致；

所述第二排序單元用于將所述多路詢問通道按照第二順序進行排序，將排序第一的詢問通道作為比較通道；

所述第二控制單元用于開啟控制通道，并發射第二測試信號，控制比較通道開啟并進入接收模式，同時按照排序順序從排序第二的詢問通道開始依次開啟詢問通道并進入接收模式，其中，當前詢問通道開啟時，除比較通道外，其它詢問通道均關閉；

所述第二計算單元用于計算每一所述詢問通道采集到的接收信號與比較通道采集到的接收信號之間的幅相差；

所述接收校準單元用于選擇幅度最小的接收信號對應的詢問通道作為接收基準通道，根據其它詢問通道對應的幅相差調整每一詢問通道的幅度和相位，使每一詢問通道的幅度和相位與接收基準通道保持一致。

5.根據權利要求4所述的二次雷達相控陣自動校準裝置，其特征在于，所述第一順序與第二順序相同。

6.根據權利要求4所述的二次雷達相控陣自動校準裝置，其特征在于，所述第一測試信號與第二測試信號相同。