[發明專利]一種自動化IC測試的在線監測和分析方法

在審

• 申請號: 202010846364.7
• 申請日: 2020-08-20
• 公開（公告）號: CN112114242A
• 公開（公告）日: 2020-12-22
• 發明（設計）人: 王銳;張超瑾
• 申請（專利權）人: 江蘇艾科半導體有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/01
• 代理公司: 南京申云知識產權代理事務所(普通合伙) 32274
• 代理人: 田沛沛;邱興天

本發明公開一種自動化IC測試的在線監測和分析方法，以標識碼的方式表征測試的失效項及失效嚴重程度；實現多種場景下的風險預警；實現判斷風險級別并選擇處理方式；實現判斷異常發生的時機。本發明對IC自動化測試實現在線監測和分析，能夠在異常發生的萌芽階段發現并及時采取處理措施。基于對異常的嚴重程度的判斷，實現在生產過程中的質量規范，借助算法判斷異常的起始位置，節約了異常發生后的處理時間，降低了誤判的可能性。

技術領域

本發明屬于芯片測試技術領域，具體涉及一種自動化IC測試的在線監測和分析方法。

背景技術

自動化IC測試是芯片生產的必要環節，也是流向應用前的最后一個環節，對于產品的質量把控至關重要，由于芯片的pin腳數量和功能愈發復雜，所需測試的項目數量和種類也越來越多現有的自動化IC測試系統通常基于整體良率判斷是否發生異常，。當測試異常發生后，由于需要定位異常發生的節點，工程師往往需要解讀大量測試數據，這可能導致耗時甚至誤判。而對于異常發生前的預兆無法做出判斷并及時采取措施，這可能導致測試過程中連續發生良品的誤宰；異常發生后，異常處理人員在處理過程中需分析數據判斷異常起始點，不僅耗時還存在誤判的可能性。

發明內容

本發明解決的技術問題：對于自動化測試過程中存在的異常不能準確的預判和異常發生的時機不能準確定位。

技術方案：為了解決上述技術問題，本發明采用的技術方案如下：

一種自動化IC測試的在線監測和分析方法，包括以下步驟：

S1：對單顆芯片進行每個測試項的測試，生成測試數據；

S2：以當前測試數據偏離平均值的程度將測試風險劃劃分為多個風險級別，不同級別對應相應的風險級別編碼；

S3：測試數據與風險等級編碼組合生成標識碼；

S4：自動化測試時，設定樣本數量N，當測試的芯片數量為N的整數倍時，計算當前的風險值并判斷是否觸發異常報警。

作為優選，步驟S1中，單顆芯片測試的步驟為：

S11：開逐個測試每個測試項；

S12：判斷是否為最后一個測試項，如果是，則生成測試數據和標識碼；如果不是則執行S11，繼續進行測試。

作為優選，步驟S1中，對于每個測試項，若測得值在測試上限和下限之間，則判定為PASS，以“1”表示；若不介于測試上限和下限之間，則判定為FAIL，以“0”表示，所有測試項結果生成一組二進制數值，并將表征所有測試項結果的二進制數值轉換為十六進制數。

作為優選，針對測試中的關鍵項目，以當前測試數據偏離平均值的程度將測試風險劃從低到高劃分為多個級別，不同級別對應相應的風險級別編碼，且每個風險級別對應不同的風險因子；將生成的風險級別編碼置于生成的十六進制數末位，從而生成測試結果的標識碼。

作為優選，步驟S2中，風險值由風險級別出現的頻次和風險因子進行表征，風險值等于每個級別出現頻次與風險因子乘積之和，風險值計算方式如下：

RiskV＝T_A*R_A+T_B*R_B+…+T_J*R_J

式中，RiskV為風險值；

A，B，C，d…J為風險級別編碼；

T_A，T_B，T_C…T_J為每個風險級別出現的頻次；

R_A，R_B，R_C…R_J為風險因子。