[發明專利]一種自動化IC測試的在線監測和分析方法

在審

• 申請號: 202010846364.7
• 申請日: 2020-08-20
• 公開（公告）號: CN112114242A
• 公開（公告）日: 2020-12-22
• 發明（設計）人: 王銳;張超瑾
• 申請（專利權）人: 江蘇艾科半導體有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/01
• 代理公司: 南京申云知識產權代理事務所(普通合伙) 32274
• 代理人: 田沛沛;邱興天

1.一種自動化IC測試的在線監測和分析方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1：對單顆芯片進行每個測試項的測試，生成測試數據；

S2：以當前測試數據偏離平均值的程度將測試風險劃劃分為多個風險級別，不同級別對應相應的風險級別編碼；

S3：測試數據與風險等級編碼組合生成標識碼；

S4：自動化測試時，設定樣本數量N，當測試的芯片數量為N的整數倍時，計算當前的風險值并判斷是否觸發異常報警。

2.根據權利要求1所述的自動化IC測試的在線監測和分析方法，其特征在于：步驟S1中，單顆芯片測試的步驟為：

S11：開逐個測試每個測試項；

S12：判斷是否為最后一個測試項，如果是，則生成測試數據和標識碼；如果不是則執行S11，繼續進行測試。

3.根據權利要求1所述的自動化IC測試的在線監測和分析方法，其特征在于：步驟S1中，對于每個測試項，若測得值在測試上限和下限之間，則判定為PASS，以“1”表示；若不介于測試上限和下限之間，則判定為FAIL，以“0”表示，所有測試項結果生成一組二進制數值，并將表征所有測試項結果的二進制數值轉換為十六進制數。

4.根據權利要求3所述的自動化IC測試的在線監測和分析方法，其特征在于：針對測試中的關鍵項目，以當前測試數據偏離平均值的程度將測試風險劃從低到高劃分為多個級別，不同級別對應相應的風險級別編碼，且每個風險級別對應不同的風險因子；將生成的風險級別編碼置于生成的十六進制數末位，從而生成測試結果的標識碼。

5.根據權利要求4所述的自動化IC測試的在線監測和分析方法，其特征在于：步驟S2中，風險值由風險級別出現的頻次和風險因子進行表征，風險值等于每個級別出現頻次與風險因子乘積之和，風險值計算方式如下：

RiskV＝T_A*R_A+T_B*R_B+…+T_J*R_J

式中，RiskV為風險值；

A，B，C，d…J為風險級別編碼；

T_A，T_B，T_c…T_J為每個風險級別出現的頻次；

R_A，R_B，R_c…R_J為風險因子。

6.根據權利要求1所述的自動化IC測試的在線監測和分析方法，其特征在于：步驟S4中，自動化測試的步驟為：

S41：逐個測試每顆芯片；

S42：判斷是否為最后一顆芯片，如果是，結束自動化測試；如果不是，繼續執行步驟S43；

S43：判斷芯片數是否為樣本數量N的整數倍，如果是，則執行步驟S44；如果不是，則執行S41，繼續進行測試；

S44：根據前N顆芯片的測試數據和標識碼，判斷是否觸發異常預警，如果無異常，則執行S41，繼續進行測試；如果有異常則觸發異常預警。

7.根據權利要求1或6所述的自動化IC測試的在線監測和分析方法，其特征在于：步驟S4中，設定觸發預警閾值，當風險值累計達到閾值時，觸發異常預警。

8.根據權利要求1或7所述的自動化IC測試的在線監測和分析方法，其特征在于：當測試異常發生后，相同或高度相似的標識碼會頻繁出現，預警后，通過查找異常發生后的標識碼出現的時機，定位到異常發生點進行分析和判斷。

9.根據權利要求1或6所述的自動化IC測試的在線監測和分析方法，其特征在于：測試異常預警后，判斷異常原因，異常原因包括測試設備、配件和/或者耗材異常。