[發明專利]巖電參數的確定方法、確定裝置與計算機可讀存儲介質在審
| 申請號: | 202010845683.6 | 申請日: | 2020-08-20 |
| 公開(公告)號: | CN114165226A | 公開(公告)日: | 2022-03-11 |
| 發明(設計)人: | 張有平;駱飛飛;潘虹;齊洪巖;韓寶;鐘磊;錢川川 | 申請(專利權)人: | 中國石油天然氣股份有限公司 |
| 主分類號: | E21B49/00 | 分類號: | E21B49/00;E21B47/00 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 霍文娟 |
| 地址: | 100007 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 參數 確定 方法 裝置 計算機 可讀 存儲 介質 | ||
1.一種巖電參數的確定方法,其特征在于,包括:
獲取第一實驗數據,所述第一實驗數據為非真實地層水礦化度下的實驗數據,所述第一實驗數據包括第一地層因素、第一有效孔隙度、第一電阻增大率和第一含水飽和度;
對部分所述第一實驗數據進行校正,得到校正實驗數據,所述校正實驗數據包括校正地層因素和校正電阻增大率;
至少根據所述第一實驗數據和所述校正實驗數據確定所述真實地層水礦化度下的巖電參數。
2.根據權利要求1所述的確定方法,其特征在于,至少根據所述第一實驗數據和所述校正實驗數據確定所述真實地層水礦化度下的巖電參數,包括:
獲取第二實驗數據,所述第二實驗數據為真實地層水礦化度下的實驗數據,所述第二實驗數據包括第二地層因素、第二有效孔隙度、第二電阻增大率和第二含水飽和度;
根據所述第二實驗數據、所述第一實驗數據和所述校正實驗數據確定所述真實地層水礦化度下的所述巖電參數。
3.根據權利要求2所述的確定方法,其特征在于,獲取第一實驗數據,包括:
選取多個巖心樣品;
根據所述非真實地層水礦化度配置第一溶液;
將多個所述巖心樣品中的部分所述巖心樣品放置在所述第一溶液中進行飽和處理,得到多個第一飽和巖心樣品;
對所述第一飽和巖心樣品進行實驗,得到所述第一實驗數據。
4.根據權利要求3所述的確定方法,其特征在于,對部分所述第一實驗數據進行校正,得到校正實驗數據,包括:
根據所述真實地層水礦化度配置第二溶液,所述第二溶液為等效真實地層水溶液;
將多個所述巖心樣品中的另一部分所述巖心樣品放置在所述第二溶液中進行飽和處理,得到多個第二飽和巖心樣品;
對所述第二飽和巖心樣品進行實驗,得到等效實驗數據,所述等效實驗數據包括等效地層因素、等效有效孔隙度、等效電阻增大率和等效含水飽和度;
根據所述第一實驗數據確定非真實地層水礦化度下的視巖電參數,所述視巖電參數包括第一視巖性系數、第二視巖性系數、視膠結指數和視飽和度指數;
根據所述等效實驗數據確定等效巖電參數,所述等效巖電參數包括第一等效巖性系數、第二等效巖性系數、等效膠結指數和等效飽和度指數;
根據所述視巖電參數、所述等效巖電參數、所述第一地層因素和所述第一電阻增大率確定所述校正地層因素和所述校正電阻增大率。
5.根據權利要求4所述的確定方法,其特征在于,根據所述視巖電參數、所述等效巖電參數、所述第一地層因素和所述第一電阻增大率確定所述校正地層因素和所述校正電阻增大率,包括:
采用雙對數線性變換法構建第一公式,所述第一公式表示為F′=a'·(F/a)(m′/m),其中,F′為所述校正地層因素,a'為所述第一等效巖性系數,F為所述第一地層因素,a為所述第一視巖性系數,m′為所述等效膠結指數,m為視膠結指數;
采用所述雙對數線性變換法構建第二公式,所述第二公式表示為I′=b'·(I/b)(n′/n),其中,I′為所述校正電阻增大率,b'為所述第二等效巖性系數,I為所述第一電阻增大率,b為所述第二視巖性系數,n′為所述等效飽和度指數,n為所述視飽和度指數;
根據所述第一公式和所述第二公式確定所述校正地層因素和所述校正電阻增大率。
6.根據權利要求4所述的確定方法,其特征在于,至少根據所述第一實驗數據和所述校正實驗數據確定所述真實地層水礦化度下的巖電參數,包括:
根據所述校正地層因素、所述校正電阻增大率、所述第一有效孔隙度和所述第一含水飽和度,確定所述真實地層水礦化度下的巖電參數,所述巖電參數包括第一巖性系數、第二巖性系數、膠結指數和飽和度指數。
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