[發(fā)明專利]巖電參數(shù)的確定方法、確定裝置與計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010845683.6
• 申請(qǐng)日: 2020-08-20
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN114165226A
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-03-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張有平;駱飛飛;潘虹;齊洪巖;韓寶;鐘磊;錢(qián)川川
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)石油天然氣股份有限公司
• 主分類號(hào): E21B49/00
• 分類號(hào): E21B49/00;E21B47/00
• 代理公司: 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240
• 代理人: 霍文娟

本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N巖電參數(shù)的確定方法、確定裝置與計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。該確定方法包括：獲取第一實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，第一實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)為非真實(shí)地層水礦化度下的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，第一實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)包括第一地層因素、第一有效孔隙度、第一電阻增大率和第一含水飽和度；對(duì)部分第一實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行校正，得到校正實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，校正實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)包括校正地層因素和校正電阻增大率；至少根據(jù)第一實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和校正實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)確定真實(shí)地層水礦化度下的巖電參數(shù)。該方案在無(wú)真實(shí)地層水礦化度下實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的情況下，仍然實(shí)現(xiàn)了對(duì)真實(shí)地層水礦化度下的巖電參數(shù)的確定，無(wú)需補(bǔ)選真實(shí)礦化度下的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，即無(wú)需增加額外的工作量，簡(jiǎn)化了巖電參數(shù)的確定流程，縮短了巖電參數(shù)的確定周期。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及石油測(cè)井技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種巖電參數(shù)的確定方法、確定裝置、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)與處理器。

背景技術(shù)

儲(chǔ)層含油飽和度是儲(chǔ)層流體性質(zhì)判別的重要指標(biāo)，也是油氣藏研究中評(píng)價(jià)儲(chǔ)層的關(guān)鍵特征參數(shù)，儲(chǔ)層含油飽和度的測(cè)井評(píng)價(jià)依據(jù)是阿爾奇公式，計(jì)算含油飽和度要用到巖電參數(shù)(a，m，b，n；其中m為孔隙度結(jié)構(gòu)指數(shù)，與儲(chǔ)層的孔喉結(jié)構(gòu)及孔隙迂曲程度有關(guān)，孔隙結(jié)構(gòu)越復(fù)雜，m值越大。理想條件下，當(dāng)儲(chǔ)層的骨架與孔隙空間完全獨(dú)立時(shí)，m＝1；孔隙迂曲程度高時(shí)，則m1，反之孔喉連通程度較好，則m1，一般m值變化范圍為1.5～3；n為飽和度指數(shù)，其值為孔隙結(jié)構(gòu)以及油水在孔隙空間中微觀分布特征共同作用的結(jié)果，一般情況下n值接近2；a，b為巖性相關(guān)的系數(shù)，a值變化范圍為0.6～1.5，b值接近1，分別與m、n值為互補(bǔ)關(guān)系)，巖電參數(shù)確定的準(zhǔn)確度就影響著含油飽和度和儲(chǔ)量計(jì)算的精度。因此，研究清巖電參數(shù)的影響因素及變化規(guī)律對(duì)準(zhǔn)確計(jì)算含油飽和度至關(guān)重要。實(shí)驗(yàn)及分析表明地層水礦化度對(duì)于巖電參數(shù)存在以下影響規(guī)律：①巖石導(dǎo)電能力主要與巖石中孔隙流體帶電離子的濃度有關(guān)，即與孔隙流體的礦化度有關(guān)。隨著礦化度增加，地層可移動(dòng)的導(dǎo)電離子數(shù)量增加，使得R0、Rt、Rw都減小。②對(duì)于純砂巖儲(chǔ)層，由于只有孔隙內(nèi)地層水導(dǎo)電，當(dāng)?shù)貙铀V化度增加時(shí)，巖石100％含水電阻率R0與地層水電阻率Rw同步降低，地層因素F基本不變；而對(duì)于含泥質(zhì)的儲(chǔ)層，當(dāng)?shù)貙铀V化度較低(一般低于上萬(wàn)mg/L)時(shí)，巖石中泥質(zhì)附加導(dǎo)電性將與孔隙水共同作用，增強(qiáng)巖石導(dǎo)電性，地層因素F降低；當(dāng)?shù)貙铀V化度較高時(shí)，巖石附加導(dǎo)電作用基本可忽略，地層因素F與孔隙度有較好的相關(guān)性。③由于烴類的存在，電流在烴類與孔隙水共存的巖石中流動(dòng)比只有巖石中只有孔隙水時(shí)更加曲折，當(dāng)?shù)V化度增加時(shí)，R0降低速度必然比部分飽和烴類、部分飽和地層水的巖石電阻率Rt減小要快，則電阻增大率I增加。因此，隨著礦化度增大而增大，地層因素F、電阻增大率I曲線越來(lái)越陡，斜率m、n值增大。

實(shí)踐中由于勘探初期資料少，巖電實(shí)驗(yàn)礦化度參考鄰區(qū)或鄰井試油證實(shí)的地層水礦化度值，一般與真實(shí)礦化度有明顯差異，相應(yīng)的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)與真實(shí)礦化度下的實(shí)驗(yàn)點(diǎn)之間存在規(guī)律性的偏差。與本發(fā)明相關(guān)的現(xiàn)有技術(shù)已知真實(shí)的地層水礦化度后，采用篩選法及補(bǔ)選實(shí)驗(yàn)法來(lái)甄選或者補(bǔ)充實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)：即在處理實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)時(shí)一般篩選出與真實(shí)礦化度接近的實(shí)驗(yàn)點(diǎn)確定巖電參數(shù)，或者在確定真實(shí)礦化度后補(bǔ)選實(shí)驗(yàn)樣品來(lái)補(bǔ)充數(shù)據(jù)點(diǎn)。以上方法在數(shù)據(jù)樣本充足的情況下能夠達(dá)到測(cè)井解釋和儲(chǔ)層評(píng)價(jià)的精度，但均舍去了其他礦化度下實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)點(diǎn)，當(dāng)數(shù)據(jù)樣本較少或巖心客觀條件不滿足補(bǔ)選實(shí)驗(yàn)時(shí)，則不能更加準(zhǔn)確地評(píng)價(jià)儲(chǔ)層，并且補(bǔ)選實(shí)驗(yàn)法涉及額外工作量，會(huì)產(chǎn)生額外費(fèi)用、巖電參數(shù)確定周期延長(zhǎng)。

在背景技術(shù)部分中公開(kāi)的以上信息只是用來(lái)加強(qiáng)對(duì)本文所描述技術(shù)的背景技術(shù)的理解，因此，背景技術(shù)中可能包含某些信息，這些信息對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員來(lái)說(shuō)并未形成在本國(guó)已知的現(xiàn)有技術(shù)。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)的主要目的在于提供一種巖電參數(shù)的確定方法、確定裝置、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)與處理器，以解決現(xiàn)有技術(shù)中受地層水礦化度影響的巖電參數(shù)的確定方法的確定效率較低的問(wèn)題。