[發明專利]一種陶瓷片高度檢測方法、裝置及計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202010840910.6
• 申請日: 2020-08-20
• 公開（公告）號: CN112102456A
• 公開（公告）日: 2020-12-18
• 發明（設計）人: 林軍帆;蘇彩紅;詹寧宙;梁智宇
• 申請（專利權）人: 佛山科學技術學院;佛山市精視自動化科技有限公司
• 主分類號: G06T15/00
• 分類號: G06T15/00;G06T7/11;G06T7/60;G01B11/06
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 葉潔勇

1.一種陶瓷片高度檢測方法，其特征在于，包括：

獲取相機采集到的激光條紋圖像，該激光條紋圖像中的每個點均具有三維坐標；

根據所述激光條紋圖像上各個點的三維坐標生成待檢陶瓷的三維點云模型，將所述三維點云模型分割為多個子模型，每個子模型對應一層陶瓷片；

根據所述多個子模型的中心坐標得到每層陶瓷片的高度值，判斷所述高度值是否在高度區間內，得出待檢陶瓷的檢測結果。

2.根據權利要求1所述的一種陶瓷片高度檢測方法，其特征在于，所述將所述三維點云模型分割為多個子模型之前，包括：

確定標準陶瓷中每層陶瓷片到底層的高度區間，將所述高度區間作為檢測待檢陶瓷是否符合生產標準的判斷依據。

3.根據權利要求2所述的一種陶瓷片高度檢測方法，其特征在于，所述將所述三維點云模型分割為多個子模型，每個子模型對應一層陶瓷片，包括：

以所述高度區間為基準，確定該高度區間所在的陶瓷片；

將該高度區間進行邊界擴展，得到該層陶瓷片的分割區間；

將所述三維點云模型按所述分割區間進行分割，得到多個子模型，每個子模型對應各自高度區間所在的陶瓷片。

4.根據權利要求2所述的一種陶瓷片高度檢測方法，其特征在于，所述將所述三維點云模型分割為多個子模型，每個子模型對應一層陶瓷片，還包括：

從所述激光條紋圖像中確定任一層陶瓷片的部分圖像區域；

從所述三維點云模型中分割出該部分圖像區域的子模型；

對該子模型的中心坐標進行求解，得出該區域的高度值；

通過判斷該部分圖像區域的高度值是否在高度區間內，得出該部分圖像區域的陶瓷片的檢測結果。

5.根據權利要求1所述的一種陶瓷片高度檢測方法，其特征在于，所述根據所述多個子模型的中心坐標得到每層陶瓷片的高度值，包括：

獲取各個所述子模型的中心坐標，將所述中心坐標在z軸的坐標值作為所述子模型對應的陶瓷片的高度值。

6.根據權利要求1所述的一種陶瓷片高度檢測方法，其特征在于，所述將所述三維點云模型分割為多個子模型之前，包括：

對所述三維點云模型進行去噪處理。

7.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至6任一項所述的陶瓷片高度檢測方法的步驟。

8.一種陶瓷片高度檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括：存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運行的計算機程序，所述計算機程序被所述處理器執行時實現如權利要求1至6中任一項所述的陶瓷片高度檢測方法。