[發(fā)明專(zhuān)利]無(wú)需射頻測(cè)試座的板級(jí)射頻信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)、方法及裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010838777.0
• 申請(qǐng)日: 2020-08-19
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112003657B
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-04-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉好;唐錫輝;左達(dá)恒
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 深圳合一測(cè)試科技有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): H04B17/15
• 分類(lèi)號(hào): H04B17/15;H04B17/29
• 代理公司: 深圳市深弘廣聯(lián)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44449
• 代理人: 向用秀

本發(fā)明所提出的無(wú)需射頻測(cè)試座的板級(jí)射頻信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)、方法及裝置，用于測(cè)試射頻電路的射頻信號(hào)；包括射頻測(cè)試探針、調(diào)諧模塊和測(cè)試儀表模塊，射頻測(cè)試探針一端與射頻電路的天線彈片連接，另一端與調(diào)諧模塊連接；調(diào)諧模塊與測(cè)試儀表模塊連接，調(diào)諧模塊根據(jù)回波損耗調(diào)節(jié)匹配阻抗；匹配阻抗與射頻電路的阻抗匹配；直接利用射頻測(cè)試探針與射頻電路中的天線彈片電連接，然后通過(guò)調(diào)諧模塊調(diào)節(jié)匹配阻抗的大小，并且可以通過(guò)回波損耗的大小來(lái)判斷匹配阻抗是否匹配到位，直到匹配阻抗與射頻電路中的阻抗相匹配，以達(dá)到可直接通過(guò)天線彈片進(jìn)行射頻信號(hào)測(cè)試的目的；測(cè)試結(jié)果嚴(yán)謹(jǐn)、結(jié)構(gòu)巧妙；省去了射頻電路中射頻測(cè)試座的設(shè)計(jì)空間和生產(chǎn)成本。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及射頻信號(hào)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種無(wú)需射頻測(cè)試座的板級(jí)射頻信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)、方法及裝置。

背景技術(shù)

近年來(lái)，隨著通信技術(shù)的不斷發(fā)展，無(wú)線產(chǎn)品的普及程度越來(lái)越高，每年全球生產(chǎn)的無(wú)線產(chǎn)品的數(shù)量也不斷增加，人們的生產(chǎn)生活日趨便捷。無(wú)線產(chǎn)品（以手機(jī)為代表）主要是指通訊頻率工作在300kHz~300GHz，該頻段范圍內(nèi)的通訊信號(hào)又叫做射頻信號(hào)。為了保證無(wú)線產(chǎn)品主板上的射頻信號(hào)質(zhì)量，以滿(mǎn)足無(wú)線產(chǎn)品一系列最基本的無(wú)線通信需求，通常需要對(duì)主板上的射頻芯片進(jìn)行板級(jí)射頻測(cè)試。

如圖1所示，傳統(tǒng)的板級(jí)射頻測(cè)試方案，是通過(guò)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)階段在無(wú)線產(chǎn)品的主板上增加射頻測(cè)試座，并在測(cè)試時(shí)將射頻測(cè)試探針的一端和無(wú)線產(chǎn)品主板上的射頻測(cè)試座進(jìn)行機(jī)械結(jié)構(gòu)的扣合，射頻測(cè)試探針的另一端通過(guò)射頻測(cè)試線纜連接到測(cè)試儀表模塊，最后通過(guò)測(cè)試儀表模塊的測(cè)量結(jié)果來(lái)判定無(wú)線產(chǎn)品板級(jí)射頻測(cè)試是否合格，無(wú)線產(chǎn)品的主板是良品，還是不良品來(lái)進(jìn)行篩選，以保證射頻信號(hào)質(zhì)量。以手機(jī)為代表的的無(wú)線產(chǎn)品已經(jīng)發(fā)展到了5G時(shí)代，無(wú)線產(chǎn)品主板上使用的射頻信號(hào)頻率范圍越來(lái)越廣，為了保證無(wú)線產(chǎn)品的通訊質(zhì)量，這就需要在無(wú)線產(chǎn)品上市前做更完備的板級(jí)射頻測(cè)試以覆蓋無(wú)線產(chǎn)品上市后使用到的所有射頻信號(hào)頻率范圍。當(dāng)前是通過(guò)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)階段在無(wú)線產(chǎn)品的主板上增加更多的射頻測(cè)試座；2~4G時(shí)代無(wú)線產(chǎn)品主板上的射頻測(cè)試座的數(shù)量以個(gè)位數(shù)來(lái)計(jì)算，5G時(shí)代這個(gè)數(shù)量會(huì)上升到10個(gè)以上來(lái)滿(mǎn)足傳統(tǒng)板級(jí)射頻測(cè)試的需求；對(duì)于設(shè)計(jì)越來(lái)越復(fù)雜，性能越來(lái)越高，用戶(hù)體驗(yàn)越來(lái)越好的無(wú)線產(chǎn)品，主板上的設(shè)計(jì)空間非常有限，而10個(gè)以上的射頻測(cè)試座僅僅是為了滿(mǎn)足無(wú)線產(chǎn)品上市前保證射頻信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試需求，在上市后并沒(méi)有改善無(wú)線產(chǎn)品板上射頻信號(hào)的收發(fā)質(zhì)量。反而要在無(wú)線產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段在有限的主板空間上預(yù)留10個(gè)以上板級(jí)射頻測(cè)試座的安裝空間，而且增加了無(wú)線產(chǎn)品的物料成本。所以需要開(kāi)發(fā)出一種無(wú)需射頻測(cè)試座的板級(jí)射頻信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)，以方便測(cè)試射頻信號(hào)，并且節(jié)約上游設(shè)計(jì)中關(guān)于射頻測(cè)試座的成本。

發(fā)明內(nèi)容

針對(duì)上述技術(shù)中存在的如：在板級(jí)射頻信號(hào)測(cè)試中，還未有一種無(wú)需射頻測(cè)試座的測(cè)試系統(tǒng)。

具體為一種無(wú)需射頻測(cè)試座的板級(jí)射頻信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)，用于測(cè)試射頻電路的射頻信號(hào)；包括射頻測(cè)試探針、調(diào)諧模塊和測(cè)試儀表模塊，所述射頻測(cè)試探針一端與射頻電路的天線彈片連接，另一端與所述調(diào)諧模塊連接；所述調(diào)諧模塊與所述測(cè)試儀表模塊連接，所述調(diào)諧模塊調(diào)節(jié)所述匹配阻抗；所述匹配阻抗與射頻電路的阻抗匹配。

作為優(yōu)選，所述調(diào)諧模塊包括有可變電容電感單元，所述可變電容電感單元用于調(diào)節(jié)所述匹配阻抗的大小，所述可變電容電感單元一端與所述測(cè)試儀表模塊連接，另一端與所述射頻測(cè)試探針連接。

作為優(yōu)選，所述調(diào)諧模塊還包括回波損耗檢測(cè)單元，所述回波損耗檢測(cè)單元用于檢測(cè)所述可變電容電感單元在調(diào)節(jié)所述匹配阻抗時(shí)的實(shí)時(shí)回波損耗；所述可變電容電感單元根據(jù)所述實(shí)時(shí)回波損耗以調(diào)節(jié)所述匹配阻抗。

作為優(yōu)選，所述回波損耗檢測(cè)單元在檢測(cè)到所述實(shí)時(shí)回波損耗時(shí)，當(dāng)所述實(shí)時(shí)回波損耗小于第一閾值時(shí)，所述可變電容電感單元停止調(diào)節(jié)所述匹配阻抗的大小，并標(biāo)定當(dāng)前的所述匹配阻抗為目標(biāo)匹配阻抗，所述目標(biāo)匹配阻抗與射頻電路的阻抗匹配。

還公開(kāi)有一種無(wú)需射頻測(cè)試座的板級(jí)射頻信號(hào)測(cè)試方法，基于前文所述的無(wú)需射頻測(cè)試座的板級(jí)射頻信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)，包括以下步驟：