[發明專利]無需射頻測試座的板級射頻信號測試系統、方法及裝置

有效

• 申請號: 202010838777.0
• 申請日: 2020-08-19
• 公開（公告）號: CN112003657B
• 公開（公告）日: 2021-04-20
• 發明（設計）人: 劉好;唐錫輝;左達恒
• 申請（專利權）人: 深圳合一測試科技有限公司
• 主分類號: H04B17/15
• 分類號: H04B17/15;H04B17/29
• 代理公司: 深圳市深弘廣聯知識產權代理事務所(普通合伙) 44449
• 代理人: 向用秀

1.一種無需射頻測試座的板級射頻信號測試系統，用于測試射頻電路的射頻信號；其特征在于，包括射頻測試探針、調諧模塊和測試儀表模塊，所述射頻測試探針一端與射頻電路的天線彈片連接，另一端與所述調諧模塊連接；所述調諧模塊與所述測試儀表模塊連接，所述調諧模塊調節匹配阻抗的大小；所述匹配阻抗與射頻電路的阻抗匹配；所述調諧模塊包括有可變電容電感單元，所述可變電容電感單元用于調節所述匹配阻抗的大小，所述可變電容電感單元一端與所述測試儀表模塊連接，另一端與所述射頻測試探針連接；所述調諧模塊還包括回波損耗檢測單元，所述回波損耗檢測單元用于檢測所述可變電容電感單元在調節所述匹配阻抗時的實時回波損耗；所述可變電容電感單元根據所述實時回波損耗以調節所述匹配阻抗。

2.根據權利要求1所述的無需射頻測試座的板級射頻信號測試系統，其特征在于，所述回波損耗檢測單元在檢測到所述實時回波損耗時，當所述實時回波損耗小于第一閾值時，所述可變電容電感單元停止調節所述匹配阻抗的大小，并標定當前的所述匹配阻抗為目標匹配阻抗，所述目標匹配阻抗與射頻電路的阻抗匹配。

3.一種無需射頻測試座的板級射頻信號測試方法，其特征在于，基于權利要求1-2任一項所述的無需射頻測試座的板級射頻信號測試系統實現，包括以下步驟：

S1、將所述射頻測試探針的尾端連接線與所述調諧模塊連接，所述調諧模塊與所述測試儀表模塊電性連接；

S2、將所述射頻測試探針的首端探針與PCB板上射頻電路的天線彈片電性連接；

S3、通過所述調諧模塊調節所述匹配阻抗的大小，使所述匹配阻抗與射頻電路的阻抗相匹配；

S4、當調節所述匹配阻抗與射頻電路的阻抗完成匹配后，進行射頻芯片的射頻信號測試；

在調節所述匹配阻抗的大小時，通過所述調諧模塊中的可變電容電感單元進行所述匹配阻抗的大小調節；通過所述調諧模塊中的回波損耗檢測單元檢測所述可變電容電感單元在調節所述匹配阻抗時的實時回波損耗；

在通過所述可變電容電感單元確定所述匹配阻抗大小時，通過以下步驟對所述匹配阻抗是否合適進行判斷：

S31、利用測試儀器發送第一電信號，所述第一電信號被射頻電路的射頻芯片接收，觀測當前所述回波損耗檢測單元檢測到的回波損耗；并且得出當前信號通路的插入損耗；當回波損耗小于第一閾值且插入損耗均小于第二閾值時，則說明所述匹配阻抗與射頻電路的阻抗相匹配；

S32、利用射頻電路發射出第二電信號，所述第二電信號被所述測試儀表模塊接收，所述測試儀表模塊顯示對應的實際接收到的電信號大小，標記為第三電信號，通過所述第二電信號和所述第三電信號得到這一信號通路下的插入損耗；

S33、將S32步驟中的插入損耗進行波動性驗證，若波動性符合標準，停止調整所述匹配阻抗。

4.根據權利要求3所述的無需射頻測試座的板級射頻信號測試方法，其特征在于，在S2中，通過固定夾具將所述射頻測試探針與天線彈片固定連接。

5.一種無需射頻測試座的板級射頻信號測試裝置，其特征在于，包括權利要求1-2任一項所述的一種無需射頻測試座的板級射頻信號測試系統。