[發(fā)明專利]缺陷檢測方法和相關(guān)裝置、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010837709.2
• 申請日: 2020-08-19
• 公開（公告）號(hào): CN112001902A
• 公開（公告）日: 2020-11-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 徐子豪;費(fèi)敬敬;楊凱;吳立威
• 申請（專利權(quán)）人: 上海商湯智能科技有限公司
• 主分類號(hào): G06T7/00
• 分類號(hào): G06T7/00;G06T7/70;G06N3/04;G06N3/08
• 代理公司: 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44280
• 代理人: 何倚雯

本申請公開了一種缺陷檢測方法和相關(guān)裝置、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)，缺陷檢測方法包括：對待檢測圖像進(jìn)行第一目標(biāo)檢測，得到目標(biāo)檢測結(jié)果，其中，目標(biāo)檢測結(jié)果包括第一類目標(biāo)以及第一類目標(biāo)在待檢測圖像的第一位置信息；基于第一位置信息，獲取包含第一類目標(biāo)的圖像區(qū)域；對圖像區(qū)域進(jìn)行缺陷檢測，得到關(guān)于第一類目標(biāo)的缺陷檢測結(jié)果。上述方案，能夠降低缺陷漏檢率和誤檢率。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及圖像處理領(lǐng)域，特別是涉及一種缺陷檢測方法和相關(guān)裝置、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

目前，為了提高對環(huán)境中設(shè)備的保護(hù)，經(jīng)常需要對環(huán)境中的設(shè)備進(jìn)行缺陷檢測，以保證及時(shí)發(fā)現(xiàn)設(shè)備缺陷，進(jìn)而進(jìn)行維護(hù)。

一般地，設(shè)備的缺陷檢測都是基于拍攝設(shè)備圖像，并對該圖像進(jìn)行人工檢查，以確定是否存在缺陷。然而，人工進(jìn)行缺陷檢測，極容易因?yàn)槿藶槭韬龆嬖诼z或錯(cuò)檢的情況。因此，如何進(jìn)行缺陷檢測以降低缺陷漏檢率，提高缺陷檢測準(zhǔn)確性，是目前極為關(guān)鍵的課題。

發(fā)明內(nèi)容

本申請至少提供一種缺陷檢測方法和相關(guān)裝置、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)。

本申請第一方面提供了一種缺陷檢測方法，包括：對待檢測圖像進(jìn)行第一目標(biāo)檢測，得到目標(biāo)檢測結(jié)果，其中，目標(biāo)檢測結(jié)果包括第一類目標(biāo)以及第一類目標(biāo)在待檢測圖像的第一位置信息；基于第一位置信息，獲取包含第一類目標(biāo)的圖像區(qū)域；對圖像區(qū)域進(jìn)行缺陷檢測，得到關(guān)于第一類目標(biāo)的缺陷檢測結(jié)果。

因此，通過先檢測第一類目標(biāo)在待檢測圖像中的位置，然后再對包含第一類目標(biāo)的圖像區(qū)域進(jìn)行缺陷檢測，由于直接針對目標(biāo)所在的圖像區(qū)域進(jìn)行缺陷檢測，即減小缺陷檢測的區(qū)域，可降低漏檢率和誤檢率。

其中，對圖像區(qū)域進(jìn)行缺陷檢測，得到關(guān)于第一類目標(biāo)的缺陷檢測結(jié)果，包括：對圖像區(qū)域進(jìn)行第二目標(biāo)檢測，得到第一缺陷檢測結(jié)果，其中，第一缺陷檢測結(jié)果包括第一類目標(biāo)上存在的至少一種第一缺陷的信息；和/或，對圖像區(qū)域進(jìn)行分類，得到第二缺陷檢測結(jié)果，其中，第二缺陷檢測結(jié)果包括第一類目標(biāo)所屬第二缺陷的信息。

因此，通過多種方式對包括第一類目標(biāo)的圖像區(qū)域進(jìn)行檢測，可針對不同的第一類目標(biāo)采用不同的檢測方式，使得缺陷檢測更具有針對性，從而得到的缺陷檢測結(jié)果更準(zhǔn)確或者為同一個(gè)第一類目標(biāo)采用不同的檢測方式然后可以綜合各個(gè)不同的缺陷檢測方式得出最終待檢測圖像的缺陷檢測結(jié)果更準(zhǔn)確，進(jìn)一步減低誤檢率。

其中，對圖像區(qū)域進(jìn)行缺陷檢測，得到關(guān)于第一類目標(biāo)的缺陷檢測結(jié)果，包括：在第一類目標(biāo)為第一子類目標(biāo)的情況下，執(zhí)行對圖像區(qū)域進(jìn)行第二目標(biāo)檢測，得到第一缺陷檢測結(jié)果的步驟；在第一類目標(biāo)為第二子類目標(biāo)的情況下，執(zhí)行對圖像區(qū)域進(jìn)行分類，得到第二缺陷檢測結(jié)果的步驟。

因此，通過對不同的目標(biāo)對象采用不同的缺陷檢測方式，使得缺陷檢測更加靈活，相比對所有種類的目標(biāo)都采用同一種檢測方式來講，更有針對性，使得缺陷檢測結(jié)果更準(zhǔn)確。

其中，第一缺陷檢測結(jié)果包括每種第一缺陷的位置信息以及屬于第一缺陷的第一概率；在對圖像區(qū)域進(jìn)行第二目標(biāo)檢測，得到第一缺陷檢測結(jié)果之后，方法還包括以下至少一者：依據(jù)每種第一缺陷的位置信息，分別確定每種第一缺陷在待檢測圖像上的缺陷區(qū)域，并對不同缺陷區(qū)域之間的重疊區(qū)域進(jìn)行去重處理；過濾第一概率滿足第一過濾條件的第一缺陷。

因此，通過獲取第一子類目標(biāo)中第一缺陷的概率以及在包含第一子類目標(biāo)的圖像區(qū)域中位置信息，并且基于該位置信息找到第一缺陷在待檢測圖像中上對應(yīng)的區(qū)域，并對重疊的部分進(jìn)行去重處理，使得一個(gè)第一缺陷對應(yīng)一個(gè)缺陷區(qū)域，減少出現(xiàn)對一個(gè)缺陷進(jìn)行多次后續(xù)處理的問題，提高最后輸出的準(zhǔn)確率，而通過將滿足過濾條件的區(qū)域剔除，能夠減少后續(xù)處理的區(qū)域數(shù)量，提高處理效率。

其中，第一過濾條件為第一概率低于第一概率閾值；和/或，對不同缺陷區(qū)域之間的重疊區(qū)域進(jìn)行去重處理，包括：對不同缺陷區(qū)域之間的重疊區(qū)域進(jìn)行非極大值抑制。