[發明專利]缺陷檢測方法和相關裝置、設備、存儲介質

在審

• 申請號: 202010837709.2
• 申請日: 2020-08-19
• 公開（公告）號: CN112001902A
• 公開（公告）日: 2020-11-27
• 發明（設計）人: 徐子豪;費敬敬;楊凱;吳立威
• 申請（專利權）人: 上海商湯智能科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/70;G06N3/04;G06N3/08
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 何倚雯

1.一種缺陷檢測方法，其特征在于，包括：

對待檢測圖像進行第一目標檢測，得到目標檢測結果，其中，所述目標檢測結果包括第一類目標以及所述第一類目標在所述待檢測圖像的第一位置信息；

基于所述第一位置信息，獲取包含所述第一類目標的圖像區域；

對所述圖像區域進行缺陷檢測，得到關于所述第一類目標的缺陷檢測結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述圖像區域進行缺陷檢測，得到關于所述第一類目標的缺陷檢測結果，包括：

對所述圖像區域進行第二目標檢測，得到第一缺陷檢測結果，其中，所述第一缺陷檢測結果包括所述第一類目標上存在的至少一種第一缺陷的信息；

和/或，對所述圖像區域進行分類，得到第二缺陷檢測結果，其中，所述第二缺陷檢測結果包括所述第一類目標所屬第二缺陷的信息。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述對所述圖像區域進行缺陷檢測，得到關于所述第一類目標的缺陷檢測結果，包括：

在所述第一類目標為第一子類目標的情況下，執行所述對所述圖像區域進行第二目標檢測，得到第一缺陷檢測結果的步驟；

在所述第一類目標為第二子類目標的情況下，執行所述對所述圖像區域進行分類，得到第二缺陷檢測結果的步驟。

4.根據權利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述第一缺陷檢測結果包括每種所述第一缺陷的位置信息以及屬于所述第一缺陷的第一概率；在所述對所述圖像區域進行第二目標檢測，得到第一缺陷檢測結果之后，所述方法還包括以下至少一者：

依據每種所述第一缺陷的位置信息，分別確定每種所述第一缺陷在所述待檢測圖像上的缺陷區域，并對不同所述缺陷區域之間的重疊區域進行去重處理；

過濾第一概率滿足第一過濾條件的所述第一缺陷。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述第一過濾條件為所述第一概率低于第一概率閾值；和/或，

所述對不同所述缺陷區域之間的重疊區域進行去重處理，包括：

對不同所述缺陷區域之間的重疊區域進行非極大值抑制。

6.根據權利要求2至5任一項所述的方法，其特征在于，所述第二缺陷檢測結果包括所述第一類目標屬于第二缺陷的第二概率；所述對所述圖像區域進行分類，得到第二缺陷檢測結果，包括：

對所述圖像區域進行分類，得到所述第一類目標屬于每種預設缺陷的概率；

將每種預設缺陷的概率相加，得到所述第一類目標屬于第二缺陷的第二概率。

7.根據權利要求2至6任一項所述的方法，其特征在于，所述對待檢測圖像進行第一目標檢測，得到目標檢測結果，包括：

利用缺陷檢測模型的第一區域檢測網絡對待檢測圖像進行第一目標檢測，得到目標檢測結果；

所述對所述圖像區域進行第二目標檢測，得到第一缺陷檢測結果，包括：

利用所述缺陷檢測模型的第二區域檢測網絡對所述圖像區域進行第二目標檢測，得到第一缺陷檢測結果；其中，所述第二區域檢測網絡的深度比第一區域檢測網絡的深度淺；

所述對所述圖像區域進行分類，得到第二缺陷檢測結果，包括：

利用所述缺陷檢測模型的分類網絡對所述圖像區域進行分類，得到第二缺陷檢測結果。

8.根據權利要求1-7任一項所述的方法，其特征在于，所述目標檢測結果還包括第二類目標以及第二類目標在所述待檢測圖像的第二位置信息，在所述對待檢測圖像進行第一目標檢測，得到目標檢測結果之后，所述方法還包括：

將所述第二類目標確定為所述待檢測圖像中的第三缺陷，并將所述第二類目標及其所述第二位置信息作為關于所述第二類目標的缺陷檢測結果。

9.根據權利要求1-8任一項所述的方法，其特征在于，在得到所述缺陷檢測結果之后，所述方法還包括：

過濾所述缺陷檢測結果中滿足第二過濾條件的缺陷，以得到所述待檢測圖像的最終缺陷檢測結果。