[發(fā)明專利]具有增強(qiáng)的掃描機(jī)制的機(jī)器人系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010834548.1 | 申請日: | 2019-04-24 |
| 公開(公告)號: | CN112091970B | 公開(公告)日: | 2021-08-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 魯仙·出杏光 | 申請(專利權(quán))人: | 牧今科技 |
| 主分類號: | B25J9/16 | 分類號: | B25J9/16 |
| 代理公司: | 北京商專永信知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11400 | 代理人: | 鄔玥;方挺 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 增強(qiáng) 掃描 機(jī)制 機(jī)器人 系統(tǒng) | ||
1.一種用于操作機(jī)器人系統(tǒng)的方法,所述方法包括:
接收表示包括目標(biāo)物體的拾取區(qū)域的成像數(shù)據(jù);
基于所述成像數(shù)據(jù)而確定所述目標(biāo)物體的初始姿勢;
計(jì)算與所述初始姿勢相關(guān)聯(lián)的置信度測量值,其中所述置信度測量值指示所述初始姿勢是準(zhǔn)確的可能性;
基于所述置信度測量值而得到接近位置和至少一個掃描位置,所述接近位置限定有關(guān)末端執(zhí)行器接觸并夾持所述目標(biāo)物體的位置,所述掃描位置限定有關(guān)所述末端執(zhí)行器將所述目標(biāo)物體的一個或多個表面呈現(xiàn)在一個或多個對應(yīng)物體掃描儀前方以便對一個或多個物體標(biāo)識符進(jìn)行掃描的位置,
基于所述得到的接近位置和所述掃描位置而得到運(yùn)動計(jì)劃,
其中所述運(yùn)動計(jì)劃包括命令、設(shè)置或其組合以便操作機(jī)器人臂和末端執(zhí)行器來基于以下操作而執(zhí)行任務(wù):(1)從起始位置拾取所述目標(biāo)物體,(2)將所述目標(biāo)物體傳遞到任務(wù)位置,以及(3)將一個或多個物體標(biāo)識符呈現(xiàn)給位于所述起始位置與所述任務(wù)位置之間的一個或多個物體掃描儀,
其中得到所述運(yùn)動計(jì)劃包括:
將所述置信度測量值與充分性閾值進(jìn)行比較,
根據(jù)性能度量標(biāo)準(zhǔn)和/或掃描度量標(biāo)準(zhǔn)、基于所述比較的結(jié)果而選擇性地計(jì)算所述接近位置和所述掃描位置,其中所述掃描度量標(biāo)準(zhǔn)對應(yīng)于在不考慮所述初始姿勢是否準(zhǔn)確的情況下所述物體標(biāo)識符中的至少一個保持不被所述末端執(zhí)行器覆蓋的可能性;以及
實(shí)現(xiàn)所述運(yùn)動計(jì)劃以便操作一個或多個致動裝置來執(zhí)行所述任務(wù)。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其中得到所述接近位置和所述掃描位置包括當(dāng)所述置信度測量值未能滿足所述充分性閾值時,根據(jù)所述掃描度量標(biāo)準(zhǔn)得到所述接近位置和所述掃描位置。
3.如權(quán)利要求1所述的方法,其中得到所述接近位置和所述掃描位置包括當(dāng)所述置信度測量值未能滿足所述充分性閾值時,將所述掃描度量標(biāo)準(zhǔn)優(yōu)先排在所述性能度量標(biāo)準(zhǔn)前面。
4.如權(quán)利要求1所述的方法,其中得到所述接近位置和所述掃描位置包括當(dāng)所述置信度測量值滿足所述充分性閾值時,基于所述性能度量標(biāo)準(zhǔn)得到所述接近位置和所述掃描位置。
5.如權(quán)利要求1所述的方法,其中得到所述接近位置和所述掃描位置包括:
計(jì)算有關(guān)所述目標(biāo)物體的圍繞所述起始位置的一組可用接近位置,其中所述一組可用接近位置用于放置所述末端執(zhí)行器以接觸并夾持所述目標(biāo)物體而不干擾其它物體;
計(jì)算有關(guān)所述一組可用接近位置中的每一個可用接近位置的暴露的標(biāo)識符組,其中所述暴露的標(biāo)識符組表示根據(jù)所述初始姿勢是準(zhǔn)確的第一假設(shè),在所述末端執(zhí)行器處于對應(yīng)接近位置的情況下,所述物體標(biāo)識符保持未被覆蓋的對應(yīng)位置;
計(jì)算有關(guān)所述一組可用接近位置中的每一個可用接近位置的替換標(biāo)識符組,其中所述替換標(biāo)識符組表示根據(jù)所述初始姿勢是不準(zhǔn)確的第二假設(shè),在所述末端執(zhí)行器處于所述對應(yīng)接近位置的情況下,所述物體標(biāo)識符保持未被覆蓋的位置;以及
選擇所述接近位置,其中所述接近位置是具有所述暴露的標(biāo)識符組和所述替換標(biāo)識符組二者中的未被覆蓋的物體標(biāo)識符的所述可用接近位置。
6.如權(quán)利要求5所述的方法,其還包括:
識別對應(yīng)于所述物體掃描儀的掃描區(qū)域;
計(jì)算有關(guān)在所述掃描區(qū)域中或穿過所述掃描區(qū)域的所述目標(biāo)物體的一組候選姿勢,其中每一個候選姿勢將所述目標(biāo)物體的多個表面呈現(xiàn)給所述物體掃描儀;
將所述暴露的標(biāo)識符組和所述替換標(biāo)識符組映射到所述候選姿勢中的每一個;
將有關(guān)每一個候選姿勢的所述暴露的標(biāo)識符組和所述替換標(biāo)識符組與所述掃描區(qū)域進(jìn)行比較;
將掃描姿勢識別為將所述暴露的標(biāo)識符組和所述替換標(biāo)識符組中的所述物體標(biāo)識符呈現(xiàn)到所述掃描區(qū)域的候選姿勢;并且
其中得到所述運(yùn)動計(jì)劃包括:
得到確立在所述掃描區(qū)域中或穿過所述掃描區(qū)域的所述掃描姿勢的所述運(yùn)動計(jì)劃。
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