[發明專利]通訊波特率校正方法、裝置、電子設備及存儲介質有效
| 申請號: | 202010828194.X | 申請日: | 2020-08-17 |
| 公開(公告)號: | CN112202528B | 公開(公告)日: | 2021-06-29 |
| 發明(設計)人: | 胡伯良;安曉江;蔣紅宇 | 申請(專利權)人: | 北京海泰方圓科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H04L1/00 | 分類號: | H04L1/00;H04L1/18 |
| 代理公司: | 北京潤澤恒知識產權代理有限公司 11319 | 代理人: | 莎日娜 |
| 地址: | 100094 北京市海淀區東北旺西路*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 通訊 波特率 校正 方法 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
本發明提供了一種通訊波特率校正方法、裝置、電子設備及存儲介質。所述方法,包括:根據嵌入式產品內部RC振蕩器的標稱頻率,以及嵌入式產品與校正設備約定的初始波特率,獲取第一參數,嵌入式產品通過串口與校正設備通訊;校正設備根據初始波特率,向嵌入式產品重復發送預設數據;嵌入式產品根據第一時鐘數,采集串口的數據,第一時鐘數根據第一參數以及波特率補償因子確定得到;根據采集得到的數據的錯誤信息,調整波特率補償因子,并獲取嵌入式產品最終的目標波特率補償因子,以在后續通訊過程中,嵌入式產品根據第二時鐘數采集串口的數據,第二時鐘數根據目標波特率補償因子和第一參數確定得到。從而取得了提高串口通訊穩定性的有益效果。
技術領域
本發明涉及計算機技術領域,尤其涉及一種通訊波特率校正方法、裝置、電子設備及存儲介質。
背景技術
在嵌入式系統中,一般由外接晶振(晶體振蕩器)提供高精度的時鐘,對此時鐘進行適當的分頻后作為串口通訊的基準時鐘。為了降低產品的成本,在某些嵌入式系統中,不采用外部晶振,而是使用MCU(Microcontroller Unit,微控制單元)內部的RC振蕩器作為系統的時鐘,RC振蕩器經過適當的分頻后作為串口通訊的基準時鐘。
但RC振蕩器的精度一般較低,當串口通訊的波特率較高時,通訊容易出錯,甚至無法通訊,從而影響串口通訊的可靠性和穩定性。
發明內容
本發明實施例提供一種通訊波特率校正方法、裝置、電子設備及存儲介質,以解決現有的采用RC振蕩器的情況下,當串口通訊的波特率較高時,通訊容易出錯,甚至無法通訊,從而影響串口通訊的可靠性和穩定性的問題。
為了解決上述技術問題,本發明是這樣實現的:
第一方面,本發明實施例提供了一種通訊波特率校正方法,包括:
根據嵌入式產品內部RC振蕩器的標稱頻率,以及所述嵌入式產品與校正設備約定的初始波特率,獲取第一參數,所述第一參數為傳輸1比特所對應的時鐘數,所述嵌入式產品通過串口與所述校正設備通訊;
所述校正設備根據所述初始波特率,向所述嵌入式產品重復發送預設數據;
所述嵌入式產品根據第一時鐘數,采集所述串口的數據,所述第一時鐘數根據所述第一參數以及波特率補償因子確定得到,所述波特率補償因子的初始值為預設數值;
根據采集得到的數據的錯誤信息,調整所述波特率補償因子,并獲取所述嵌入式產品最終的目標波特率補償因子,以在后續通訊過程中,所述嵌入式產品根據第二時鐘數采集串口的數據;所述錯誤信息包括所述數據是否出錯,以及具體的錯誤類型,所述第二時鐘數根據所述目標波特率補償因子和所述第一參數確定得到。
可選地,所述串口的串口通訊參數依次包括起始位、數據位、校驗位和停止位,且所述數據位中最后一位的值與所述校驗位的值相同,所述錯誤類型包括校驗位錯、停止位錯中的至少一種。
可選地,所述根據采集得到的數據的錯誤信息,調整所述波特率補償因子,并獲取所述嵌入式產品最終的目標波特率補償因子的步驟,包括:
根據所述數據的錯誤信息,調整所述波特率補償因子,并獲取所述嵌入式產品的第一波特率補償因子和第二波特率補償因子;
根據所述第一波特率補償因子和所述第二波特率補償因子,獲取所述目標波特率補償因子;
所述第一波特率補償因子為所述錯誤信息由未出錯到出現校驗位錯的過程中,首次出現校驗位錯時的波特率補償因子,或者是所述錯誤信息由出現校驗位錯到未出錯的過程中,錯誤信息為未出錯之前的最近一次出現校驗位錯時的波特率補償因子;所述第二波特率補償因子為所述錯誤信息由未出錯到出現停止位錯的過程中,首次出現停止位錯時的波特率補償因子,或者是所述錯誤信息由出現停止位錯到未出錯的過程中,錯誤信息為未出錯之前的最近一次出現停止位錯時的波特率補償因子。
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