[發明專利]通訊波特率校正方法、裝置、電子設備及存儲介質有效
| 申請號: | 202010828194.X | 申請日: | 2020-08-17 |
| 公開(公告)號: | CN112202528B | 公開(公告)日: | 2021-06-29 |
| 發明(設計)人: | 胡伯良;安曉江;蔣紅宇 | 申請(專利權)人: | 北京海泰方圓科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H04L1/00 | 分類號: | H04L1/00;H04L1/18 |
| 代理公司: | 北京潤澤恒知識產權代理有限公司 11319 | 代理人: | 莎日娜 |
| 地址: | 100094 北京市海淀區東北旺西路*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 通訊 波特率 校正 方法 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種通訊波特率校正方法,其特征在于,包括:
根據嵌入式產品內部RC振蕩器的標稱頻率,以及所述嵌入式產品與校正設備約定的初始波特率,獲取第一參數,所述第一參數為傳輸1比特所對應的時鐘數,所述嵌入式產品通過串口與所述校正設備通訊;
所述校正設備根據所述初始波特率,向所述嵌入式產品重復發送預設數據;
所述嵌入式產品根據第一時鐘數,采集所述串口的數據,所述第一時鐘數根據所述第一參數以及波特率補償因子確定得到,所述波特率補償因子的初始值為預設數值;
根據采集得到的數據的錯誤信息,調整所述波特率補償因子,并獲取所述嵌入式產品最終的目標波特率補償因子,以在后續通訊過程中,所述嵌入式產品根據第二時鐘數采集串口的數據;所述錯誤信息包括所述數據是否出錯,以及具體的錯誤類型,所述第二時鐘數根據所述目標波特率補償因子和所述第一參數確定得到;
其中,所述第一參數通過下式計算得到:
n=fosc/baudrate,
其中,fosc表示所述標稱頻率,baudrate表示所述初始波特率,n表示所述第一參數。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述串口的串口通訊參數依次包括起始位、數據位、校驗位和停止位,且所述數據位中最后一位的值與所述校驗位的值相同,所述錯誤類型包括校驗位錯、停止位錯中的至少一種。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述根據采集得到的數據的錯誤信息,調整所述波特率補償因子,并獲取所述嵌入式產品最終的目標波特率補償因子的步驟,包括:
根據所述數據的錯誤信息,調整所述波特率補償因子,并獲取所述嵌入式產品的第一波特率補償因子和第二波特率補償因子;
根據所述第一波特率補償因子和所述第二波特率補償因子,獲取所述目標波特率補償因子;
所述第一波特率補償因子為所述錯誤信息由未出錯到出現校驗位錯的過程中,首次出現校驗位錯時的波特率補償因子,或者是所述錯誤信息由出現校驗位錯到未出錯的過程中,錯誤信息為未出錯之前的最近一次出現校驗位錯時的波特率補償因子;所述第二波特率補償因子為所述錯誤信息由未出錯到出現停止位錯的過程中,首次出現停止位錯時的波特率補償因子,或者是所述錯誤信息由出現停止位錯到未出錯的過程中,錯誤信息為未出錯之前的最近一次出現停止位錯時的波特率補償因子。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述根據所述數據的錯誤信息,調整所述波特率補償因子,并獲取所述嵌入式產品的第一波特率補償因子和第二波特率補償因子的步驟,包括:
S1,若所述數據出現校驗位錯,調低所述波特率補償因子,直至所述數據未出錯,執行S3;
S2,若所述數據出現停止位錯,調高所述波特率補償因子,直至所述數據未出錯,執行S3;
S3,若所述數據未出現任何錯誤,分別通過調高所述波特率補償因子,獲取所述第一波特率補償因子,通過調低所述波特率補償因子,獲取所述第二波特率補償因子;
其中,所述波特率補償因子每次的調整幅度為所述第一參數的預設比例。
5.根據權利要求2-4中任一項所述的方法,其特征在于,所述停止位為1,所述校驗位為0,在所述校驗位為偶校驗位的情況下,所述預設數據為00;在所述校驗位為奇校驗位的情況下,所述預設數據為10。
6.根據權利要求1-4中任一項所述的方法,其特征在于,在所述根據采集得到的數據的錯誤信息,調整所述波特率補償因子,并獲取所述嵌入式產品最終的目標波特率補償因子的步驟之后,還包括:
所述嵌入式產品基于所述第二時鐘數,通過所述串口發送預設字符至所述校正設備;
所述校正設備收到所述預設字符,結束針對所述嵌入式產品的波特率校正流程。
7.根據權利要求1-4中任一項所述的方法,其特征在于,所述目標波特率補償因子記錄于所述嵌入式產品的閃存中。
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