[發明專利]一種改善低亮度Mura的方法和裝置

有效

• 申請號: 202010825243.4
• 申請日: 2020-08-18
• 公開（公告）號: CN111899690B
• 公開（公告）日: 2021-10-15
• 發明（設計）人: 張嬌;吳樟福;秦良
• 申請（專利權）人: 昇顯微電子（蘇州）有限公司
• 主分類號: G09G3/3225
• 分類號: G09G3/3225
• 代理公司: 蘇州久元知識產權代理事務所(普通合伙) 32446
• 代理人: 袁欣琪

本發明公開了一種改善低亮度Mura的方法和裝置，包括事先采集好全分辨率的灰度與亮度的映射表LUT1以及降分辨率的亮度與灰度的映射表LUT2，平均亮度計算單元，輸出灰度計算單元以及輸出單元，并公開了一種改善低亮度Mura的方法，在保持整體亮度不變的前提下，采用降分辨率進行處理，使用較高亮度而低分辨率的像素替代原來低亮度而高分辨率的像素，達到改善Mura的效果。

技術領域

本發明涉及圖像處理領域，特別是一種改善低亮度Mura的方法和裝置。

背景技術

在AMOLED(Active Matrix Organic Light Emitting Diode)面板制造過程中，由于晶化工藝局限性，在大面積玻璃基板上制作的LTPS TFT時，不同位置的TFT通常在閾值電壓、遷移率等電學參數上具有非均勻性，這種非均勻性會轉化為亮度差異，稱為Mura現象。為了改善顯示效果，需要采取補償方式，有內部補償和外部補償兩種方式。內部補償是指利用TFT構建的子電路在像素內部進行補償的方法，補償范圍有限。外部補償是一種通過外部驅動電路或者設備感知像素的電學或光學特性，然后對其進行補償的方法。外部補償根據數據抽取方式可以分為光學抽取式和電學抽取式。其中光學抽取的方式有結構簡單，方法靈活的特點。

目前，常用的Demura技術就是光學抽取方式的外部補償方法。Demura的一般步驟有：(1)點亮面板，顯示數個灰階畫面；(2)使用CCD照相機拍攝上述畫面，獲取Mura的亮度信息；(3)根據亮度信息分析pixel顏色分布特征，并根據相關算法識別出Mura；(4)根據Mura數據及相應的Demura補償算法產生Demura數據；(5)將Demura數據燒錄到Flash ROM中，重新拍攝補償后的畫面，確認Mura已消除。其中Demura拍攝的灰階畫面一般為中亮度和高亮度(eg.32,64,…,224)，對于低亮度(eg.2,4,6)則沒有進行拍攝，Demura算法利用拍攝的數據進行補償計算，而一般使用中亮度的補償值進行擬合獲得低亮度的補償值。

現有技術可以有效改善面板在中亮度和高亮度顯示時的亮度差異，但在低亮度時(比如0～10灰階)Mura現象依然明顯。而隨著灰階的逐漸增加，亮度會逐漸增加，同時Mura現象會逐漸減弱，而在中亮度時(比如32灰階)Mura現象很弱，甚至不易察覺。上述缺點主要的原因是低亮度Mura同中高亮度相比變化大以及無法精確的獲取低亮度的拍攝數據，而現有技術是直接使用中亮度的補償值進行擬合來獲取低亮度的補償值。

發明內容

本發明的目的在于克服現有技術的缺點，提供一種通過降低分辨率來改善低亮度Mura的方法，首先在保持整個面板亮度不變的情況下，用較高亮度且低分辨率排布的像素來替代較低亮度且高分辨率排布的像素，實現有效減弱低亮度時面板的Mura現象。本發明要解決的技術問題是AMOLED(Active Matrix Organic Light Emitting Diode)面板在經過Demura處理后在低亮度顯示時依然存在mura的現象。

本發明的目的通過以下技術方案來實現：一種通過降低分辨率來改善低亮度Mura的方法包括以下步驟：

S1、亮度采集；

S2、平均亮度計算；

S3、輸出灰度計算；

S4、降分辨率輸出。

進一步地，所述步驟S1包括：

S11、在全分辨率下，獲取第一映射表LUT1：低亮度時輸入灰度與輸出亮度的映射表LUT1:[Lv₁,Lv₂,...,Lv_n]＝[f_full(Gray₁),f_full(Gray₂),...,f_full(Gray_n)]，