[發明專利]一種改善低亮度Mura的方法和裝置

有效

• 申請號: 202010825243.4
• 申請日: 2020-08-18
• 公開（公告）號: CN111899690B
• 公開（公告）日: 2021-10-15
• 發明（設計）人: 張嬌;吳樟福;秦良
• 申請（專利權）人: 昇顯微電子（蘇州）有限公司
• 主分類號: G09G3/3225
• 分類號: G09G3/3225
• 代理公司: 蘇州久元知識產權代理事務所(普通合伙) 32446
• 代理人: 袁欣琪

1.一種改善低亮度Mura的方法，其特征在于：它包括以下步驟：

步驟S1、亮度采集；

步驟S2、平均亮度計算；

步驟S3、輸出灰度計算；

步驟S4、降分辨率輸出；

所述步驟S1包括：

步驟S11、在全分辨率下，獲取第一映射表LUT1：低亮度時輸入灰度與輸出亮度的映射表，其中表示選擇的灰度綁點值，表示灰度綁點值所對應的亮度值，任意低亮度的輸入灰階都可以通過LUT1查表內插計算得到對應的亮度值；

步驟S12、在降分辨率下，獲取第二映射表LUT2：中低亮度時輸出亮度與輸入灰度的映射表，

其中是輸出的亮度值，表示亮度值所對應的灰度值，任意中低亮度時的亮度都可以通過LUT2查表內插計算得到對應的灰度值；

所述步驟S2包括：

步驟S21、設定m行n列的檢測模塊，構成m×n的檢測模塊，m和n分別為大于等于1的自然數且m和n不同時等于1，分別對輸入圖片R/G/B三個通道進行處理，每次取m行數據進行處理，而模塊內每行需要包含n個R/G/B數據；

所述對輸入圖片R/G/B三個通道進行處理，是指對通道內的子像素分別進行處理：

處理R通道數據時，檢測模塊中含有m×n個R子像素；處理G通道數據時，檢測模塊中含有m×n個G子像素；處理B通道數據時，檢測模塊中含有m×n個B子像素，所述R子像素、G子像素和B子像素用子像素T_m×n表示，m和n分別為大于等于1的自然數，并且m和n不同時等于1；

所述步驟S21還包括：

若檢測模塊內R/G/B的m×n個子像素，即R子像素、G子像素和B子像素都屬于低亮度，則進行后面的處理步驟，否則不進行處理，將輸入子像素直接輸出；

所述步驟S2還包括：

步驟S22、根據亮度相加定律，利用第一映射表LUT1來計算檢測模塊內的亮度均值：

所述步驟S3包括：

利用第二映射表LUT2來計算檢測模塊內的灰度值：；

所述步驟S4包括：對所述檢測模塊中子像素T_m×n進行輸出：模塊內任一一個位置輸出，其他的位置輸出0，設置為0，表示熄滅掉該像素；

改善低亮度Mura的裝置，包括事先采集好的第一映射表LUT1、第二映射表LUT2；

平均亮度計算單元，用于首先判斷檢測模塊內的輸入值是否符合全部屬于低亮度的要求，若不符合要求則將輸入直接輸出，若符合要求則根據LUT1來計算檢測模塊內的亮度均值；

輸出灰度計算單元，根據亮度均值和LUT2來計算檢測模塊內在進行降分辨率處理后需要輸出的灰度值；

輸出單元，對檢測模塊內需要輸出的灰度值進行排布輸出，實現降分辨率的目的。