[發明專利]產品殘留類缺陷的短路檢測方法及系統及缺陷分類系統有效
| 申請號： | 202010796484.0 | 申請日： | 2020-08-10 |
| 公開（公告）號： | CN111932515B | 公開（公告）日： | 2022-04-29 |
| 發明（設計）人： | 不公告發明人 | 申請（專利權）人： | 成都數之聯科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G06T7/00 | 分類號： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/62;G06T7/136;G06V10/764;G06K9/62 |
| 代理公司： | 成都云縱知識產權代理事務所(普通合伙) 51316 | 代理人： | 熊曦;陳婉鵑 |
| 地址： | 610042 四川省*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 產品 殘留 缺陷 短路 檢測 方法 系統 分類 | ||
1.一種產品殘留類缺陷的短路檢測方法，其特征在于，所述方法包括：
采集具有缺陷區域的產品檢測輸出圖，預處理缺陷區域；
二值化預處理后的缺陷區域，提取二值化后的缺陷區域內特征的等級輪廓關系；
利用缺陷區域內特征的等級輪廓關系，判斷缺陷區域內是否存在像素區域內的短路現象，若存在像素區域內的短路現象，則返回短路結果并結束檢測；
若缺陷區域內不存在像素區域內的短路現象，則放大缺陷區域得到標準區域，預處理標準區域，二值化預處理后的標準區域，提取二值化后的標準區域內特征的等級輪廓關系；利用標準區域內特征的等級輪廓關系，判斷標準區域內是否存在像素區域內的短路現象，若存在像素區域內的短路現象，則返回短路結果并結束檢測；
若標準區域內不存在像素區域內的短路現象，則比較產品檢測輸出圖中標準區域橫軸方向左右兩側區域的面積，選取面積較大的區域作為對照區域；
預處理標準區域和對照區域，二值化預處理后的標準區域和對照區域，提取二值化后的標準區域和對照區域的輪廓信息；
利用標準區域和對照區域的輪廓信息分別計算標準區域和對照區域的最大輪廓面積；判斷標準區域的最大輪廓面積與對照區域的最大輪廓面積比值是否大于或等于閾值，若大于或等于閾值則判斷為發生跨像素區域短路，若小于閾值則判斷未短路并結束檢測；其中，本方法中采用的二值化方式為OTSU二值化。
2.根據權利要求1所述的產品殘留類缺陷的短路檢測方法，其特征在于，預處理缺陷區域包括但不限于：缺陷區域灰度化、缺陷區域降噪、缺陷區域歸一化和缺陷區域對比度增強中的一種或幾種。
3.根據權利要求1所述的產品殘留類缺陷的短路檢測方法，其特征在于，若缺陷區域內的輪廓存在閉環，則判斷存在像素區域內的短路現象，否則判斷不存在像素區域內的短路現象。
4.根據權利要求1所述的產品殘留類缺陷的短路檢測方法，其特征在于，產品檢測輸出圖由若干個像素區域組成，像素區域為產品檢測輸出圖中的最小組成單元。
5.根據權利要求1所述的產品殘留類缺陷的短路檢測方法，其特征在于，放大缺陷區域為將缺席區域擴充為橫向或縱向至少包含2個像素區域，得到標準區域。
6.根據權利要求1所述的產品殘留類缺陷的短路檢測方法，其特征在于，判斷標準區域的最大輪廓面積與對照區域的最大輪廓面積比值是否大于或等于設定閾值。
7.根據權利要求1所述的產品殘留類缺陷的短路檢測方法，其特征在于，本方法利用openCV或matlab輸出圖像輪廓并生成等級輪廓關系。
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