[發(fā)明專利]基于VI曲線故障現(xiàn)象矩陣對(duì)比快速隱患檢測(cè)與診斷方法

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010785036.0
• 申請(qǐng)日: 2020-08-06
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112067971A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-12-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 孟雙德;王可君
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京唯實(shí)興邦科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G01R31/52
• 代理公司: 北京盛凡智榮知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11616
• 代理人: 鄧凌云

本發(fā)明公開(kāi)基于VI曲線故障現(xiàn)象矩陣對(duì)比快速隱患檢測(cè)與診斷方法，該方法中將信號(hào)發(fā)生器與限流電阻、測(cè)試對(duì)象、采樣電阻串聯(lián)連接；測(cè)試對(duì)象正極、負(fù)極上分別連接有示波器的CH1端、CH2端；示波器的COM端連接到信號(hào)發(fā)生器負(fù)極上；所述信號(hào)發(fā)生器的正極、負(fù)極分別與限流電阻、采樣電阻連接；所述限流電阻保護(hù)信號(hào)發(fā)生器和被測(cè)試對(duì)象；該方法包括VI矩陣檢測(cè)、自適應(yīng)VI曲線測(cè)試、短路測(cè)試；所述VI矩陣檢測(cè)為將電路板劃分成若干單元，不同單元之間設(shè)置為測(cè)試節(jié)點(diǎn)；隨后通過(guò)單元輸出和測(cè)試節(jié)點(diǎn)的關(guān)系，檢測(cè)單元輸出和測(cè)試節(jié)點(diǎn)之間的電路狀態(tài)，列成單元輸出測(cè)試節(jié)點(diǎn)VI曲線故障現(xiàn)象矩陣列表。本發(fā)明具有測(cè)試速度快，避免對(duì)電路或元件造成破壞的特點(diǎn)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及基于VI曲線故障現(xiàn)象矩陣對(duì)比快速隱患檢測(cè)與診斷方法，尤其是具有測(cè)試速度快，避免對(duì)電路或元件造成破壞的基于VI曲線故障現(xiàn)象矩陣對(duì)比快速隱患檢測(cè)與診斷方法。

背景技術(shù)

隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展和廣泛應(yīng)用，電路測(cè)試技術(shù)的重要性越來(lái)越明顯。但目前電子系統(tǒng)和設(shè)備，向尺寸小型化和規(guī)模大型化方向發(fā)展；內(nèi)部電路具有高集成度、功能模塊化、結(jié)構(gòu)一體化等特點(diǎn)，給設(shè)備電路測(cè)試及診斷，尤其是無(wú)圖紙地診斷帶來(lái)了很大困難。

依靠傳統(tǒng)的儀器設(shè)備和手段無(wú)法快速、有效地完成故障的診斷及定位。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供具有測(cè)試速度快，避免對(duì)電路或元件造成破壞的基于VI曲線故障現(xiàn)象矩陣對(duì)比快速隱患檢測(cè)與診斷方法。

本發(fā)明的目的可以通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)：

基于VI曲線故障現(xiàn)象矩陣對(duì)比快速隱患檢測(cè)與診斷方法，該方法中將信號(hào)發(fā)生器與限流電阻、測(cè)試對(duì)象、采樣電阻串聯(lián)連接；測(cè)試對(duì)象正極、負(fù)極上分別連接有示波器的CH1端、CH2端；示波器的COM端連接到信號(hào)發(fā)生器負(fù)極上；

所述信號(hào)發(fā)生器的正極、負(fù)極分別與限流電阻、采樣電阻連接；

所述限流電阻保護(hù)信號(hào)發(fā)生器和被測(cè)試對(duì)象；

所述VI矩陣檢測(cè)包括以下兩種工作方式：

方式一、在已知待測(cè)電路板的網(wǎng)表或原理圖情況下，確定或選取待測(cè)電路板故障區(qū)域分割的測(cè)試節(jié)點(diǎn)，檢測(cè)正確率高；輸入待測(cè)電路板的網(wǎng)表或原理圖，通過(guò)人工標(biāo)定或軟件分析網(wǎng)表確定測(cè)試節(jié)點(diǎn)，進(jìn)行VI矩陣檢測(cè)；再通過(guò)粗分割節(jié)點(diǎn)檢測(cè)結(jié)果逐步細(xì)分檢測(cè)區(qū)域，最終確定故障節(jié)點(diǎn)或故障區(qū)域；

方式二、在未知待測(cè)電路板原理圖的情況下，則通過(guò)選取足夠多的待測(cè)節(jié)點(diǎn)，檢測(cè)待測(cè)點(diǎn)狀態(tài)，通過(guò)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法的學(xué)習(xí)功能，不斷對(duì)好電路板或存在各類故障的電路板進(jìn)行學(xué)習(xí)驗(yàn)證，建立學(xué)習(xí)庫(kù)；再通過(guò)大量學(xué)習(xí)對(duì)測(cè)試節(jié)點(diǎn)分類，剔除冗余測(cè)試節(jié)點(diǎn)，篩選出分割節(jié)點(diǎn)，同時(shí)對(duì)分割節(jié)點(diǎn)進(jìn)行位置標(biāo)定，找到能準(zhǔn)確分割電路板故障或電路的節(jié)點(diǎn)集后，便可對(duì)待測(cè)電路板進(jìn)行批量操作，通過(guò)方式一的VI矩陣檢測(cè)、粗分割節(jié)點(diǎn)、細(xì)分割節(jié)點(diǎn)檢測(cè)區(qū)域?qū)﹄娐钒暹M(jìn)行故障精準(zhǔn)定位；

該方法包括VI矩陣檢測(cè)、自適應(yīng)VI曲線測(cè)試、短路測(cè)試；

所述VI矩陣檢測(cè)為將電路板劃分成若干單元，不同單元之間設(shè)置為測(cè)試節(jié)點(diǎn)；隨后通過(guò)單元輸出和測(cè)試節(jié)點(diǎn)的關(guān)系，檢測(cè)單元輸出和測(cè)試節(jié)點(diǎn)之間的電路狀態(tài)，列成單元輸出測(cè)試節(jié)點(diǎn)VI曲線故障現(xiàn)象矩陣列表；

所述VI矩陣檢測(cè)采用動(dòng)態(tài)實(shí)時(shí)專家系統(tǒng)，推理引擎配置在系統(tǒng)中，以持續(xù)的監(jiān)控?cái)?shù)據(jù)，確定系統(tǒng)狀態(tài)，并定位故障；動(dòng)態(tài)實(shí)時(shí)專家系統(tǒng)取測(cè)試或性能監(jiān)控?cái)?shù)據(jù)，與電路板的診斷知識(shí)庫(kù)進(jìn)行比較，提供實(shí)時(shí)診斷；動(dòng)態(tài)實(shí)時(shí)專家系統(tǒng)支持C語(yǔ)言的功能庫(kù)的方式，提供與電路板的測(cè)點(diǎn)或處理器系統(tǒng)進(jìn)行無(wú)縫掛接；動(dòng)態(tài)實(shí)時(shí)專家系統(tǒng)的實(shí)際診斷結(jié)果以圖形或文字的形式輸出，并以聲音或其他的方式進(jìn)行告警，顯示故障或非預(yù)期功能信息；告警的方式以實(shí)際發(fā)生故障或非預(yù)期功能性后果進(jìn)行分類；