[發明專利]基于VI曲線故障現象矩陣對比快速隱患檢測與診斷方法

在審

• 申請號: 202010785036.0
• 申請日: 2020-08-06
• 公開（公告）號: CN112067971A
• 公開（公告）日: 2020-12-11
• 發明（設計）人: 孟雙德;王可君
• 申請（專利權）人: 北京唯實興邦科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/52
• 代理公司: 北京盛凡智榮知識產權代理有限公司 11616
• 代理人: 鄧凌云

1.基于VI曲線故障現象矩陣對比快速隱患檢測與診斷方法，其特征在于，該方法中將信號發生器與限流電阻、測試對象、采樣電阻串聯連接；測試對象正極、負極上分別連接有示波器的CH1端、CH2端；示波器的COM端連接到信號發生器負極上；

所述信號發生器的正極、負極分別與限流電阻、采樣電阻連接；

所述限流電阻保護信號發生器和被測試對象；

該方法包括VI矩陣檢測、自適應VI曲線測試、短路測試；

所述VI矩陣檢測包括以下兩種工作方式：

方式一、在已知待測電路板的網表或原理圖情況下，確定或選取待測電路板故障區域分割的測試節點，檢測正確率高；輸入待測電路板的網表或原理圖，通過人工標定或軟件分析網表確定測試節點，進行VI矩陣檢測；再通過粗分割節點檢測結果逐步細分檢測區域，最終確定故障節點或故障區域；

方式二、在未知待測電路板原理圖的情況下，則通過選取足夠多的待測節點，檢測待測點狀態，通過神經網絡算法的學習功能，不斷對好電路板或存在各類故障的電路板進行學習驗證，建立學習庫；再通過大量學習對測試節點分類，剔除冗余測試節點，篩選出分割節點，同時對分割節點進行位置標定，找到能準確分割電路板故障或電路的節點集后，便可對待測電路板進行批量操作，通過方式一的VI矩陣檢測、粗分割節點、細分割節點檢測區域對電路板進行故障精準定位；

所述VI矩陣檢測為將電路板劃分成若干單元，不同單元之間設置為測試節點；隨后通過單元輸出和測試節點的關系，檢測單元輸出和測試節點之間的電路狀態，列成單元輸出測試節點VI曲線故障現象矩陣列表。

2.根據權利要求1所述的基于VI曲線故障現象矩陣對比快速隱患檢測與診斷方法，其特征在于，

所述VI矩陣檢測采用動態實時專家系統，推理引擎配置在系統中，以持續的監控數據，確定系統狀態，并定位故障；動態實時專家系統取測試或性能監控數據，與電路板的診斷知識庫進行比較，提供實時診斷；動態實時專家系統支持C語言的功能庫的方式，提供與電路板的測點或處理器系統進行無縫掛接；動態實時專家系統的實際診斷結果以圖形或文字的形式輸出，并以聲音或其他的方式進行告警，顯示故障或非預期功能信息；告警的方式以實際發生故障或非預期功能性后果進行分類。

3.根據權利要求1所述的基于VI曲線故障現象矩陣對比快速隱患檢測與診斷方法，其特征在于，該方法使用的硬件包括，PC機、接口電路、微控制器、AD模擬/數字轉換器、信號發生器、采樣電阻、限流電阻、測試對象；所述PC機通過接口電路與微控制器連接，微控制器通過AD模擬/數字轉換器連接到測試對象兩端；信號發生器與限流電阻、測試對象、采樣電阻依次串聯連接；信號發生器的正極、負極分別與限流電阻、采樣電阻連接；

所述采樣電阻將通過待測對象的電流量轉換為電壓量；

所述AD模擬/數字轉換器將采集的電壓量轉換為數字量；

所述微控制器控制整個硬件電路工作；

所述PC機負責計算分析、處理、存儲、顯示數據。

4.根據權利要求1所述的基于VI曲線故障現象矩陣對比快速隱患檢測與診斷方法，其特征在于，該方法的控制關系包括儀器驅動模塊、系統控制模塊、數據庫模塊、顯示控制模塊、數據處理模塊；儀器驅動模塊與數據控制模塊連接，系統控制模塊通過數據流和控制流分別與數據庫模塊、數據處理模塊、顯示控制模塊相互連接；

所述儀器驅動模塊驅動測試儀器硬件，并控制硬件電路采集卡的運行；

所述系統控制模塊對總體運行的控制；

所述數據處理模塊對采集卡傳回的VI曲線數據進行分析處理工作；

所述顯示控制模塊顯示元器件的電流特征曲線；

所述數據庫模塊存儲及查詢電流特征曲線等數據；

所述數據流卡傳回的數據流信號；

所述控制流操作人員輸入的控制信息。

5.根據權利要求1所述的基于VI曲線故障現象矩陣對比快速隱患檢測與診斷方法，其特征在于，所述學習庫為二進制文件的形式存儲。