[發(fā)明專利]測試治具

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010783419.4
• 申請日: 2020-08-06
• 公開（公告）號: CN111983263A
• 公開（公告）日: 2020-11-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張才斗;李清;李冬冬
• 申請（專利權(quán)）人: 科大訊飛股份有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/00
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強(qiáng)

本申請?zhí)峁┮环N測試治具。所述測試治具包括承載座、攝像頭及處理器。所述承載座用于承載待測試件。所述攝像頭用于拍攝所述待測試件的圖像，以得到拍攝圖像。所述處理器用于選取所述拍攝圖像中的部分待測試器件作為參考器件，并獲取所述參考器件的測試坐標(biāo)；所述處理器還用于接收所述待測試件的生產(chǎn)坐標(biāo)文件，所述生產(chǎn)坐標(biāo)文件中包括所述待測試件中所有的待測試器件生產(chǎn)時(shí)的生產(chǎn)坐標(biāo)，所述處理器根據(jù)所述參考器件的測試坐標(biāo)與所述參考器件的生產(chǎn)坐標(biāo)得到所述測試坐標(biāo)與所述生產(chǎn)坐標(biāo)之間的位置偏差，并根據(jù)所述位置偏差得到所述待測試件中剩余的待測試器件的測試坐標(biāo)。本申請?zhí)峁┑臏y試治具的測試效率較高。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種測試治具。

背景技術(shù)

目前在對各種電子產(chǎn)品進(jìn)行研發(fā)及生產(chǎn)的時(shí)候，需要對電子產(chǎn)品進(jìn)行硬件測試，以判斷電子產(chǎn)品是否存在問題。由此可見，硬件測試是電子產(chǎn)品的品質(zhì)是否過關(guān)的必要流程。硬件測試項(xiàng)目復(fù)雜，往往需要較多的時(shí)間。比如，相關(guān)技術(shù)中，對電子產(chǎn)品進(jìn)行硬件測試時(shí)，需要按照電子設(shè)備的電路原理圖，人工找到電子產(chǎn)品中的待測試器件(比如，電阻、電容等)的坐標(biāo)，耗時(shí)較長。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決相關(guān)技術(shù)中的確定電子產(chǎn)品中的待測試件的坐標(biāo)耗時(shí)較長的技術(shù)問題，本申請?zhí)峁┝艘环N測試治具，所述測試治具包括：

承載座，所述承載座用于承載待測試件；

攝像頭，所述攝像頭用于拍攝所述待測試件的圖像，以得到拍攝圖像；及

處理器，所述處理器用于選取所述拍攝圖像中的部分待測試器件作為參考器件，并獲取所述參考器件的測試坐標(biāo)；所述處理器還用于接收所述待測試件的生產(chǎn)坐標(biāo)文件，所述生產(chǎn)坐標(biāo)文件中包括所述待測試件中所有的待測試器件生產(chǎn)時(shí)的生產(chǎn)坐標(biāo)，所述處理器根據(jù)所述參考器件的測試坐標(biāo)與所述參考器件的生產(chǎn)坐標(biāo)得到所述測試坐標(biāo)與所述生產(chǎn)坐標(biāo)之間的位置偏差，并根據(jù)所述位置偏差得到所述待測試件中剩余的待測試器件的測試坐標(biāo)。

其中，所述測試治具還包括：

機(jī)械臂，所述機(jī)械臂活動連接于所述承載座，所述機(jī)械臂具有探頭孔，所述探頭孔用于供測試探頭通過；及

驅(qū)動件，所述驅(qū)動件用于在所述處理器的控制下驅(qū)動所述機(jī)械臂運(yùn)動，以使所述探頭孔運(yùn)動至當(dāng)前需要測試的待測試器件的位置。

其中，所述處理器控制所述驅(qū)動件驅(qū)動所述機(jī)械臂運(yùn)動時(shí)，根據(jù)實(shí)際位移和期望位移之間的位移偏差對所述驅(qū)動件驅(qū)動所述機(jī)械臂移動的角位移、角速度、及角加速度進(jìn)行修正，且對所述角位移、角速度、及角加速度的占比進(jìn)行修正。

其中，所述測試治具包括多個(gè)機(jī)械臂，所述處理器還用于接收當(dāng)前需要測試的待測試器件所需要的探頭的數(shù)目，其中，當(dāng)前需要測試的待測試器件所需要的探頭的數(shù)目和對所述待測試器件的測試類型相關(guān)；且所述處理器還根據(jù)所需要的探頭的數(shù)目及當(dāng)前需要測試的待測試器件的位置控制所述驅(qū)動件驅(qū)動所述多個(gè)機(jī)械臂中對應(yīng)數(shù)量的機(jī)械臂運(yùn)動至當(dāng)前需要測試的待測試器件的位置。

其中，所述測試治具還包括輸入裝置，所述輸入裝置與所述處理器電連接，用于輸入所述待測試器件所需要的探頭的數(shù)目以及對所述待測試器件進(jìn)行測試的測試類型。

其中，所述測試治具還包括：

第一定位件，所述第一定位件活動連接于所述承載座，且相較于所述承載座在第一方向上可往復(fù)移動；

第二定位件，所述第二定位件活動連接于所述承載座，且相較于所述承載座在第一方向上可往復(fù)移動；

第三定位件，所述第三定位件活動連接于所述承載座，且相較于所述承載座在第二方向上可往復(fù)移動；及