[發明專利]測試治具

在審

• 申請號: 202010783419.4
• 申請日: 2020-08-06
• 公開（公告）號: CN111983263A
• 公開（公告）日: 2020-11-24
• 發明（設計）人: 張才斗;李清;李冬冬
• 申請（專利權）人: 科大訊飛股份有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/00
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強

1.一種測試治具，其特征在于，所述測試治具包括：

承載座，所述承載座用于承載待測試件；

攝像頭，所述攝像頭用于拍攝所述待測試件的圖像，以得到拍攝圖像；及

處理器，所述處理器用于選取所述拍攝圖像中的部分待測試器件作為參考器件，并獲取所述參考器件的測試坐標；所述處理器還用于接收所述待測試件的生產坐標文件，所述生產坐標文件中包括所述待測試件中所有的待測試器件生產時的生產坐標，所述處理器根據所述參考器件的測試坐標與所述參考器件的生產坐標得到所述測試坐標與所述生產坐標之間的位置偏差，并根據所述位置偏差得到所述待測試件中剩余的待測試器件的測試坐標。

2.如權利要求1所述的測試治具，其特征在于，所述測試治具還包括：

機械臂，所述機械臂活動連接于所述承載座，所述機械臂具有探頭孔，所述探頭孔用于供測試探頭通過；及

驅動件，所述驅動件用于在所述處理器的控制下驅動所述機械臂運動，以使所述探頭孔運動至當前需要測試的待測試器件的位置。

3.如權利要求2所述的測試治具，其特征在于，所述處理器控制所述驅動件驅動所述機械臂運動時，根據實際位移和期望位移之間的位移偏差對所述驅動件驅動所述機械臂移動的角位移、角速度、及角加速度進行修正，且對所述角位移、角速度、及角加速度的占比進行修正。

4.如權利要求2所述的測試治具，其特征在于，所述測試治具包括多個機械臂，所述處理器還用于接收當前需要測試的待測試器件所需要的探頭的數目，其中，當前需要測試的待測試器件所需要的探頭的數目和對所述待測試器件的測試類型相關；且所述處理器還根據所需要的探頭的數目及當前需要測試的待測試器件的位置控制所述驅動件驅動所述多個機械臂中對應數量的機械臂運動至當前需要測試的待測試器件的位置。

5.如權利要求4所述的測試治具，其特征在于，所述測試治具還包括輸入裝置，所述輸入裝置與所述處理器電連接，用于輸入所述待測試器件所需要的探頭的數目以及對所述待測試器件進行測試的測試類型。

6.如權利要求1-5任意一項所述的測試治具，其特征在于，所述測試治具還包括：

第一定位件，所述第一定位件活動連接于所述承載座，且相較于所述承載座在第一方向上可往復移動；

第二定位件，所述第二定位件活動連接于所述承載座，且相較于所述承載座在第一方向上可往復移動；

第三定位件，所述第三定位件活動連接于所述承載座，且相較于所述承載座在第二方向上可往復移動；及

第四定位件，所述第四定位件連接于所述承載座，且可限制所述第三定位件在所述第二方向上的位移；其中，所述第一方向和所述第二方向不同，所述第一定位件、所述第二定位件、所述第三定位件及所述第四定位件相互配合以固定所述待測試件。

7.如權利要求6所述的測試治具，其特征在于，所述第一定位件面對所述第二定位件的表面開設有凹槽；所述第二定位件面對所述第一定位件的表面開設有凹槽；且所述第一定位件及所述第二定位件面對所述第三定位件的表面均開設有凹槽；所述第三定位件面對所述第一定位件的表面開設有凹槽。

8.如權利要求6所述的測試治具，其特征在于，所述承載座包括：

承載本體；

第一連接部，所述第一連接件固定于所述承載本體，且所述第一連接部沿所述第二方向設置，所述第一連接部上開設有間隔設置的多個定位孔；所述第三定位件活動連接所述第一連接部；

所述第四定位件包括：

定位本體，所述定位本體套設于第一連接部，且可在所述第一連接部上滑動，所述定位本體開設有通孔；

定位部，所述定位部用于穿過所述通孔及所述定位孔，以將所述第四定位件固定于所述承載座。

9.如權利要求8所述的測試治具，其特征在于，所述測試治具還包括：

彈性件，所述彈性件套設于所述第一連接部，且設置于所述第三定位件及所述第四定位件之間。

10.如權利要求8所述的測試治具，其特征在于，所述承載座還包括：

第二連接部，所述第二連接部固定于所述承載本體，且所述第二連接部沿所述第一方向設置；所述第一定位件及所述第二定位件套設于所述第二連接部且可相較于所述承載部在第一方向上往復移動，且所述第一定位件及所述第二定位件分別設置于所述第一連接部相對的兩側。