[發明專利]噪聲源定位方法及系統

在審

• 申請號: 202010783013.6
• 申請日: 2020-08-06
• 公開（公告）號: CN112097893A
• 公開（公告）日: 2020-12-18
• 發明（設計）人: 解江;張澤;朱軍華;申海東;李勁
• 申請（專利權）人: 中國電子產品可靠性與環境試驗研究所（（工業和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實驗室））
• 主分類號: G01H17/00
• 分類號: G01H17/00
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 張彬彬

本申請提供一種噪聲源定位方法和系統。該噪聲源定位方法用于定位微型裝置中產生異常噪聲的動作部件，包括：獲取所述微型裝置的預設動作部件的運動特征頻率；獲取所述微型裝置有異常噪聲時所述預設動作部件的第一振動譜，以及無異常噪聲時所述預設動作部件的第二振動譜；根據所述第一振動譜和所述第二振動譜確定所述微型裝置的噪聲特征頻率；根據所述預設動作部件的運動特征頻率和所述噪聲特征頻率確定所述微型裝置中產生異常噪聲的動作部件。上述噪聲源定位方法可以更加準確地定位噪聲源，并且提升了定位精度和位置分辨率，可對微型裝置中產生輕量級噪聲的部件進行有效定位。

技術領域

本發明涉及噪聲檢測技術領域，特別是涉及一種噪聲源定位方法及系統。

背景技術

噪聲是機械、機電產品的常見問題。噪聲的產生不但對于人員的舒適度有影響、危害到人的身心健康，同時噪聲與產品的可靠性問題也有較強的相關性。對于產品而言，噪聲問題的出現往往意味著產品在機械結構方面存在可靠性問題，通常是結構設計不良造成的，而結構設計不良情況下長期使用可能引起機械產品出現磨損等失效模式。因此，噪聲源的識別和定位是噪聲控制的關鍵。結構噪聲問題的解決，首先就要準確定位噪聲的來源、分析噪聲產生的機制，進而分析其傳播路徑，之后才能針對噪聲來源、產生機制和傳播路徑采取相應的改進措施。

傳統的噪聲源定位方式主要包括聲壓測試法和聲陣列測試法。然而，這兩種測試方法均對環境要求較高，容易受外界噪聲干擾，且位置分辨率較低，不適用于微型裝置的噪聲源定位。

發明內容

基于此，有必要針對傳統的噪聲定位方式位置分辨率低不適用于微型裝置，且易受外界噪聲干擾、誤差較大的問題，提供一種改進的噪聲源定位方法及系統。

一種噪聲源定位方法，用于定位微型裝置中產生異常噪聲的動作部件，包括：

獲取所述微型裝置的預設動作部件的運動特征頻率；

獲取所述微型裝置有異常噪聲時所述預設動作部件的第一振動譜，以及無異常噪聲時所述預設動作部件的第二振動譜；

根據所述第一振動譜和所述第二振動譜確定所述微型裝置的噪聲特征頻率；

根據所述預設動作部件的運動特征頻率和所述噪聲特征頻率確定所述微型裝置中產生異常噪聲的動作部件。

上述噪聲源定位方法，依據噪聲、振動的同源性以及噪聲與部件運動頻率的相關性，從振動學的角度去定位微型裝置中產生異常噪聲的動作部件，可以避免外界噪聲的干擾，從而有利于對微型裝置中產生輕量級(即低分貝)噪聲的動作部件進行有效定位；除此之外，相比于傳統的聲壓測試法和聲陣列測試法，上述方法的定位精度和位置分辨率也更高。

在其中一個實施例中，所述獲取所述微型裝置有異常噪聲時所述預設動作部件的第一振動譜，包括，在第一工況下驅動所述微型裝置動作；若所述微型裝置有異常噪聲，則獲取所述預設動作部件的第一振動譜；所述獲取所述微型裝置無異常噪聲時所述預設動作部件的第二振動譜，包括，在第二工況下驅動所述微型裝置動作；若所述微型裝置無異常噪聲，則獲取所述預設動作部件的第二振動譜。

在其中一個實施例中，所述獲取所述微型裝置有異常噪聲時所述預設動作部件的第一振動譜，包括，提供在第三工況下驅動時有異常噪聲的第一微型裝置；獲取所述第一微型裝置在所述第三工況下驅動時，其預設動作部件的第一振動譜；所述獲取所述微型裝置無異常噪聲時所述預設動作部件的第二振動譜，包括，提供在第三工況下驅動時無異常噪聲的第二微型裝置；獲取所述第二微型裝置在所述第三工況下驅動時，其預設動作部件的第二振動譜。