[發(fā)明專利]噪聲源定位方法及系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010783013.6 | 申請日: | 2020-08-06 |
| 公開(公告)號: | CN112097893A | 公開(公告)日: | 2020-12-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 解江;張澤;朱軍華;申海東;李勁 | 申請(專利權(quán))人: | 中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所((工業(yè)和信息化部電子第五研究所)(中國賽寶實(shí)驗(yàn)室)) |
| 主分類號: | G01H17/00 | 分類號: | G01H17/00 |
| 代理公司: | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 張彬彬 |
| 地址: | 511300 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 噪聲 定位 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種噪聲源定位方法,用于定位微型裝置中產(chǎn)生異常噪聲的動(dòng)作部件,其特征在于,包括:
獲取所述微型裝置的預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的運(yùn)動(dòng)特征頻率;
獲取所述微型裝置有異常噪聲時(shí)所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的第一振動(dòng)譜,以及無異常噪聲時(shí)所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的第二振動(dòng)譜;
根據(jù)所述第一振動(dòng)譜和所述第二振動(dòng)譜確定所述微型裝置的噪聲特征頻率;
根據(jù)所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的運(yùn)動(dòng)特征頻率和所述噪聲特征頻率確定所述微型裝置中產(chǎn)生異常噪聲的動(dòng)作部件。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的噪聲源定位方法,其特征在于,
所述獲取所述微型裝置有異常噪聲時(shí)所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的第一振動(dòng)譜,包括,
在第一工況下驅(qū)動(dòng)所述微型裝置動(dòng)作;
若所述微型裝置有異常噪聲,則獲取所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的第一振動(dòng)譜;
所述獲取所述微型裝置無異常噪聲時(shí)所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的第二振動(dòng)譜,包括,
在第二工況下驅(qū)動(dòng)所述微型裝置動(dòng)作;
若所述微型裝置無異常噪聲,則獲取所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的第二振動(dòng)譜。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的噪聲源定位方法,其特征在于,
所述獲取所述微型裝置有異常噪聲時(shí)所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的第一振動(dòng)譜,包括,
提供在第三工況下驅(qū)動(dòng)時(shí)有異常噪聲的第一微型裝置;
獲取所述第一微型裝置在所述第三工況下驅(qū)動(dòng)時(shí),其預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的第一振動(dòng)譜;
所述獲取所述微型裝置無異常噪聲時(shí)所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的第二振動(dòng)譜,包括,
提供在第三工況下驅(qū)動(dòng)時(shí)無異常噪聲的第二微型裝置;
獲取所述第二微型裝置在所述第三工況下驅(qū)動(dòng)時(shí),其預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的第二振動(dòng)譜。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的噪聲源定位方法,其特征在于,
所述獲取所述微型裝置有異常噪聲時(shí)所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的第一振動(dòng)譜,包括,
獲取所述微型裝置有異常噪聲時(shí)所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的第一時(shí)域振動(dòng)數(shù)據(jù);
對所述第一時(shí)域振動(dòng)數(shù)據(jù)進(jìn)行傅里葉變換,獲得所述第一振動(dòng)譜;
所述獲取所述微型裝置無異常噪聲時(shí)所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的第二振動(dòng)譜,包括,
獲取所述微型裝置無異常噪聲時(shí)所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的第二時(shí)域振動(dòng)數(shù)據(jù);
對所述第二時(shí)域振動(dòng)數(shù)據(jù)進(jìn)行傅里葉變換,獲得所述第二振動(dòng)譜。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的噪聲源定位方法,其特征在于,所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件具有多個(gè),所述根據(jù)所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的所述運(yùn)動(dòng)特征頻率和所述噪聲特征頻率確定所述微型裝置中產(chǎn)生異常噪聲的動(dòng)作部件,包括:
將所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的運(yùn)動(dòng)特征頻率逐一與所述噪聲特征頻率比對,若一預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的運(yùn)動(dòng)特征頻率的基頻或倍頻與所述噪聲特征頻率匹配,則確定該預(yù)設(shè)動(dòng)作部件為所述微型裝置中產(chǎn)生異常噪聲的動(dòng)作部件。
6.一種噪聲源定位系統(tǒng),通過如權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的噪聲源定位方法定位所述微型裝置中產(chǎn)生異常噪聲的動(dòng)作部件,其特征在于,包括:
驅(qū)動(dòng)裝置,與所述微型裝置連接,用于驅(qū)動(dòng)所述微型裝置動(dòng)作;
測振裝置,設(shè)置在所述微型裝置周圍,用于記錄所述微型裝置的預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的振動(dòng);
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),與所述測振裝置連接,用于采集并存儲(chǔ)所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的時(shí)域振動(dòng)數(shù)據(jù);以及,
處理系統(tǒng),用于接收所述時(shí)域振動(dòng)數(shù)據(jù),并根據(jù)所述時(shí)域振動(dòng)數(shù)據(jù)確定所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的振動(dòng)譜。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的噪聲源定位系統(tǒng),其特征在于,所述測振裝置包括非接觸式測振裝置,所述非接觸式測振裝置用于在每個(gè)所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的表面形成至少一個(gè)測試位點(diǎn),以記錄所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的振動(dòng)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的噪聲源定位系統(tǒng),其特征在于,還包括安裝夾具,所述安裝夾具用于固定所述微型裝置。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的噪聲源定位系統(tǒng),其特征在于,所述時(shí)域振動(dòng)數(shù)據(jù)包括所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的位移數(shù)據(jù)、速度數(shù)據(jù)和加速度數(shù)據(jù)中的至少一種。
10.一種噪聲源定位系統(tǒng),用于定位所述微型裝置中產(chǎn)生異常噪聲的動(dòng)作部件,其特征在于,包括:
安裝夾具,用于固定所述微型裝置;
驅(qū)動(dòng)裝置,與所述微型裝置連接,用于驅(qū)動(dòng)所述微型裝置動(dòng)作;
測振裝置,設(shè)置在所述微型裝置周圍,用于記錄所述微型裝置有異常噪聲時(shí)所述微型裝置的預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的振動(dòng),和無異常噪聲時(shí)所述微型裝置的預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的振動(dòng);
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),與所述測振裝置連接,用于采集并存儲(chǔ)所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的時(shí)域振動(dòng)數(shù)據(jù);以及,
處理系統(tǒng),與所述數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)連接且存儲(chǔ)有所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的運(yùn)動(dòng)特征頻率,所述處理系統(tǒng)用于接收所述時(shí)域振動(dòng)數(shù)據(jù),并根據(jù)所述時(shí)域振動(dòng)數(shù)據(jù)確定所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的振動(dòng)譜,以及根據(jù)所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的振動(dòng)譜確定所述微型裝置的噪聲特征頻率,以及根據(jù)所述預(yù)設(shè)動(dòng)作部件的運(yùn)動(dòng)特征頻率和所述噪聲特征頻率確定所述微型裝置中產(chǎn)生異常噪聲的動(dòng)作部件。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所((工業(yè)和信息化部電子第五研究所)(中國賽寶實(shí)驗(yàn)室)),未經(jīng)中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所((工業(yè)和信息化部電子第五研究所)(中國賽寶實(shí)驗(yàn)室))許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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